FISCHERSCOPE® X-RAY 5000
Performance dank DPP+
durch unbewegliche Teile
oder an der Luft
¹ Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.
² Nur FISCHERSCOPE® X-RAY 5400.
Kontinuierliche Qualitätskontrolle mit Köpfchen.
Konzipiert für eine maximale Betriebszeit überzeugt die FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 Serie unter anderem mit einem hohen Individualisierungsgrad und herausragender Messperformance – berührungslos, zerstörungsfrei und präzise. Die Geräte dieser Serie bilden modulare Einheiten, weshalb sie sich als reine Komponente leicht in eine bestehende Anlage einbauen lassen.
Maßgeschneidert.
Einfache Integration, individuell anpassbar an Ihre Applikation
Kommt nicht ins Schwitzen.
Probentemperaturen bis 250 °C dank Wasserkühlung
Digitaler Pulsprozessor DPP+.
Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*
*Im Vergleich zum DPP
Robust und zuverlässig.
Keine bewegten Teile
Kompakte Bauweise.
Messkopf mit allen erforderlichen Komponenten in einer Einheit
Messungen im Vakuum.
Auf Vakuumkammern montierbar
Robust konstruiert und entwickelt für den unterbrechungsfreien 24/7-Einsatz, auch bei heißen Oberflächen.
Vielseitig einsetzbar und ideal für dünne Beschichtungen dank leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor und konfigurierbarer Blende.
Präzise und schnelle Inline-Messung im laufenden Fertigungsprozess.
Wartungsarm und servicefreundlich – Wartung des Messkopfes möglich, ohne das Vakuum zu brechen.
Echtzeit-Übertragung, Auswertung und Export der Messdaten mit WinFTM®, der leistungsstärksten Anwendungssoftware auf dem Markt.
Merkmale
Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode; Molybdänanode optional
Fixe Blende (bis zu Ø 11 mm konfigurierbar)
Für Messungen im Vakuum oder an Luft
Optional mit Wasserkühlung für Probentemperaturen bis zu 250 °C
Silizium-Drift-Detektor 50 mm² für höchste Präzision
Fixer Filter (konfigurierbar)
Peltierkühlung
Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+
Beliebige Einbaulage möglich
Fernsteuerung und Datenexport über TCP/IP-Schnittstelle
Anwendungsbeispiele
- Messung dünner Beschichtungen und geringer Beladungen auf großflächigen Produkten und Substraten, etwa von Brennstoffzellen, auf Glaspaneelen und sehr heißen Oberflächen
- Überwachung der Zusammensetzung und Dicke von Schichten in der Photovoltaik wie CIGS, CIS, CdTe und CdS
- Messung dünner Schichten von wenigen µm auf Metallbändern, Metallfolien und Kunststofffolien
- Prozessüberwachung von Sputter- und Galvanikanlagen
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