Fischer FAQ
Haben Sie Fragen?
Es gibt viel zu erzählen, und Sie werden sicher auch Fragen haben. Hier sind die am häufigsten gestellten. Wenn Sie weitere Antworten benötigen, nehmen Sie einfach Kontakt mit uns auf. Wir helfen Ihnen gerne weiter.
Auch in unserer Mediathek finden Sie viele interessante Anleitungen und andere nützliche Informationen.
FAQ Wichtige Parameter
Mittlerer Wert
Die einfachste Art, einen Mittelwert zu berechnen, besteht darin, alle Werte zu addieren und diese Summe durch die Anzahl der Werte zu dividieren. Dies nennt man das arithmetische Mittel. Es gibt noch andere Möglichkeiten, einen Mittelwert zu berechnen, die aber selten verwendet werden.
Bereich
Der Bereich R gibt an, wie weit der kleinste und der größte Messwert voneinander entfernt sind. Zur Berechnung des Bereichs wird der kleinste Messwert vom größten subtrahiert. Der Bereich kann durch Ausreißer stark verzerrt werden und ist daher nur sinnvoll, wenn Sie wenige Messwerte haben. Bei großen Datenmengen ist die Standardabweichung aussagekräftiger.
Standardabweichung
Die Standardabweichung σ gibt an, wie stark die Messwerte um den Mittelwert streuen. Eine hohe Standardabweichung zeigt an, dass die Messwerte stark voneinander abweichen. Liegen die Werte alle in der Nähe des Mittelwertes, ist die Standardabweichung klein. Wie gut der Mittelwert und die Standardabweichung die Realität beschreiben, hängt unter anderem von der Anzahl der Messwerte ab. Je mehr Messpunkte es gibt, desto aussagekräftiger werden die Kennziffern.
Variationskoeffizient
Die Größe der Standardabweichung hängt nicht nur von der Streuung der Messwerte ab, sondern auch von der Größenordnung der Werte - ein höherer Mittelwert führt ganz automatisch zu einer höheren Standardabweichung. Um diesem Problem zu begegnen, wird die relative Standardabweichung, der Variationskoeffizient V, oft in Prozent ausgedrückt. Dabei wird die Standardabweichung durch das arithmetische Mittel geteilt. Wie bei der Standardabweichung weisen auch hier hohe Werte auf eine hohe Streuung der Messwerte hin.
FAQ XRF
Was ist die XRF-Methode (Röntgenfluoreszenz)?
Die energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA), im englischen energy-dispersive X-ray fluorescence analysis (XRF) ist ein zerstörungsfreies Messverfahren mit dem sich Elementzusammensetzungen und Schichtdicken bestimmen lassen. Hierzu wird der Effekt der Emission charakteristischer Röntgenstrahlung eines Atoms ausgenutzt, welches zuvor durch eine einfallende Primärstrahlung ionisiert wurde. Dadurch können mit einem geeigneten Algorithmus Rückschlüsse auf die quantitativen und qualitativen Elementverteilungen in der zu untersuchenden Probe gezogen werden.
Was kann mit der XRF-Methode gemessen werden?
XRF-Messgeräte dienen zur zerstörungsfreien Schichtdickenbestimmung und Materialanalyse. Grundsätzlich können Elemente von Natrium (11) bis Uran (92) mittels der XRF Analyse gemessen werden. Die zu messenden Schichtdicken bewegen sich einem Bereich von wenigen nm bis hin zu annähernd 100µm. Die tatsächlich in Praxis zu messenden Schichtdicken hängen dabei aber stark vom betrachteten Schichtsystem und vor allem bei leichten Elementen von den Umgebungsbedingungen ab. Hier setzt die Physik der Messmethode grenzen. In der Elementanalyse können Konzentrationen im Promillebereich gemessen werden. Auch hier spielen in der Praxis die Elementmatrix sowie andere Einflussfaktoren eine wichtige Rolle.

Wie groß ist der Messfleck für Röntgenfluoreszenz-Messungen?
Der Messfleck auf der Probe ist durch die Größe des Kollimators und den verwendeten Messabstand bzw. bei Polykapillaroptiken durch die Spotgröße im Fokus definiert.Typische Werte bei Kollimatoren sind 30 µm bis 3 mm, bei Geräten mit Polykapillaroptik zwischen 10 oder 20 μm.
Was ist eine Röntgenröhre?
Die Röntgenröhre erzeugt die primäre Röntgenstrahlung, welche die Atome in der zu untersuchenden Probe ionisiert und dadurch die Grundvoraussetzung für XRF Analyse und die Erzeugung von charakteristischer Fluoreszenzstrahlung in der Probe ist.. Die primäre Röntgenstrahlung stellt ein kontinuierliches Spektrum, welches sich hauptsächlich aus eine Bremsstrahlungsuntergrund und charakteristischer Röntgenstrahlung des in der Röntgenröhre verwendeten Anodenmaterials zusammensetzt (kurz: Anregungsspektrum). Die genaue Form des Anregungsspektrums wird weiterhin durch die verwendete Röhrenspannung und -strom sowie die Größe der Spotgröße auf der Anode definiert.
Was ist ein Shutter?
Der Shutter (englisch für „Verschluss“) ist ein sicherheitsrelevantes Bauteil unserer XRF-Geräte und definiert durch Öffnen während der Messung die genaue Messzeit. Der Shutter ist sonst geschlossen und blockiert die primäre Röntgenstrahlung. Durch entsprechende Endschalter wird zudem sichergestellt, dass die Gerätehaube geschlossen ist und ein Bediener zu keinem Zeitpunkt der Messung in den Primärstrahl greifen kann.
Wozu dient ein Primärfilter?
Der Primärfilter dient zur Modifikation der Primärstrahlung. Je nach Filter lassen sich die Anregungsbedingungen für Messaufgaben modifizieren.
Was ist ein Kollimator bzw. eine Blende?
Die Blende begrenzt den Querschnitt des Primärstrahls in unseren XRF-Messgeräten und sorgt so dafür, dass auf der Probe ein Messfleck von definierter Größe angeregt wird. Bedingt die Probengeometrie einen verhältnismäßig kleinen Messfleck, so kann in unseren XRF-Geräten zwischen verschiedenen Kollimatoren gewählt werden. Bei extrem kleinen Messfleckgrößen bedingt aufgrund der Probengeometrie werden anstelle von mechanisch gefertigten Kollimatoren sogenannte Polykapillaroptiken verwendet. Damit ist es möglich, vergleichsweise viel der primären Anregungsstrahlung in einen Messfleck von je nach verwendeter Polykapillaroptik in der Größenordnung von 10-20µm zu fokussieren. Dadurch kann die Messzeit im Vergleich wesentlich minimiert werden.
Was sind Polykapillaroptiken?
Polykapillaroptiken bestehen aus tausenden dünnen Glaskapillaren, die den Effekt der totalen externen Reflexion ausnutzen, um Röntgenstrahlung in einen Spot von nur wenigen µm zu fokussieren. Die Inhouse entwickelt und hergestellten Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke von 10 oder 20 μm (FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ) oder 60 μm (Long Distance Polykapillaroptik im FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD). Der Mikrofokus der Polykapillaroptiken verstärkt den Röntgenstrahl um das bis zu 10.000-fache im Vergleich zu Kollimatoroptiken. Kennzeichen unserer Messgeräte mit Polykapillarlinsen sind also die Messungen von kleinsten Strukturen bei gleichzeitig kurzen Messzeiten.
* Spotgröße: Halbwertsbreite (Full width at half maximum, FWHM) für Mo-Kα
Welche Detektoren sind in FISCHER XRF-Geräten verbaut?
