Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®

Produkt kann je nach Modell oder Ausstattung variieren

Ihr Einstieg in die automatisierte Messung.

Robustes Gerät für die Qualitätskontrolle galvanisierter Massenteile und für die Badanalyse.

Anpassung der Messdistanz durch
patentierte DCM-Methode
Bauartzugelassenes
Vollschutzgerät
PZ-Detektor mit größtem
Messfenster auf dem Markt

XRF-Automation für Einsteiger.

Die Geräte der FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® Serie sind prädestiniert für die Messung in der Qualitätssicherung, Eingangskontrolle und Fertigungsüberwachung. Sie sind eng mit der XULM® Serie verwandt, mit einem bedeutenden Unterschied: der Messrichtung von oben nach unten! Das bedeutet für Sie eine bequeme Analyse von unebenen Proben sowie die Möglichkeit einer automatisierten Messung.

Auch für große Proben.

Haube mit C-Schlitz

Built to last.

Robuste Bauweise für die Messung an Massenteilen

Prüfung mehrerer Messpunkte.

Selbst bei großflächigen Mustern sind Messpunkte auf der ganzen Musterfläche möglich

Inbetriebnahme.

Extrem schnell und einfach

Maßgeschneidert.

Verschiedene Modelle bieten die optimale Lösung für Ihre Applikation

Quick-Measure-Design.

Mit wenigen Handgriffen ist das Muster platziert und bereit für die Messung

  • Merkmale

      Standard-Röntgenröhre

      Blende: fest
      Primärfilter: fest

      Bis zu 140 mm Probenhöhe möglich

      Kleinster Messfleck ca.: Ø 0,2 mm

      Bestimmung des Metallgehalts in galvanischen Bädern mit entsprechendem Zubehör

      Bauartzugelassenes Vollschutzgerät

      Proportionalzählrohr-Detektor für kurze Messzeiten

  • Anwendungsbeispiele

      • Galvanische Beschichtungen wie z. B. Zink auf Eisen als Korrosionsschutz
      • Serielle Prüfung von Masseteilen
      • Dekorative Chrom-Beschichtungen, z. B. Cr/Ni/Cu/ABS
      • Alle typischen Chrombeschichtungen, Cr(VI) und neue wie Cr(III)
      • Messung von funktionalen Gold-Beschichtungen auf Leiterplatten wie z. B. Au/Ni/Cu/PCB oder Sn/Cu/PCB
      • Beschichtungen von Steckern und Kontakten in der Elektronikindustrie wie Au/Ni/Cu und Sn/Ni/Cu
      • Bestimmung des Metallgehalts von galvanischen Bädern

      Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

Application Notes
Produktvideos
Tutorials
Webinare
Broschüren
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von Röntgenfluoreszenzmessgeräten
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung Stabilitätstest
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versenden
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versenden
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: Mit DCM: Einfache Messung komplex geformter Proben
Strahlenschutz - Wissenswertes für den Betrieb von FISCHER Röntgeneinrichtungen
Einrichten einer Messmittelüberwachung
ZnNi-Fe Beschichtung: Messung von Beschichtung sowie Kontrolle der zugehörigen Bäder
Kalibrierung und Messmittelüberwachung über WinFTM®
Dokumentation und Protokollierung von Messwerten
Messsystemanalyse leicht gemacht
Artikel und Messaufgaben in WinFTM® anlegen, optimieren und verwalten
Messung von Chrom-Schichten aus Cr(III)-Bädern
XRF-Kalibrierung verstehen und beherrschen

Fischer Insights.

Messverfahren.

Lernen Sie, wie die Röntgenfluoreszenzanalyse funktioniert.

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