Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

Produkt kann je nach Modell oder Ausstattung variieren

Kleinster Messfleck, größter Messabstand.

Mit Polykapillaren anspruchsvolle Messaufgaben meistern: High-End-XRF-Messgerät mit Polykapillar-Röntgenoptik für Schichtdickenmessung und Materialanalyse an winzigen Strukturen mit kleinstem Messfleck und größtem Messabstand. 

Bis zu 50% ¹ verbesserte
Performance dank DPP+
60 µm
kleinster Messfleck
12 mm
größter Messabstand – best in class!
¹ Mehr anzeigen
Weniger anzeigen

¹ Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.

Leistung in Hochform.

Das Highlight für komplex geformte kleine Prüfteile. Der unvergleichliche Messabstand kombiniert mit kleinstem Messfleck und Mikrofokus-Röhre Ultra für eine noch höhere Leistung bei kleinsten Spots machen das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD zum branchenführenden XRF-Instrument.

Allen Herausforderungen gewachsen.

Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben

Fortschrittlichste Polykapillaroptik auf dem Markt.

Unsere inhouse gefertigten Polykapillaroptiken liefern herausragende Messergebnisse bei kurzen Messzeiten

Vollständig automatisierbar.

Lassen Sie Ihr Gerät mit nur einem Klick für sich arbeiten

Genau und exakt.

Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen dank automatischer Bilderkennung

Digitaler Pulsprozessor DPP+.

Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*

*Im Vergleich zum DPP

  • Merkmale

      Mikrofokus-Röhre Ultra mit Wolframanode für noch höhere Leistung bei kleinsten Spots mit µ-XRF; Molybdänanode optional

      Wechselbarer Filter

      Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+

      Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke bei kurzen Messzeiten mit hoher Intensität

      Messfleck ca.: Ø 60 µm

      Bestimmung des Metallgehalts in galvanischen Bädern mit entsprechendem Zubehör

      Silizium-Drift-Detektor mit 20 oder 50 mm² aktiver Fläche für höchste Präzision bei dünnen Schichten

      Bis zu 135 mm Probenhöhe möglich

  • Anwendungsbeispiele

      • Messung auf kleinsten Bauteilen und Strukturen wie bestückte und komplex geformte Leiterplatten, Steckkontakten, Bondflächen, SMD-Bauteilen oder dünnen Drähten
      • Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
      • Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
      • Automatisierte Messungen, z. B. in der Qualitätskontrolle

      Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

Application Notes
Produktvideos
Tutorials
Webinare
Broschüren
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von Röntgenfluoreszenzmessgeräten
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung Stabilitätstest
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versenden
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versenden
Strahlenschutz - Wissenswertes für den Betrieb von FISCHER Röntgeneinrichtungen
Einrichten einer Messmittelüberwachung
Kleiner, schneller, genauer: Polykapillargeräte für die Herausforderungen moderner Band- und Drahtbeschichter
Kalibrierung und Messmittelüberwachung über WinFTM®
Dokumentation und Protokollierung von Messwerten
Messsystemanalyse leicht gemacht
Artikel und Messaufgaben in WinFTM® anlegen, optimieren und verwalten
Features und Performance der neuen FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-Serie mit DPP+
XRF-Kalibrierung verstehen und beherrschen

Fischer Insights.

Messverfahren.

Lernen Sie, wie die Röntgenfluoreszenzanalyse funktioniert.

Mehr erfahren
Services.

Wir bieten Ihnen alles, was Sie für sichere Messergebnisse benötigen.

Mehr erfahren
Warum Fischer.

Entdecken Sie viele gute Gründe, die für uns als Unternehmen sprechen.

Mehr erfahren

Entdecken Sie weitere Produkte.