- Proportionalzählrohr: Der Detektor für einfache Messaufgaben eignet sich aufgrund seines im Vergleich sehr großes Detektionsraumwinkels bestens für die Schichtdickenmessung von Bauteilen mit komplexen Geometrien, welche einen hohen Messabstand erfordern oder aber auch bei vergleichbar dünnen Schichten und bei gleichzeitig kleinem Messfleck.
- Silizium-PIN-Diode (PIN): Der Mittelklasse-Detektor besitzt im Vergleich zum Proportionalzählrohr eine sehr viel bessere Energieauflösung, weswegen er vornehmlich für die Messung von Mehrschichtsystemen mit teils sehr dünnen Schichtdicken oder die Materialanalyse eingesetzt wird.
- Silizium-Drift-Detektor (SDD): Die Stärken des modernen Halbleiter-Detektors liegen darin, dass er die beste Energieauflösung und im Verhältnis zur PIN Diode einen größeren Detektionraumwinkel hat. Daher eignet er sich zum Beispiel bestens für die Spurenanalyse oder die Messung von leichten Elementen sowie sehr dünnen Beschichtungen bis in den nm-Bereich.
Der Detektor absorbiert die auf ihn treffende Strahlung (Röntgenfluoreszenzsrahlug) der Probe sowie des Streuspektrums und misst energiedispersiv. Das bedeutet, dass er während der Messzeit jedem einfallenden Photon eine bestimmte Energie zuordnen und in der Folge ein Fluoreszenzspektrum in Form von Intensität über Energie bereitstellt. Dieses ist die Grundlage für die folgende Schichtdicken und/oder Materialanalyse.Insgesamt werden drei Detektortypen in den XRF-Geräten verbaut, die sich sowohl in ihrer Funktionsweise als auch ihrem primären Anwendungsgebiet unterscheiden:
Welche Vorteile bietet der digitale Pulsprozessor (DPP)?
Dieses Hightech-Bauteil ist eine FISCHER Entwicklung. Der digitale Pulsprozessor (DPP) wandelt analoge in digitale Signale um. Wesentlich für die Güte eines DPP ist seine Befähigung möglichst viele Ereignisse innerhalb kürzester Zeit verarbeiten zu können ohne, dass es dabei zu Verlusten oder der Zusammenfassung mehrerer Ereignisse zu einem kommt. Der DPP+ der Firma Helmut Fischer kann bis zu 500.000 Impulse pro Sekunde verarbeiten und trägt damit wesentlich zur Optimierung der Messzeit bei weiterhin kürzesten Messzeiten bei.

Wie genau sind die Ergebnisse von XRF-Messungen?
Mit der Genauigkeit ist der Schätzwert der Abweichung zwischen dem Messergebnis und dem „wahren“ Wert der Probe gemeint. Dabei muss aber weiterhin zwischen dem zufälligen Fehler, der Präzision und dem systematischen Fehler, der Richtigkeit unterschien werden. Die Präzision ist unter anderem durch die Qualität des Spektrometers, der Messdistanz, der Messzeit, aber auch durch die Bedienereinflüsse und Umgebungsbedingungen beeinflusst. Die Richtigkeit wird dagegen vor allem durch nicht korrekte Annahmen in der Kalibrierung wie Unsicherheiten der verwendeten Standards oder falsch angenommene Probenzusammensetzung beeinflusst.
Was sind Einflussfaktoren auf die Wiederholpräzision von XRF-Messungen?
- Qualität des Spektrometers
- Messdistanz
- Kollimator / Messfleck
- Schichtdicke
- Anregungsbedingungen
- Messzeit
Wiederholpräzision ist die Streuung der Messwerte, die sich an einer Probe bei Messung mit einem Gerät unter identischen Bedingungen ergibt. Eine Messung unter idealen Bedingungen bedeutet, dass die Probe zwischen mehreren Messungen unverändert bleibt und nicht etwa bewegt wird.Zu den Einflussfaktoren gehören unter anderem:
Was sind Einflussfaktoren auf die Reproduzierbarkeit von XRF-Messungen?
- Positionierung (schiefe Ebene, zylindrische Teile, Abschattung)
- Fokussierung der Probe
- Bedienereinfluss
- Eigenschaften der Probe
- Dicke des Grundwerkstoffs
- Mehr Untergrund (z.B. PCB durch Streustrahlung)
- Zusammensetzung Grundwerkstoff und Schicht
- Rauheit
- Umgebungsbedingungen
Reproduzierbarkeit ist die Streuung der Messwerte, die sich an einer Probe bei Messung mit einem Gerät und unter wechselnden Bedingungen ergibt. Wechselnde Bedingungen bedeutet eine Messung unter mehrfacher Positionierung und/oder durch verschiedene Personen und/oder unter verschiedenen Umgebungsbedingungen.
Zu den Einflussfaktoren gehören unter anderem:Was sind Einflussfaktoren auf die Richtigkeit von XRF-Messungen?
- Rückführbarkeit
- Unsicherheit des Standards
- Unsicherheit bei der Messung des Standards
- Fehler bei der Grundwerkstoffkorrektur
- Dichte und Zusammensetzung der Schicht
- Unterschied zwischen Probe und Kalibrierstandard
Richtigkeit ist der Schätzwert der Abweichung zwischen Messergebnis und richtigem (unbekanntem) Wert.
Zu den Einflussfaktoren gehören unter anderem:
FAQ XRF - Software und Bedienung
Wo kann ich die neueste Softwareversion für mein XRF-Gerät herunterladen?
Diese wird immer mit unseren XRF-Geräten geliefert. Wenn Sie weitere Fragen haben, wenden Sie sich bitte an Ihren Vertreter.
Was bedeutet die Maske "Datenexport"?
Über die Definition der Exportmaske können Sie festlegen, welche Parameter exportiert werden sollen.
Gehen Sie im Menü der WinFTM® -Software auf "Auswertung ► Export ► Exporteinstellungen" und definieren Sie, welche Daten in welchem Format exportiert werden sollen. Sie können definieren, ob ihre Dateien online exportiert, in z.B. ein Excel-Sheet geschrieben oder etwa S232 Ausgang oder TCP-IP weitergereicht werden sollen. Ebenso können Sie eine oder mehrere Exportmasken (vor)definieren und zwischen weiteren Optionen wählen.Was wird gemessen, wenn das XRF-Gerät nach "Scatt" fragt?
Mit „Scatt“ ist in der WinFTM®Software eine Streuprobe (englisch Scatterer) bestehend aus Acrylnitril-Butadien-Styrol-Copolymer (oder kurz ABS) gemeint. Diese Probe und das entsprechende Streuspektrum werden werkseitig eingemessen.
Sollten Sie dennoch in die Lage kommen, dass das Streuspektrum erneut gemessen werden muss, so können Sie dieses über den Menüpunkt Allgemein -> Spektren laden und auswerten… in die Software laden.
Warum kann ich keine neuartigen Messaufgaben anlegen?
Die Erstellung neuer Messaufgaben benötigt eine bestimmte Softwarelizenz, die sogenannte Supersoftware. Sollten Sie diese Softwarelizenz nicht erworben haben, so kann diese entweder nachgekauft werden oder aber unsere erfahrenen Kollegen aus der Applikation übernehmen diese Arbeit für Sie.
Das XRF-Gerät druckt unaufgefordert alle Messwerte aus.
Vermutlich ist im Menü der WinFTM® Software Datei ► Einzelwerte drucken aktiviert worden. In diesem Fall wird jeder Einzelwert an den Druckerpuffer geschickt und, wenn eine Seite voll ist, wird automatisch gedruckt. Deaktivieren Sie „Einzelwerte drucken“ und löschen Sie den Druckerpuffer.
Messwerte wurden versehentlich gelöscht. Kann ich sie wiederherstellen?
