Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

Die besten Detektoren für dünne Schichten.

Universelles Gerät für automatisierte Messungen von dünnen und sehr dünnen Schichten < 0,05 μm und für Materialanalyse im ppm-Bereich.

 

Anpassung der Messdistanz durch
patentierte DCM-Methode
Bauartzugelassenes
Vollschutzgerät
Vollständig
automatisierbar

Röntgenfluoreszenzanalyse für höhere Ansprüche.

Dünn, dünner, XDAL®: Dank Mikrofokus-Röhre und verschiedenen Halbleiterdetektoren eignet sich die FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® Serie ideal für Anwendungen im Bereich dünner und sehr dünner Beschichtungen < 0,05 μm sowie für die Materialanalyse im ppm-Bereich. Die Geräteversion mit dem 50 mm² Silizium-Drift-Detektor eignet sich darüber hinaus für RoHS-Messungen. Das flexible und durch verschiedene Konfigurationsmöglichkeiten (Tisch, Blende, Filter und Detektoren) universelle XDAL® misst zuverlässig, präzise und steht für 100 %ige Sicherheit. 

Inbetriebnahme.

Extrem schnell und einfach

Ein Gerät viele Möglichkeiten.

Schichtdickenmessung, Materialanalyse und Spurenanalyse

Prüfung mehrerer Messpunkte.

Selbst bei großflächigen Mustern sind Messpunkte auf der ganzen Musterfläche möglich

Auch für große Proben.

Haube mit C-Schlitz

Vollständig automatisierbar.

Lassen Sie Ihr Gerät mit nur einem Klick für sich arbeiten

Kompakte Bauweise.

Sehr guter Kompromiss aus Leistungsfähigkeit und Platzbedarf

  • Merkmale

      Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode

      Messfleck ca.: Ø 0,15 mm

      Silizium-PIN- und Silizium-Drift-Detektor für sehr gute Nachweisgenauigkeit und hohe Auflösung

      3-fach wechselbarer Filter

      Bauartzugelassenes Vollschutzgerät

      Bestimmung des Metallgehalts in galvanischen Bädern mit entsprechendem Zubehör

      4-fach wechselbare Blenden

      Bis zu 140 mm Probenhöhe möglich

      Verschiedene Messtischoptionen

  • Anwendungsbeispiele

      • Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen von ≤ 0,05 μm
      • Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z. B. auf Lead Frames, Steckkontakten oder Leiterplatten
      • Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
      • Automatisierte Messungen z. B. in der Qualitätskontrolle
      • Bestimmung des Bleigehalts in Loten
      • Mit Version SDD (20 mm² oder 50 mm²):
        • Bestimmung des Phosphor-Gehaltes in NiP-Schichten
        • Erfüllt ENIG/ENEPIG-Anforderungen

      Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

Application Notes
Produktvideos
Tutorials
Webinare
Broschüren
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von Röntgenfluoreszenzmessgeräten
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung Stabilitätstest
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versenden
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versenden
Strahlenschutz - Wissenswertes für den Betrieb von FISCHER Röntgeneinrichtungen
Einrichten einer Messmittelüberwachung
Kalibrierung und Messmittelüberwachung über WinFTM®
Dokumentation und Protokollierung von Messwerten
Messsystemanalyse leicht gemacht
Artikel und Messaufgaben in WinFTM® anlegen, optimieren und verwalten
Messung von Chrom-Schichten aus Cr(III)-Bädern
XRF-Kalibrierung verstehen und beherrschen

Fischer Insights.

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