Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

PHASCOPE® PMP10 DUPLEX

Produkt kann je nach Modell oder Ausstattung variieren

Der Profi für Duplex-Messungen.

Der Spezialist für die Dickenmessung von Duplex-Schichten von Automotive bis hin zu Dachpaneelen.

Einzigartig am Markt:
Phasensensitive Wirbelstrommethode
3 Messmethoden
zur Messung von Duplexschichten
Robuste Bauweise, ideal für
ambitionierte Messaufgaben

Das ultimative Schichtdickenmessgerät für die Automobilindustrie.

Das PHASCOPE® PMP10 DUPLEX kombiniert gleich drei Messmethoden zur Messung von Duplexschichten in der Automobilindustrie. Das magnetinduktive Verfahren nach DIN EN ISO 2178 misst die Gesamtdicke von Lack-/Zinkschichten auf Eisen. Das amplitudensensitive Wirbelstromverfahren nach DIN EN ISO 2360 misst eine einzelne Lackschicht auf Aluminium. Die phasensensitive Wirbelstrommethode nach ISO 21968 misst Schichten aus Zink auf Eisen, darüber liegende Lackschichten bleiben unberücksichtigt.

Prädestiniert für Kleinteile.

Dank Messung mit der phasensensitiven Wirbelstrommethode

Ihre Sicherheit.

Zuverlässige Messergebnisse auf gekrümmten Messflächen sowie rauen Oberflächen

Messung in nur einem Durchgang.

Qualitätsprozesse optimieren und Zeit sparen bei der Messung von Lack- und Zinkschichten

Three in one.

Vereint gleich drei verschiedene Messverfahren

Quick-Measure-Design.

Automatische Grundwerkstofferkennung vereinfacht die Messung auf Stahl oder Aluminium, da Sonde nicht gewechselt werden muss

  • Merkmale

      Messverfahren: Magnetinduktiv, amplitudensensitives und phasensensitives Wirbelstromverfahren

      Messwertspeicher: 20.000

      Messmodus DUAL: Anzeige der Gesamtschichtdicke (Lack und Zink) auf Eisen oder Lack auf Aluminium

      Datentransfer über RS232-Schnittstelle, optional USB

      Messmodus DUPLEX: Anzeige von Lack auf Zink auf Eisen oder Lack auf Aluminium

      Messbereich: Abhängig von Schicht-Grundwerkstoff-Kombination und verwendeter Sonde 0 - 2.000 µm

  • Anwendungsbeispiele

      • Duplex-Messungen wie Farbe/Zink auf Stahl
      • Lack auf Aluminium und Lack auf Zink auf Eisen
      • Mikrometer-dünne Schichten auf Nichteisenmetallen, Stahl oder Eisen
      • Mehrschichtsysteme bestehend aus einzelnen, dünnen Schichten im Mikrometerbereich
      • Messung auf gekrümmten Geometrien wie auf konvexen und konkaven Oberflächen sowie auf rauen Oberflächen

      Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

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