Wenn innerhalb eines Blocks Einzelwerte gelöscht wurden, erscheint ein Strich in der Aufzählung der Messwerte. Gehen Sie im WinFTM® Software-Menü zu „Auswertung ► Messwert wiederherstellen“, um einzelne Messwerte eines Blocks wieder sichtbar zu machen. Wenn jedoch ganze Blöcke oder Artikel gelöscht wurden, sind die Daten nicht wiederherstellbar.
Welche Funktionen der Software machen die Messung mit FISCHER-Geräten einzigartig?
Unsere WinFTM® Software ist die leistungsstärkste Software auf dem Markt für die Schichtdickenmessung und Materialanalyse mittels Röntgenfluoreszenzanalyse. Sie wertet Messdaten effizient aus, verwaltet diese und ermöglicht standardfreies, exaktes Messen.
FAQ XRF - Anwendung
Für welche Industrien ist XRF geeignet?
Die XRF-Analyse findet in den verschiedensten Industriebereichen ihre Anwendung. Auch in Ihrer Industrie und gerne auch für Sie:. Dazu zählen unter anderem:
• Elektronik und Halbleiter
• Galvanisierung
• Automobilindustrie
• Gold, Edelmetallanalyse und Schmuck
• Farben und Lacke
• Befestigungstechnik
• Eisen und Stahl
• Haushaltswaren und Armaturen
• Luft- und Raumfahrt
• Bauwesen und Infrastruktur
• Und vieles mehr
Erfahren Sie mehr über unsere Branchen.
Welche Vorteile bietet XRF gegenüber anderen Messverfahren?
• Zerstörungsfrei: Die Probe wird durch die Röntgenfluoreszenzanalyse nicht beschädigt. Daher eignet sie sich ideal für Wareneingangs- und Warenausgangskontrollen sowie während des Fertigungsprozesses.
• Minimale Probenvorbereitung: In den meisten Fällen ist für die Messung mittels Röntgenfluoreszenzanalyse keine Probenvorbereitung erforderlich.
• Kurze Messzeiten: Die meisten Anwendungen können innerhalb weniger Sekunden durchgeführt werden.
• Multielementanalyse: Mehrere Elemente und Schichtdicken können gleichzeitig in einer einzigen Messung bestimmt werden.
• Breites Anwendungsspektrum: Die Röntgenfluoreszenzanalyse ermöglicht die Messung von Elementkonzentrationen im Promillebereich oder Reinheitsgraden bis zu 100 % sowie von Schichtdicken von wenigen Nanometern bis zu mehreren 10 µm.
Warum sollte ich mich für ein XRF-Gerät von FISCHER entscheiden?
- FISCHER = Marktführer im Bereich der Schichtdickenmessung
- Umfangreiches XRF-Produktportfolio von Handgeräten über Tischgeräte bis hin zu vollintegrierten High-End-Systemen
- Made in Germany, höchste Fertigungsqualität
- Unübertroffene Messgenauigkeit und Zuverlässigkeit
- Viele individuelle Konfigurationen passen sich Ihren Anforderungen an: Verschiedene Detektoren, Röntgenröhren und Optiken (Kollimatoren und Polykapillaroptiken), Messrichtung, Tischkonfigurationen und mehr
- Elementanalyse von bis zu 24 Elementen gleichzeitig
- Zertifizierte und kundenspezifische Standards
- Leistungsstarke Software für die Schichtdickenmessung und Materialanalyse (WinFTM®, FISIQ® X)
- Erstklassiger Kundenservice und Anwendungsberatung mit jahrzehntelanger Erfahrung
Dafür gibt es eine Vielzahl von Gründen, überzeugen Sie sich selbst:
Wo finde ich relevante Produktinformationen zu meinem FISCHER XRF Gerät?
Beim Kauf Ihres FISCHER Messgeräts erhalten Sie alle weiterführenden Informationen bequem über einen QR-Code.
FAQ Taktil
Welche Faktoren spielen für die Messgenauigkeit von Fischer Schichtdickenmessgeräten eine Rolle?
Die Messgenauigkeit von Schichtdickenmessgeräten hängt von Faktoren wie der Schichtdicke, der Oberflächenbeschaffenheit, der verwendeten Sonde usw. ab. Informationen zur Genauigkeit und Wiederholbarkeit unter idealen Bedingungen finden Sie in den technischen Datenblättern der Sonden.
Phasensensitive Wirbelstrommethode: Welche Schicht-Grundmaterial-Kombinationen kann ich messen?
Hier gibt es verschiedene Messmöglichkeiten: Ich kann zum Beispiel mit dem phasenempfindlichen Wirbelstromverfahren nicht magnetisierbares Metall auf magnetisierbares Metall messen. Ein Beispiel dafür ist Zink auf Eisen. Aber auch nicht magnetisierbares Metall auf elektrisch nicht leitendem Kunststoff wäre denkbar, wie z.B. Kupfer auf Iso. Ein weiteres Messbeispiel ist Nickel auf Kupfer (magnetisierbares Metall auf nichtmagnetisierbares Metall).
Amplitudenabhängige Wirbelstrommethode: Welche Schicht-Grundmaterial-Kombinationen kann ich messen?
Das amplitudenempfindliche Wirbelstromverfahren wird zur Messung von elektrisch nicht leitenden Beschichtungen auf elektrisch leitenden, nicht magnetisierbaren Grundwerkstoffen eingesetzt, wie z. B. Eloxal oder Farbe auf Aluminium, Farbe auf Kupfer oder Keramik auf Titan.
Magnetische Induktionsmethode: Welche Schicht-Grundmaterial-Kombinationen kann ich messen?
Bei der Magnetinduktionsmethode werden nichtmagnetische Beschichtungen auf leicht magnetisierbaren Grundwerkstoffen gemessen, z. B. Zink auf Eisen oder Farbe auf Eisen.
Was muss ich bei der Messung von Nickelschichten sowohl mit phasenempfindlichen Wirbelstromsonden als auch mit magnetinduktiven Sonden beachten?
In jedem Fall muss das Gerät mit tatsächlichen vernickelten Teilen und deren bekannter Schichtdicke kalibriert werden. Der Magnetismus von Nickelbeschichtungen kann stark variieren, so dass er an den zu messenden Teilen ganz anders sein kann als an den Kalibrierteilen. Dies kann zu Messfehlern führen, die vor allem bei der Wareneingangskontrolle ein Problem darstellen können.
Das Messgerät oder das Fischer-Programm zeigt eine unbekannte Fehlermeldung an. Wie soll ich vorgehen?
Schauen Sie zunächst in der Bedienungsanleitung nach, ob der Fehler und dessen Behebung dort beschrieben sind. Wenn nicht, senden Sie uns bitte die Seriennummer, die genaue Bezeichnung des Messgerätes, den Messfühler, die Versionsnummer des Fischer-Programms, die Fehlernummer (Fehlercode), den genauen Wortlaut der Fehlermeldung und die Umstände, die zum Fehler geführt haben. Hier finden Sie Ihre Ansprechpartner.
Welche Methode verwendet das SIGMASCOPE® zur Messung der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit?
Mit dem phasensensitiven Wirbelstromverfahren (siehe Normentwurf DIN 50994 und Norm DIN EN 2004-1).
Was bedeutet die Maßeinheit MS/m bei SIGMASCOPE®?
MS/m bedeutet Mega-Siemens pro m, was 1.000.000 Siemens/m entspricht. Diese Einheit ist der Kehrwert (invers) der Maßeinheit für den spezifischen elektrischen Widerstand Ohm x mm²/m. 1 Siemens entspricht also 1/Ohm.
Was bedeutet die Maßeinheit %IACS für SIGMASCOPE®?
