PHASCOPE® PMP10
ambitionierte Messaufgaben
Phasensensitive Wirbelstrommethode
für zuverlässige Messwerte
Anspruchsvolle taktile Schichtdickenmessung.
Das PHASCOPE® PMP10 ist ideal für die Qualitätskontrolle von Metallbeschichtungen geeignet und verfügt über clevere Funktionen, die die Effizienz in Ihrem Qualitätssicherungsprozess steigern. In Verbindung mit der passenden Sonde ermöglicht es Ihnen die schnelle Dickenmessung von verschiedensten Beschichtungen, auch auf kleinen Prüfteilen oder an schwer zugänglichen Stellen. Selbst raue Oberflächen lassen sich absolut präzise und zuverlässig mit dem kompakten Handgerät prüfen.
Messung in nur einem Durchgang.
Qualitätsprozesse optimieren und Zeit sparen bei der Messung von Lack- und Zinkschichten
Ihre Sicherheit.
Zuverlässige Messergebnisse auf gekrümmten Messflächen sowie rauen Oberflächen
Quick-Measure-Design.
Automatische Grundwerkstofferkennung vereinfacht die Messung auf Stahl oder Aluminium, da Sonde nicht gewechselt werden muss
Prädestiniert für Kleinteile.
Dank Messung mit der phasensensitiven Wirbelstrommethode
Ideal für die Messung der Schichtdicke von Nickel, Zink oder Kupfer auf Stahl, insbesondere bei kleinen Messteilen oder rauen Oberflächenstrukturen.
Mit einer speziellen Sondenausführung sind auch Messungen in Leiterplattenbohrungen durchführbar.
Die Funktionen des PHASCOPE® PMP10 sparen Zeit und optimieren Qualitätssicherungsprozesse in der Galvanik und Leiterplattenindustrie.
Bestimmung der Dicke einer Kupferplattierung auf einer Leiterplatte – berührungslos direkt durch eine Schutzlackschicht hindurch.
Inhouse entwickelte und produzierte Sonden für höchste Qualitätsansprüche.
Die Software bietet Ihnen die Möglichkeit zur sofortigen Auswertung der Messergebnisse und damit einen schnellen Überblick über den Prozess.
Merkmale
Messverfahren: Phasensensitives Wirbelstromverfahren
Sonden für verschiedenste Anwendungen verfügbar
Akku-Betrieb und Dauerbetrieb über mitgelieferten Steckerlader
Messwertspeicher: 20.000
Datentransfer über RS232-Schnittstelle, optional USB
Messbereich: Abhängig von Schicht-Grundwerkstoff-Kombination und verwendeter Sonde 1 - 200 µm
Anwendungsbeispiele
- Schichtdickenmessung von Zink auf Stahl oder Kupfer auf verzinktem Stahl
- Schichten von Nickel auf Stahl sowie Kupfer auf Eisen oder auf Bronze
- Nichteisenmetalle auf nichtleitenden Substraten, z. B. Kupfer auf Leiterplatten
- Thermisch gespritztes Aluminium (TSA) auf Stahl
- Zuverlässige Messergebnisse bei gekrümmten Geometrien, konvexen und konkaven Messpunkten sowie rauen Oberflächen
- Mit speziellen Sonden geeignet für Durchkontaktierungsbohrungen in Leiterplatten
- Mehrschichtsysteme aus Einzelschichten im Mikrometerbereich
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Application Notes
Broschüren
Application Notes
AN034 Bestimmung der Kupferdicke in Durchkontaktierungsbohrungen 0.56 MB AN044 Bestimmung der Schichtdicke von thermisch gespritztem Aluminium (TSA) auf Duplex Stählen 1.62 MB AN047 Messung der Verzinkung auf Nägeln mit PHASCOPE® PMP10 0.52 MB AN091 Unterschiedliche Wege zur Erzielung gültiger Messwerte und Optimierung der Messperformance 0.20 MBBroschüren
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