FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
Produkt kann je nach Modell oder Ausstattung variieren
Performance dank DPP+
kleinster Messfleck
größter Messabstand – best in class!
¹ Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.
Leistung in Hochform.
Das Highlight für komplex geformte kleine Prüfteile. Der unvergleichliche Messabstand kombiniert mit kleinstem Messfleck und Mikrofokus-Röhre Ultra für eine noch höhere Leistung bei kleinsten Spots machen das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD zum branchenführenden XRF-Instrument.
Allen Herausforderungen gewachsen.
Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben
Fortschrittlichste Polykapillaroptik auf dem Markt.
Unsere inhouse gefertigten Polykapillaroptiken liefern herausragende Messergebnisse bei kurzen Messzeiten
Vollständig automatisierbar.
Lassen Sie Ihr Gerät mit nur einem Klick für sich arbeiten
Genau und exakt.
Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen dank automatischer Bilderkennung
Digitaler Pulsprozessor DPP+.
Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*
*Im Vergleich zum DPP
Echtzeit-Übertragung, Auswertung und Export der Messdaten mit WinFTM®, der leistungsstärksten Anwendungssoftware auf dem Markt.
Mit der Mikrofokus-Röhre Ultra wird die Anregungsintensität deutlich erhöht. Dies sorgt für eine noch höhere Messperformance bei kleinsten Messflecken.
Programmierbarer XY-Tisch mit ≤ 2 µm Anfahrgenauigkeit sowie Haube mit C-Schlitz zur genauesten Positionierung der Probe und automatischen Mustererkennung.
Durch den hochauflösenden und leistungsstarken Silizium-Drift-Detektor können Sie kleinste Strukturen und dünnste Schichten < 0,1 µm präzise und zerstörungsfrei messen.
Die Long-Distance-Polykapillaroptik erlaubt bei einem einzigartigen Messabstand von 12 mm exakte Messungen an bestückten Leiterplatten, Steckverbindungen oder Pins.
Merkmale
Mikrofokus-Röhre Ultra mit Wolframanode für noch höhere Leistung bei kleinsten Spots mit µ-XRF; Molybdänanode optional
Wechselbarer Filter
Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+
Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke bei kurzen Messzeiten mit hoher Intensität
Messfleck ca.: Ø 60 µm
Bestimmung des Metallgehalts in galvanischen Bädern mit entsprechendem Zubehör
Silizium-Drift-Detektor mit 20 oder 50 mm² aktiver Fläche für höchste Präzision bei dünnen Schichten
Bis zu 135 mm Probenhöhe möglich
Anwendungsbeispiele
- Messung auf kleinsten Bauteilen und Strukturen wie bestückte und komplex geformte Leiterplatten, Steckkontakten, Bondflächen, SMD-Bauteilen oder dünnen Drähten
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
- Automatisierte Messungen, z. B. in der Qualitätskontrolle
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