IACS bedeutet "International Annealed Copper Standard". Diese Maßeinheit wird häufig in angloamerikanischen Ländern verwendet. Es gilt Folgendes: Die spezifische elektrische Leitfähigkeit von 100 %IACS entspricht 58 MS/m. Mit dieser Beziehung kann jeder Wert der elektrischen Leitfähigkeit von einer Maßeinheit in die andere umgerechnet werden.
Warum muss ich bei der Messung der elektrischen Leitfähigkeit mit dem SIGMASCOPE® auf die Temperatur der zu messenden Objekte achten?
- Entweder muss das Gerät bei der gleichen Temperatur kalibriert werden, die auch bei der Messung herrscht.
- Oder die Temperatur des Messobjekts muss während der Messung und Kalibrierung mit einem Temperatursensor (intern/extern) erfasst werden.
Die spezifische elektrische Leitfähigkeit ist direkt von der Temperatur abhängig. Je höher die Temperatur, desto geringer ist die Leitfähigkeit. Damit die Messwerte vergleichbar sind, wird die Leitfähigkeit immer mit Bezug auf 20°C angegeben. Aus diesem Grund geben die Leitfähigkeitsstandards von Fischer auch Werte für 20°C an.
Damit das SIGMASCOPE® einen Messwert der physikalisch realen Leitfähigkeit auf 20°C umrechnen kann, müssen folgende Bedingungen erfüllt sein:
Sind diese Bedingungen nicht erfüllt, kann es zu systematischen Messfehlern kommen.
Welche Sonden können zur Messung der Schichtdicken von Duplex-Beschichtungssystemen "Farbe auf Feuerverzinkung auf Stahl" im schweren Korrosionsschutz eingesetzt werden?
Mit den Duplex-Messsonden FDX10 und FDX13H. Diese Sonden benötigen eine Mindestschichtdicke für Feuerverzinkung von 70 µm, um korrekt zu messen.
Mit welchen Sonden lassen sich die Schichtdicken für das Duplex-Beschichtungssystem "Lack auf schwach verzinktem Stahl" messen?
Für dünne Zinkschichten werden die Sonden ESG2 und ESG20 verwendet. Diese Sonden können nur eingesetzt werden, wenn keine Diffusionsschicht zwischen Zink und Stahl vorhanden ist. Dies ist in der Regel bei galvanischen Überzügen und sehr dünnen Schmelztauchverzinkungen (z.B. im Automobilbau) der Fall. Schmelztauchverzinkungen im schweren Korrosionsschutz, die oft mehr als 70 µm dick sind, bilden meist eine ausgeprägte Diffusionsschicht zwischen Stahl und Zink. In solchen Fällen können die Sonden ESG2 und ESG20 nicht verwendet werden.
Welche Schicht-Grundmaterial-Kombinationen können mit der coulometrischen Methode gemessen werden?
Elektrisch leitende Metallschichten auf Metallen, Kunststoffen oder auf Keramiken. Mehr erfahren
Was sind die Voraussetzungen für coulometrische Messungen?
Folgende Voraussetzungen müssen erfüllt sein: eine saubere Beschichtungsoberfläche, guter Kontakt der Stativklemme mit dem Messobjekt. Außerdem sollte man eine Ablösegeschwindigkeit wählen, die der Schichtdicke entspricht. Außerdem muss man den geeigneten Elektrolyt verwenden. Mehr erfahren
Welche Faktoren spielen für die Genauigkeit der coulometrischen Messmethode eine Rolle?
Die Faktoren sind: die Schichtdicke, die Oberflächenbeschaffenheit, die verwendete Messzellendichtung, die Ablösegeschwindigkeit und die Reinheit der Beschichtung.
Was muss ich tun, um Daten auf meinen Computer zu übertragen?
Verbinden Sie das Übertragungskabel mit dem Computer und dem Messgerät. Installieren Sie die entsprechende Treibersoftware auf Ihrem Computer. Wählen Sie in dem von Ihnen verwendeten Auswerteprogramm die richtige Schnittstelle aus, an die ein Messgerät angeschlossen ist. Um Gruppen von Messwerten zu trennen, stellen Sie bitte im Messgerät einen Gruppentrenner ein.
Warum funktioniert meine Datenübertragung nicht?
Das könnte der Grund sein: Wurde der richtige Treiber mit Administratorrechten geladen? Wurde die richtige Schnittstelle in der Software auf dem Computer ausgewählt (siehe auch Geräte-Manager)?
Wo kann ich die neueste Softwareversion für mein taktiles Gerät herunterladen?
Für unsere taktilen Geräte finden Sie die neueste Version unserer Software in der Mediathek.
Wo finde ich relevante Produktinformationen für mein taktiles FISCHER-Gerät?
Beim Kauf Ihres FISCHER Messgerätes erhalten Sie alle weiteren Informationen bequem über einen QR-Code.
FAQ Nanoindentation
Meine Messwerte schwanken stark. Was kann der Grund dafür sein?
Bei rauen Oberflächen kann der Nullpunkt nicht immer zuverlässig bestimmt werden. Deshalb sollte die Oberfläche nach Möglichkeit poliert werden. Auch Luftströmungen und äußere Vibrationen können zu starken Messwertschwankungen oder sogar zu Fehlmessungen führen. Aus diesem Grund sollten die Geräte an einem geschützten Ort aufgestellt werden. Bei Messungen mit sehr geringen Kräften helfen geschlossene Messboxen und Dämpfungstische, um äußere Einflüsse zu vermeiden.
Meine Messwerte sind falsch. Was könnte der Grund dafür sein?
Möglicherweise ist der Eindringkörper verschmutzt oder abgenutzt. Die WIN-HCU® bietet ein Reinigungsverfahren, das regelmäßig durchgeführt werden sollte. Prüfen Sie auch, ob Sie den richtigen Kraft-Zeit-Verlauf für Ihre Anwendung gewählt haben. Unterschiedliche Prüfparameter können zu Abweichungen führen.
Wenn diese Maßnahmen nicht helfen, kann bei verschlissenem Eindringkörper auch eine Formkorrektur durchgeführt werden. Die Formkorrektur sollte nur von Fischer-Experten durchgeführt werden.
Nach der Messung ist auf der Oberfläche kein Indentor-Abdruck zu sehen. Warum?
Möglicherweise ist das falsche Objektiv am Mikroskop eingestellt. Versuchen Sie ein anderes Objektiv und stellen Sie sicher, dass Sie in der WIN-HCU® Software für Geräte ohne automatische Objektiverkennung das richtige Objektiv ausgewählt haben.
Wenn der Abdruck immer noch nicht sichtbar ist, haben Sie möglicherweise eine zu geringe Prüfkraft gewählt. In solchen Fällen kann der Abdruck z. B. mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) sichtbar gemacht werden. Ein weiterer Grund könnte ein zu großer Offset zwischen der Mikroskopposition und der tatsächlichen Messposition sein. Die eingestellten Offset-Einstellungen finden Sie unter Messtisch ► Mikroskopeinstellungen.
Bei der Messung von Beschichtungen im Querschnitt empfiehlt sich die Verwendung eines geeigneten Mikroschliff-Probenhalters von Fischer. Werden Messungen an Querschliffen ohne geeigneten Halter durchgeführt, ergibt sich bei jeder Messung ein systematischer Offset von der Messposition zur Mikroskopposition, der durch den Montagevorgang bedingt ist.
Warum erhalte ich keine Messwerte für die Eindringhärte und den Eindringmodul?
Wahrscheinlich wurde die Entladekurve nicht aufgezeichnet. Bitte überprüfen Sie Ihre Einstellungen. Außerdem können sich sehr weiche Proben unter Belastung weiter verformen (Kriechen), weshalb die Eindruckhärte nicht in jedem Fall bestimmt werden kann. Verwenden Sie die Einstellung Kriechen, um das Kriechen des Eindrucks(CIT) zu bestimmen. Verwenden Sie Bearbeiten ► Anwendungseinstellungen ► Parameter ► Gerade, um den Eindringmodul EIT und die Eindringhärte HIT nach ISO 14577 zu bestimmen.
