FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 Serie
Performance dank DPP+
Stanzgitter messen kann
zwischen verschiedenen Bändern
¹ Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.
Qualitätsprüfung in der Linie mit XRF.
Die FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 Serie ist zur kontinuierlichen und zerstörungsfreien Analyse und Messung von Schichten und Schichtsystemen in Ihrer Galvanik ausgelegt. Die Inline-Messung spart Ihnen nicht nur Zeit, sondern auch Geld durch einen optimalen Einsatz der Beschichtungsmaterialien. Der leistungsfähige und hochauflösende Detektor sorgt im Zusammenspiel mit dem DPP+ für höchste Präzision und kurze Messzeiten und gibt Ihnen die notwendige Sicherheit.
Die Automationslösung ist als Pre-Engineered Solution erhältlich. Profitieren Sie von einem bestehenden Hard- und Softwaredesign. Gemeinsam modifizieren und adaptieren wir das Automationsgerät entsprechend Ihrer Anforderungen. Es ist freistehend nutzbar oder wird modular in Ihre bestehende oder neue Produktionslinie integriert.
Inline-Messung in Echtzeit.
Präzise und schnelle Messung in Ihrem Schichtbetrieb
Automatisierbar.
Messpunkte exakt anfahren und gleichzeitig die Messaufgabe auswählen
Intelligente Selbstüberwachung.
Automatisierbare regelmäßige Kalibrierung und Messmittelüberwachung
Maßgeschneidert.
Individuell anpassbar an Ihre Applikation
Einfach zu bedienen.
Band für Justage und Bedienelemente gut erreichbar
Kompakte Bauweise.
Positionierachse und Messkopf in einer Einheit
Digitaler Pulsprozessor DPP+.
Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*
*Im Vergleich zum DPP
Merkmale
Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode; Molybdänanode optional
Hard- und Software abgestimmt auf Ihre Anwendung
Horizontale oder vertikale Einbaulage
Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+
2-fach oder 4-fach wechselbare Blenden
6-fach wechselbarer Filter
Silizium-Drift-Detektor 50 mm² für höchste Präzision
Fernsteuerung und Datenexport über TCP/IP-Schnittstelle
Anwendungsbeispiele
- Analyse und Messung von Schichten und Schichtsystemen in Fertigungsprozessen
- Messung galvanischer Schichten auf Voll- und Stanzbändern, auch mit geformten und geprägten Kontaktflächen
- Messung elektrischer Kontakte auf Bandmaterial
- Messung von Platin oder anderen Edelmetallen auf Membranen für Brennstoffzellen
- Überwachung heißverzinnter Stahl- und Buntmetall-Coils
- Messung funktioneller Schichten in der Solarindustrie
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