Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB

Produkt kann je nach Modell oder Ausstattung variieren

Der High-End-Allrounder. 

Universelles Gerät für Messungen auf kleinen Strukturen, Mehrfachschichten, funktionalen Schichten und dünnen Beschichtungen < 0,1 µm.

Kleinster Messfleck
ca. Ø 0,2 µm
4-fach wechselbare Blende sowie
3-fach wechselbarer Filter
Großer Silizium-Drift-Detektor
für sehr gute Nachweisgenauigkeit und hohe Auflösung

XRF-Leiterplattenprüfung für Profis.

Durch die Kombination aus leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor, Multikollimator und wechselbaren Filtern sind FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB Geräte für die Messung kleiner Strukturen auf Leiterplatten prädestiniert.

PCB-Profis.

Spezialisierte Messlösungen für Leiterplatten, erfüllen IPC-Normen

Allen Herausforderungen gewachsen.

Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben

Vollständig automatisierbar.

Lassen Sie Ihr Gerät für sich arbeiten

Genau und exakt.

Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen

Inbetriebnahme.

Extrem schnell und einfach

  • Merkmale

      Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode

      Fester, breiter Messtisch für Leiterplatten bis 610 × 610 mm, optional mit Messtischerweiterung 1200 x 900 mm oder in automatisierter Version, je nach Gerät

      Messfleck ca.: Ø 0,2 mm

      4-fach wechselbare Blende und 3-fach wechselbarer Filter

      Bis zu 10 mm Probenhöhe möglich

      Großer Silizium-Drift-Detektor für höchste Präzision bei dünnen Schichten

  • Anwendungsbeispiele

      • Messungen auf kleinsten Bauteilen und Strukturen auf Leiterplatten bis 610 x 610 mm (24 x 24 in)
      • Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
      • Analyse sehr dünner Beschichtungen von ≤ 0,1 μm
      • Bestimmung des Bleigehalts in Loten
      • Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
      • Direkte Phosphor-Bestimmung von NiP-Schichten
      • Erfüllt ENIG-/ENEPIG-Anforderungen

      Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

Application Notes
Tutorials
Webinare
Broschüren
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von Röntgenfluoreszenzmessgeräten
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung Stabilitätstest
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versenden
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versenden
Strahlenschutz - Wissenswertes für den Betrieb von FISCHER Röntgeneinrichtungen
Einrichten einer Messmittelüberwachung
Kalibrierung und Messmittelüberwachung über WinFTM®
Dokumentation und Protokollierung von Messwerten
Messsystemanalyse leicht gemacht
Artikel und Messaufgaben in WinFTM® anlegen, optimieren und verwalten
XRF-Kalibrierung verstehen und beherrschen

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