Die Be- und Entlastungskurven sind "verformt" bzw. "stark gebogen". Was könnte der Grund dafür sein?
Die Probe hat während der Messung unter der Last nachgegeben. Prüfen Sie, ob der Prüfling gut fixiert ist. Verwenden Sie je nach Bauteilgeometrie unser passendes Zubehör: den Universalprobenhalter HM oder die Folienspannvorrichtung HM von Fischer.
Die Ladekurve hat einen Knick. Was könnte der Grund dafür sein?
Die gewählte Prüfkraft ist zu hoch für die Schichtdicke. Das Substratmaterial beeinflusst somit die Messung.
Warum kann ich den "Dynamischen Messmodus" nicht aktivieren?
Sie können den dynamischen Messmodus nur als Administrator aktivieren. Wenn die Aktivierung trotz Administratorrechten nicht möglich ist, liegt dies meist an kundenspezifischer sicherheitsrelevanter Software, die dies verhindert. Eine Möglichkeit ist hier, einen Computer mit geringeren softwarebedingten Sicherheitsvorkehrungen zu verwenden.
Warum ist der Menüpunkt "Formkorrektur" ausgegraut und nicht anwählbar?
Die Formkorrektur erfordert Administratorrechte. Bitte melden Sie sich entsprechend in WIN-HCU® an. Die Formkorrektur sollte nur von Fischer-Experten oder qualifiziertem Personal durchgeführt werden. Die Messung wurde abgebrochen und es kann keine neue Messung gestartet werden. Außerdem liegt die Eindringkörperposition bei einem Wert über 400 µm.
Warum erhalte ich eine Fehlermeldung, wenn ich auf "Auswertung" ► "Benutzerdefinierter Export" klicke?
Sie müssen den benutzerdefinierten Export zunächst unter Einstellung ► Optionen ► Benutzerdefinierter Export definieren, bevor Sie den Export ausführen können.
Wo finde ich die Seriennummer und andere wichtige Informationen zu meinem Messgerät?
Wählen Sie ? ► Info über WIN-HCU. Hier finden Sie z.B. die Seriennummer des Messgerätes und die Version von WIN-HCU®.
FAQ Messverfahren
XRF-Methode / Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF)
Die energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF ) im englischen energy-dispersive X-ray fluorescence analysis (XRF), ist ein zerstörungsfreies Messverfahren, mit dem sich Elementzusammensetzungen und Schichtdicken bestimmen lassen. Wenn ein Material mit Röntgenstrahlung angeregt wird, setzen die Atome ein charakteristisches Fluoreszenzsignal frei. Das Spektrum der emittierten Strahlung erlaubt dadurch Rückschlüsse auf die Beschaffenheit der Probe. Mit dem Fluoreszenzspektrum lassen sich die quantitativen und qualitativen Elementverteilung sowie die entsprechenden Schichtdicken einer Probe bestimmen.
Magnetisches Messverfahren
Dieses Verfahren nutzt den Hall-Effekt, um Schichtdicken magnetischer Beschichtungen auf nichtmagnetischen Materialien (und umgekehrt) durch Messung der Hall-Spannungsänderung zu bestimmen.
Amplitudensensitives Wirbelstromverfahren
Es misst die Schichtdicke auf elektrisch leitfähigen, aber nicht magnetischen Nichteisenmetallen, indem es die Abschwächung eines von einer Spule erzeugten magnetischen Wechselfelds durch induzierte Wirbelströme im Metall erfasst.
Phasensensitives Wirbelstromverfahren
Das phasensensitive Wirbelstromverfahren misst die Dicke elektrisch leitender Schichten auf verschiedenen Untergründen, indem es den Phasenwinkel der von Wirbelströmen erzeugten Impedanzänderung erfasst und daraus unter Berücksichtigung der Leitfähigkeit die Schichtdicke präzise bestimmt.
Duplex-Beschichtungen
Für die Messung von Duplex-Beschichtungen z.B. im Automobilbau werden magnetinduktive und phasensensitive Wirbelstromverfahren kombiniert, um Zink- und Lackschichten unabhängig von deren Dicke genau zu messen.
Magnetinduktives Verfahren
Das magnetinduktive Messverfahren nutzt die magnetischen Eigenschaften des Grundmaterials zur zerstörungsfreien Schichtdickenmessung durch Erfassung der Verstärkung eines magnetischen Wechselfelds.
Ferritgehalt
Mit dem magnetinduktiven Verfahren wird zerstörungsfrei der Ferritanteil in Stahl bestimmt, indem die Verstärkung eines niederfrequenten magnetischen Felds durch Ferritkörner gemessen wird.
Elektrische Leitfähigkeit
Die Leitfähigkeitsmethode misst zerstörungsfrei die elektrische Leitfähigkeit von Metallen über phasensensitive Wirbelstromsonden, um Materialeigenschaften wie Zusammensetzung und Mikrostruktur zu bestimmen.
Mikrowiderstandsverfahren
Das Mikrowiderstandsverfahren misst die Dicke elektrisch leitender Schichten auf isolierendem Untergrund präzise, indem es mit einer Sonde Strom durch die Schicht leitet und den Spannungsabfall zwischen zwei Messnadeln erfasst, der abhängig von der Schichtdicke ist.
Betarückstreuverfahren
Mit dem Betarückstreuverfahren messen Sie zerstörungsfrei mit Hilfe der Strahlung aus radioaktiven Atomen die Dicke organischer und anorganischer Schichten auf verschiedensten Substraten.
Terahertz-Messverfahren
Das Terahertz-Messverfahren nutzt kurz gepulste Terahertz-Wellen, die berührungslos in Mehrschichtsysteme eindringen, um die Laufzeiten der reflektierten Signale zu messen und so Schichtdicken und andere Materialeigenschaften präzise zu bestimmen.
Coulometrisches Messverfahren
Dieses Verfahren löst Metallschichten auf und berechnet die Dicke über die benötigte Zeit, basierend auf dem Faraday’schen Gesetz. Es eignet sich für viele metallische Schichten auf beliebigen Grundwerkstoffen und ist besonders bei Mehrschichtsystemen eine kostengünstige Alternative zur Röntgenfluoreszenz.
FAQ Kalibrierung taktil
Welche statistischen Kennwerte sollten bei der Verwendung von Messwerten als Minimum verwendet werden?
Für den Vergleich von Messwerten sollten mindestens die folgenden Kennwerte verwendet werden: Arithmetisches Mittel, Standardabweichung und Anzahl der Einzelmesswerte. Ohne die entsprechende Standardabweichung und Anzahl der Messwerte können Mittelwerte nicht sinnvoll und seriös miteinander verglichen werden.
Warum muss ich mein Messgerät kalibrieren?
Nach der Norm DIN EN ISO 9001 müssen Messmittel kalibriert werden, wenn eine Rückverfolgbarkeit erforderlich ist. Jedes physikalische Messverfahren wird von den Eigenschaften der Beschichtung und des Grundmaterials beeinflusst. Beispiele für diese Eigenschaften sind: Teilegeometrie, elektrische Leitfähigkeit, Magnetismus, Dichte der Beschichtung oder auch die Messoberfläche. Wenn sich die Eigenschaften der Schicht oder des Grundmaterials ändern, ist es daher höchstwahrscheinlich erforderlich, die Messgeräte neu zu kalibrieren.
Ich kalibriere mein magnetisch-induktives oder Wirbelstrom-Messgerät auf einer ebenen Platte und möchte nun z.B. auf einem Drehteil mit kleinem Durchmesser messen. Ist es möglich, dies ohne eine weitere angepasste Kalibrierung zu tun?
