FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
Präzision auch bei kurzen Messzeiten
mit kleinster Spotgröße 10 µm (FWHM)
für sichere Messungen kleiner Strukturen
¹ Bis zu 50 % verbesserte Performance: Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.
² High-End Kapillaroptiken Made by Fischer – weltweit einziger Hersteller von Röntgenfluoreszenz-Messgeräten mit eigener Fertigung von Polykapillaroptiken. Drei verschiedene High-End-Polykapillaroptiken verfügbar – für jede Ihrer Anwendungen die passende Lösung: 10 µm halofrei, 20 µm halofrei oder 20 µm standard.
Automatisierte XRF-Qualitätskontrolle von Leiterplatten.
Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB ist ein echter Spezialist für die zuverlässige Qualitätskontrolle von Leiterplatten mit Röntgenfluoreszenz. Dank leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor, Mikrofokus-Röhre Ultra und Polykapillaroptik misst das XRF-Gerät mit extrem kleinem Messfleck bei sehr hoher Intensität. Dadurch können Sie auch dünnste Schichten zuverlässig bestimmen. Die Geräte erfüllen zudem die IPC-Anforderungen 4552 und 4556 für ENIG und ENEPIG sowie 4553A (Silver) und 4554 (Tin).
Allen Herausforderungen gewachsen.
Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben
Vollständig automatisierbar.
Lassen Sie Ihr Gerät für sich arbeiten
PCB-Profis.
Spezialisierte Messlösungen für Leiterplatten, erfüllen IPC-Normen
Fortschrittlichste Polykapillaroptik auf dem Markt.
Unsere inhouse gefertigten Polykapillaroptiken liefern herausragende Messergebnisse bei kurzen Messzeiten
Genau und exakt.
Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen dank automatischer Bilderkennung
Inbetriebnahme.
Extrem schnell und einfach
Digitaler Pulsprozessor DPP+.
Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*
*Im Vergleich zum DPP
Merkmale
Mikrofokus-Röhre Ultra mit Wolframanode für noch höhere Leistung bei kleinsten Spots mit µ-XRF; Molybdänanode optional
4-fach wechselbarer Filter
Bis zu 10 mm Probenhöhe möglich
Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke bei kurzen Messzeiten mit hoher Intensität
Messfleck ca.: Ø 10 bzw. 20 µm (FWHM)
Hochpräziser, programmierbarer Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm, optional mit Vakuumfixierung
Silizium-Drift-Detektor mit 20 oder 50 mm² für höchste Präzision bei dünnen Schichten
DPP+ für höchste Präzision auch bei kurzen Messzeiten
Anwendungsbeispiele
- Messung auf kleinsten flachen Bauteilen und Strukturen auf Leiterplatten bis 610 x 610 mm (24 x 24 in)
- Analyse sehr dünner Beschichtungen z. B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 3 nm bzw. 10 nm
- Automatisierte Messungen z. B. in der Qualitätskontrolle
- Mit der Option 10 μm: Messungen mit kleinstem Messfleck in Kombination mit einem großen Silizium-Drift-Detektor
- Mit der Option Vakuumtisch: Messung auf flexiblen Leiterplatten
- Volle Konformität mit den IPC-Normen 4552 und 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (Silver) und 4554 (Tin)
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Application Notes
AN050 X-RAY Produktlinie für Messungen an Leiterplatten (PCBs) 0.72 MB AN072 Automatische Mustererkennung vereinfacht die Qualitätskontrolle von Leiterplatten 0.67 MB AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 Worauf bei der Wahl eines Röntgenfluoreszenzanalyse Geräts zu achten ist 1.25 MB AN105 μ-Spot-Messungen von Zinn- und Zinnlegierungsschichten auf Leiterplatten 0.82 MBTutorials
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