Nein. Die Kalibrierung auf der flachen Platte führt zu einem systematischen Messfehler auf der gekrümmten Oberfläche. Dadurch werden die Messwerte zu hoch sein. Das liegt daran, dass das Messgerät die Signale des gekrümmten Objekts so auswertet, als kämen sie von einem flachen Teil. Daher sind regelmäßige Kalibrierungen erforderlich, wenn sich die Form oder Geometrie der Teile oder der Messfläche ändert.
Zwei Personen kommen zu unterschiedlichen Messergebnissen. Was könnte der Grund dafür sein und was kann man dagegen tun?
Mögliche Ursachen können sein, dass zwei Messgeräte mit unterschiedlichen Kalibrierungen (Kennlinien) verwendet werden oder dass Messungen mit demselben Messgerät, aber auf unterschiedlichen Messflächen durchgeführt wurden. Die Richtigkeit der mit Messgeräten ermittelten Messwerte wird immer durch Kalibriernormale sichergestellt. Bei magnetisch-induktiven und Wirbelstrom-Messgeräten muss die Kalibrierung auf der Messfläche der realen, unbeschichteten Messobjekte erfolgen, auf der auch die Schichtdicke der beschichteten Teile gemessen werden muss. Außerdem muss sichergestellt sein, dass an der gleichen Stelle bzw. auf der gleichen Messfläche gemessen wird und dass eine ausreichende Anzahl von Messwerten für einen aussagekräftigen Mittelwert sowie eine aussagekräftige Standardabweichung erfasst wird. Nur so lassen sich vergleichbare Messergebnisse erzielen.
Wie überprüft man eine Kalibrierung für taktile Schichtdickenmessgeräte?
Man misst eine Kalibrierfolie auf das unbeschichtete Werkstück mit mehreren Messwerten (meist 5 bis 10) und zwar an der Stelle, an der später gemessen werden soll. Fischer-Basiskalibrierplatten sind für diese Kalibrierung nicht sinnvoll. Anschließend muss der Anwender entscheiden, welche Abweichungen vom Folien-Sollwert und vom gemessenen Mittelwert er zulässt, damit das Messgerät noch als ausreichend gut kalibriert gilt. Die Beurteilung der Kalibrierung eines Messgerätes im Rahmen der Statistik und im Hinblick auf die Unsicherheit der gemessenen Schichtdicke liefern zum Beispiel die Normen DIN EN ISO 2178: 2016 "Nichtmagnetische Schichten auf magnetischen Grundwerkstoffen - Messung der Schichtdicke - Magnetisches Verfahren" (Kapitel 8) und DIN EN ISO 2360:2017 "Nichtleitende Schichten auf nichtmagnetischen metallischen Grundwerkstoffen - Messung der Schichtdicke - Wirbelstromverfahren" (Kapitel 8).
Was muss bei der Kalibrierung der Duplexsonden FDX10 und FDX13H beachtet werden?
Diese Duplexsonden haben zwei Messkanäle. Der magnetisch-induktive Kanal misst die Gesamtschichtdicke von Farbe und Zink. Der amplitudenempfindliche Wirbelstromkanal misst die Farbschichtdicke auf dem Zink. Für die Kalibrierung werden ein völlig unbeschichtetes Stahlteil, das dem Originalteil entspricht, und ein verzinktes Teil mit mindestens 70 µm Zink benötigt. Der magnetinduktive Kanal der Sonden wird auf dem unbeschichteten Stahlteil kalibriert. Die verwendeten Kalibrierfolien sollten den erwarteten Gesamtschichtdickenbereich (Farbe und Zink) abdecken. Der verzinkte Teil wird für die Kalibrierung des amplitudenempfindlichen Wirbelstromkanals verwendet. Die verwendeten Kalibrierfolien sollten den erwarteten Schichtdickenbereich der Farbe einrahmen.
Was ist bei der Kalibrierung der Duplexsonden ESG2 und ESG20 zu beachten?
Diese Duplexsonden haben zwei Messkanäle. Der magnetisch-induktive Kanal misst die Gesamtschichtdicke von Farbe und Zink. Der phasenempfindliche Wirbelstromkanal misst die Zinkschichtdicke unter der Farbe. Für die Kalibrierung werden ein völlig unbeschichtetes Stahlteil, das dem Originalteil entspricht, und ein verzinktes Teil mit einer typischen Zinkschicht benötigt. Der magnetinduktive Kanal der Sonden wird auf dem unbeschichteten Stahlteil kalibriert. Die verwendeten Kalibrierfolien sollten den erwarteten Gesamtschichtdickenbereich (Farbe und Zink) abdecken. Auf dem verzinkten Teil wird der phasenempfindliche Wirbelstromkanal der Sonden kalibriert. Hier sollten keine Kalibrierfolien verwendet werden, da die Zinkschicht selbst die Kalibrierschicht ist. In diesem Schritt der Kalibrierung muss nur auf dem verzinkten Teil gemessen werden. Die Zinkschichtdicke muss vor der Kalibrierung nicht als Referenzschichtdicke gemessen werden. Der Kalibrierungsreferenzwert der Zinkschicht wird von dem im ersten Schritt kalibrierten magnetischen Induktionskanal geliefert.
Spielt die Dichte der Beschichtung bei der Kalibrierung eine Rolle?
Ja, das stimmt. Wurde das Messgerät z.B. mit einem Teil kalibriert, dessen Beschichtung eine Dichte von 2 g/cm³ hat, und sollen nun Messungen an einem Teil mit einer Dichte von z.B. 1 g/cm³ durchgeführt werden, so kommt es zu systematischen Messfehlern. Die gemessenen Werte sind dann zu niedrig. Dies ist der Fall, weil das Messgerät die Signale des neuen Objekts so auswertet, als hätte dessen Schicht ebenfalls die Dichte 2 g/cm³.
FAQ Kalibrierung XRF-Geräte
Was versteht man unter einer Nomierung bei einem FISCHER XRF-Gerät?
Unter Normierung versteht man in der Messtechnik die Anpassung der Messaufgabe an die aktuellen Einstellungen oder an neue Grundwerkstoffe. Dies muss durchgeführt werden bei Änderungen des Primärfilters, des Anodenstroms, des Kollimators oder bei neuer Legierung von Grundwerkstoffen. Sie sorgt für konsistente und genaue Messergebnisse.
Ich erhalte mit meinem FISCHER XRF-Gerät unplausible Werte. Wie wird sichergestellt, dass ich dennoch richtig messe?
Mit Hilfe der Messmittelüberwachung können Sie überprüfen, ob sich ihr XRF-Gerät in einem ordnungsgemäßen Zustand befindet und damit beurteilen, ob ihre Messergebnisse auf der Probe wirklich von dieser stammen oder etwa ein Defekt am Gerät dafür verantwortlich ist. In der Messmittelüberwachung wird eine bestimmte Referenzprobe (Fischerstandard oder Kundenreferenzteil) in regelmäßigen Abständen unter gleichen Bedingungen gemessen. Bewegt sich die Messung innerhalb innnerhalb in zuvor und der Anwendung entsprechend angepasster Toleranz- und Eingriffsgrenzen, ist davon auszugehen, dass sich das XRF-Gerät in einwandfreiem Zustand befindet.
Was ist eine Referenzmessung bei einem FISCHER XRF-Gerät?
Mit der Referenzmessung wird die Energieachse kalibriert. Diese kann schnell und einfach durch den Bediener durchgeführt werden. Besonderen Mehrwert hat die Referenzmessung bei XRF-Geräten mit Proportionalzählrohr, für welche die Referenzmessung in regelmäßigen Abständen empfohlen wird. Sie korrigiert XRF-Geräte mit Proportionalzählrohr auf Temperatureinfluss.
Wie überprüft man eine Kalibrierung am XRF-Gerät?
Kalibrierstandards können in der WinFTM® Software im Menüpunkt Artikel ► Kalibrierstandards nachgemessen werden. Damit wird sichergestellt, dass die vorherige Kalibrierung korrekt bzw. sich das Gerät weiterhin in einwandfreiem Zustand befindet oder eine Neukalibrierung erforderlich ist.
Wie oft sollten Röntgenkalibrierstandards rezertifiziert werden?
Die Intervalle für die Rezertifizierung hängen von der Nutzung ab und können vom Benutzer selbst festgelegt werden. Üblich sind Intervalle von etwa 1 bis 3 Jahren, um eine hohe Messgenauigkeit zu gewährleisten.
Können die Röntgenkalibrierungsfolien während des Kalibrierungsvorgangs gestapelt werden?
Fischer-Kalibrierungsfolien können im Prinzip gestapelt werden. Als Faustregel können 2 - 3 Folien für Proportionalzählgeräte und 1 Folie für Messgeräte mit PIN- oder Silizium-Driftdetektoren verwendet werden.
Sollte die Reinelementplatte für XRF-Geräte neu zertifiziert werden?
Nein, das ist nicht notwendig. Die Reinelementplatte enthält reine Elemente für die XRF-Sättigungsdicke, die bei sorgfältigem Gebrauch stabil bleiben und über sehr lange Zeiträume verwendet werden können.
Das einzige, was zu vermeiden ist, ist mechanische Beschädigung und Verschmutzung.Was ist zu tun, wenn das RFA-Gerät bei der Nominierung oder Kalibrierung nach dem "Grundmaterial-Kalibrierungsset" und dem "Grundmaterial-Messobjekt" fragt?
Die WinFTM®-Software ermöglicht die Messung von Probensystemen, die sich in der Grundmaterialzusammensetzung ähneln, aber dennoch erhebliche Unterschiede aufweisen. Dies ist z. B. bei Kupferlegierungen häufig der Fall. In solchen Fällen wird bei der Standardisierung oder Kalibrierung nach dem Grundmaterial-Kalibriersatz und dem Grundmaterial des Messobjekts gefragt. Ersteres bezieht sich auf den Grundwerkstoff, dessen Zusammensetzung bekannt ist und der für die weitere Kalibrierung verwendet wird, während letzteres den Grundwerkstoff des zu messenden Kundenteils bezeichnet. Hier muss darauf geachtet werden, dass es nicht zu Verwechslungen kommt, da sonst ein systematischer Fehler kalibriert wird.
Was ist der Unterschied zwischen einem Werkszertifikat und einem ISO 17025-Zertifikat für Kalibrierstandards?
Kalibriernormale mit ISO 17025-Zertifizierung werden nach einem von den Akkreditierungsstellen festgelegten Verfahren gemessen und haben eine geringere Unsicherheit als Kalibriernormale mit Werkszertifikat.
FAQ Standards
Was sind Kalibrierungsstandards und warum sind sie wichtig?
Kalibrierstandards sind Materialien mit bekannter und geprüfter Zusammensetzung, die zur Justierung und Überprüfung von XRF-Geräten verwendet werden. Sie gewährleisten, dass Messergebnisse genau und reproduzierbar sind.
Wie wähle ich den richtigen Kalibrierstandard für meine Messung aus?
Der Kalibrierstandard sollte dem zu messenden Material und der Beschichtungszusammensetzung so ähnlich wie möglich sein. Dadurch wird sichergestellt, dass die Kalibrierung realistische und genaue Ergebnisse liefert.
Welche Arten von Kalibrierstandards bietet FISCHER an?
- Feststoffstandards für Ein- und Mehrfachschichten,Legierungsschichten,Reinelemente und
Legierungen - Folienstandards für Ein- und Mehrfachschichten und
– Legierungsschichten oder vorgefertigte Sets für bestimmte Industrien und Anwendungen.
FISCHER verfügt über ein sehr umfangreiches Sortiment mit über 500 zertifizierten Standards. Dazu zählen unter anderen
- Feststoffstandards für Ein- und Mehrfachschichten,Legierungsschichten,Reinelemente und
Was sind die wichtigsten Vorteile der FISCHER Kalibrierstandards?
- Weltweit anerkannte Rückführbarkeit
- Über 500 zertifizierte Standards
- Höchste Genauigkeit durch DAkkS-Zertifizierung
- Eigene akkreditierte Kalibrierlabore weltweit
- Individuelle Kundenstandards möglich
- Expertenberatung inklusive
Kann ich meinen Standard noch verwenden, wenn er zerknittert, zerrissen oder beschädigt ist?
Nein, wenn Ihr Standard zerknittert, zerrissen oder anderweitig beschädigt ist, sollte er nicht verwendet werden. Bitte behandeln Sie Ihre Kalibrierfolien mit großer Sorgfalt, da sie aufgrund ihrer dünnen Schichten besonders anfällig für Risse oder Verformungen sind. Wenn Sie eine Beschädigung feststellen, empfehlen wir Ihnen, den Standard zur Überprüfung an uns zu schicken. Bitte setzen Sie sich direkt mit uns in Verbindung.




Cu-Folie, zerrissen
nicht okAu-Folie, zerknittert
nicht okNb-Folie, zerrissen
nicht okAu-Folie
okWelcher Teil der Norm ist für die Messung zertifiziert?
Für Röntgenstandards wird in der Bescheinigung eine zentrale Fläche von 2 x 2 mm angegeben. Wenn ein anderer Messbereich zertifiziert wird, wird dies im Zertifikat ausdrücklich angegeben. Bei taktilen Folien wird der zertifizierte Messbereich mit einem Kreis direkt auf der Folie markiert.

Der zertifizierte Messbereich ist rot markiert. Wie oft sollte ich meinen Standard zur Wartung oder Inspektion einsenden?
Wir bei Fischer geben keine bestimmten Wartungsintervalle vor. Die Notwendigkeit, Ihre Standards zur Rekalibrierung einzusenden, kann erheblich von den Einsatzbedingungen, Umwelt- und Lagerungsfaktoren sowie von der Abhängigkeit Ihres Unternehmens von bestimmten Standards und/oder internen Prüfmittelanforderungen beeinflusst werden. Daher sind Sie oder Ihr Prüfmittelüberwachungsteam am besten in der Lage, das angemessene Intervall für die Einsendung Ihrer Standards zu beurteilen und zu bestimmen. Ein typischer Wert wäre etwa alle 1-3 Jahre.
Benötigen Sie eine individuelle Beratung? Zögern Sie nicht, sich mit uns in Verbindung zu setzen.
Ist das Zertifikat mit einem Ablaufdatum versehen?
Nein, das Zertifikat hat kein festes Verfallsdatum. Die Notwendigkeit, Ihre Normale zur Rekalibrierung einzuschicken, kann erheblich von den Einsatzbedingungen, Umwelt- und Lagerungsfaktoren sowie von der Abhängigkeit Ihres Unternehmens von bestimmten Normen und/oder internen Prüfmittelanforderungen beeinflusst werden. Daher sind Sie oder Ihr Prüfmittelüberwachungsteam am besten in der Lage, zu beurteilen und zu bestimmen, wann eine Rekalibrierung erforderlich ist.
Benötigen Sie eine individuelle Beratung? Zögern Sie nicht, sich mit uns in Verbindung zu setzen.
Ich habe Anforderungen, die nicht durch den Fischer-Kalibrierstandardkatalog abgedeckt sind. Bieten Sie auch kundenspezifische Lösungen an?
Ja, wir bieten kundenspezifische Sonderlösungen an. Zum einen können wir Schichtdicken aus unserem Katalog nach Ihren spezifischen Anforderungen kombinieren, sofern dies technisch machbar ist. Andererseits können wir, wenn technisch möglich, einen Standard aus Ihrem eigenen Material erstellen. Bitte sprechen Sie mit Ihrem persönlichen Fischer-Ansprechpartner über Ihren Bedarf.
Die Oberfläche meiner Standarte ist verfärbt. Kann/sollte ich meine Standarte reinigen?
Standards sollten niemals mechanisch oder chemisch gereinigt werden! Andernfalls kann es zu Beschädigungen, Inhomogenitäten und/oder einer Verringerung der Schichtdicke kommen, was Ihre Kalibrierungsergebnisse verfälschen kann.
Verfärbung von Al, Cu, Ag: Bei diesen Metallen bildet die Oxidation der Metalloberfläche eine Oxidschicht, die das darunter liegende Metall vor weiteren Reaktionen mit Sauerstoff schützt (Passivierung). Je nach Metall kann dies zu einer typischen Verfärbung führen, die jedoch keinen negativen Einfluss auf die Messergebnisse hat.
Wichtig: Reinigen Sie Ihre Standards nicht! Das Entfernen der Oxidschicht durch Abschleifen kann zu verfälschten Kalibrierergebnissen führen.
Verfärbung von Fe, Zn, Zn/Fe: Bei Eisenoxidation (Rost) oder Zinkoxidation (Weißrost) wirkt sich die Korrosion zerstörerisch auf den Standard aus. Wenn Korrosion auftritt, müssen diese Standards zum Austausch eingeschickt werden. Da eine korrosive Umgebung den Korrosionsprozess beschleunigt, achten Sie bitte immer besonders auf die richtige Handhabung und Lagerung Ihrer Normale (siehe auch folgende Frage).
Ausnahmefall COULOSCOPE®-Normale: Unsere COULOSCOPE®-Normale sind eine Ausnahme, wenn es um die Reinigung geht. Sie werden mit einem "Radiergummi" geliefert, mit dem Sie die Nickeloxidschicht reaktivieren können.
Wie sollte ich meine Normen aufbewahren?
Lagern Sie Ihre Standards nicht in kondensierender oder korrosiver Atmosphäre. Übermäßige Feuchtigkeit kann die Schichten beschädigen.
Kann ich die DAkkS-Etiketten von meinem Standardkoffer entfernen?
Nein, bitte entfernen Sie die DAkkS-Zeichen nicht von den Koffern. Das DAkkS-Zertifikat bleibt nur in Verbindung mit den entsprechenden DAkkS-Zeichen auf den Koffern gültig.
Ich kann mein DAkkS-Zertifikat nicht mehr finden. Wo oder wie kann ich ein neues bekommen?
Auf Wunsch können wir DAkkS-Zertifikate neu ausstellen. Bitte beachten Sie jedoch, dass dies mit einer langen Vorlaufzeit und zusätzlichen Kosten verbunden ist. Bitte wenden Sie sich hierzu direkt an Ihren persönlichen Fischer-Ansprechpartner, der Ihnen gerne ein individuelles Angebot unterbreitet.
Gibt es das DAkkS-Zertifikat auch in digitaler Form?
Leider noch nicht, aber wir arbeiten daran.
Wo finde ich die Bedingungen und Konditionen?
Hier finden Sie die Bedingungen und Konditionen.
Ist es möglich, mit meinem FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ Gerät Fischer-Standards zu messen?
Ja, aber das hängt von der in Ihrem Gerät eingebauten Polykapillar-Optik ab. Je nach Polykapillaroptik können Sie Messpunkte im Bereich von ca. 10-50 µm messen. Mit diesen sehr kleinen Messflecken können Sie lokale Inhomogenitäten, wie z.B. "Nadellöcher", oder Dickenunterschiede auf Oberflächen mit hoher Rauheit sichtbar machen. Einpunktmessungen unserer Kalibrierstandards können daher (je nach Material) zu größeren Messstreuungen oder Verfälschungen der Kalibrierergebnisse führen. Für Standards, die mit unserenFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µGeräten gemessen werden, sollten Sie daher immer den Scan-Modus verwenden.
Wo kann ich die Konformitätserklärung finden?
Da die Normen individuell sind und keiner Normierung unterliegen, können wir keine Konformitätserklärung ausstellen. Darüber hinaus bieten wir auch Normen für RoHS-Messungen und spezielle Beschichtungen an, bei denen teilweise Materialien verwendet werden müssen, die nicht RoHS-konform sind.
Der Nennwert auf der gelieferten Norm weicht von dem im Angebot angegebenen Wert ab. Was ist der Grund dafür?
Unsere Normen unterliegen herstellungsbedingten Abweichungen von ±20 % der angegebenen Schichtdicke. Dies stellt keinen Mangel dar, sondern liegt im zulässigen Toleranzbereich. Sie erhalten von uns stets Normale, die dem angegebenen Angebotswert so nahe wie möglich kommen.
Welcher Wert gilt: der Wert auf der Norm oder der Wert auf dem Zertifikat? Warum sind diese Werte manchmal unterschiedlich?
Alle Messwerte unterliegen einer gewissen Schwankungsbreite. Daher können die im Zertifikat angegebenen Werte nach der Rezertifizierung von dem gekennzeichneten Wert abweichen, solange sie innerhalb der angegebenen Messunsicherheit bleiben. Bei taktilen Folien, die nach DIN EN ISO/IEC 17025:2017 zertifiziert sind, können die auf der Folie aufgedruckten Werte systembedingt ebenfalls von den im Zertifikat aufgeführten Werten abweichen. Es gilt immer der aktuell gültige Wert, der im Zertifikat angegeben ist.
Sind auch taktile Normen der Gefahr der Abnutzung ausgesetzt?
Ja, taktile Maßstäbe unterliegen in der Regel einer natürlichen Abnutzung durch das taktile Messen. Sobald Schäden wie Dellen oder Risse innerhalb der markierten Messfläche sichtbar werden, empfehlen wir den Austausch der Normale.
Warum werden taktile Folien nicht rezertifiziert?
Folien für taktile Messgeräte unterliegen einem gebrauchsbedingten Verschleiß und können daher nicht rezertifiziert werden.
Die Messwerte aus der Fremdzertifizierung von Kunststofffolien für taktile Messgeräte sind höher als die Werte, die Helmut Fischer liefert. Was ist der Grund dafür?
Die Abweichung der Foliendicke ist wahrscheinlich auf den Messaufbau zurückzuführen. Wir gehen davon aus, dass die Folien mit einem Flachstempel gemessen wurden. Bei dieser Methode wird bei der Messung der Foliendicke praktisch kein Abdruck in der Folie hinterlassen. Es wird also die tatsächliche Dicke der Folie gemessen. Die mit dieser Methode gemessene Foliendicke ist meist etwas höher als die von Fischer angegebene Foliendicke.
Die von uns gemessenen Kalibrierfolien werden zur Kalibrierung unserer Geräte mit den entsprechenden Messsonden verwendet.
Die Messfühler von Fischer haben eine kleine Kugelspitze, die auf die Kalibrierfolie oder auf die zu messende Oberfläche aufgesetzt wird. Beim Aufsetzen der Sonde auf die Kunststofffolie erzeugt diese Kugelspitze einen kleinen Druckabdruck, der u.a. von der Dicke der Kalibrierfolie abhängt. Dieser Eindruck wird bei der Messung unserer Kalibrierfolien berücksichtigt. Der Nennwert der von Helmut Fischer hergestellten Kalibrierfolien wird daher immer etwas niedriger sein als die tatsächliche Dicke der Kalibrierfolie. Würde diese Druckstelle auf den Kalibrierfolien nicht berücksichtigt werden, würden Sie nach der Kalibrierung unserer Messgeräte mit diesen Folien tatsächlich falsche Schichtdicken auf den realen Teilen messen.