FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
Performance dank DPP+
wechselbare Blende
wechselbarer Filter
¹ Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.
Röntgenfluoreszenzanalyse für universell höchste Ansprüche.
Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD ist eines der leistungsstärksten Röntgenfluoreszenz-Geräte im Fischer Portfolio. Bringen Sie Ihre Messperformance mit diesem Premium-Modell auf ein neues Level: In Kombination mit dem inhouse entwickelten digitalen Pulsprozessor DPP+ können nun noch höhere Zählraten verarbeitet werden, die zu verkürzten Messzeiten oder einer verbesserten Wiederholbarkeit Ihrer Messergebnisse führen.
Built to last.
Robuste Bauweise für besonders hohe Anforderungen
Vollständig automatisierbar.
Lassen Sie Ihr Gerät mit nur einem Klick für sich arbeiten
Quick-Measure-Design.
Mit wenigen Handgriffen ist das Muster platziert und bereit für die Messung. Teil-automatisierte Messungen von vielen Teilen sind möglich
Schnell.
Dank kurzer Messzeiten sparen Sie wertvolle Zeit
RoHS-Analyse.
Bestimmung von Schadstoffen mit hoher Nachweisgenauigkeit und herausragender Leistung
Digitaler Pulsprozessor DPP+.
Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*
*Im Vergleich zum DPP
Merkmale
Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode
Silizium-Drift-Detektor 50 mm² für höchste Präzision bei dünnen Schichten
Bestimmung des Metallgehalts in galvanischen Bädern mit entsprechendem Zubehör
Messfleck ca.: Ø 0,25 mm
Höhere Zählraten und deutlich verkürzte Messzeiten durch DPP+
Bauartzugelassenes Vollschutzgerät
Bis zu 140 mm Probenhöhe möglich
4-fach wechselbare Blende und 6-fach wechselbarer Filter
Anwendungsbeispiele
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z. B. Bestimmung der Schichtdicke von Goldschichten bis herab zu 2 nm
- Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, z. B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 0,1 μm
- Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
- Schichtdickenmessung für Photovoltaik-, Brennstoffzellen- und Batteriezellen-Anwendungen
- Spurenanalyse von gefährlichen Substanzen wie Blei und Cadmium nach RoHS, WEEE, CPSIA und anderen Richtlinien für Elektronik, Verpackung und Gebrauchsgegenstände
- Analyse und Echtheitsprüfung von Gold und anderen Edelmetallen sowie Edelmetall-Legierungen
- Direkte Bestimmung des Phosphorgehalts in funktionellen NiP-Schichten
- Bestimmung des Metallgehalts von galvanischen Bädern
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Application Notes
AN001 Au/Pd-Schichten im nm-Bereich auf Leiterplatten 0.48 MB AN002 Phosphor-Gehalt in chemisch Nickel direkt messbar 0.54 MB AN003 Hohe Wiederholpräzision und Richtigkeit der Messung von Au/Pd-Schichten auf Leadframes 0.69 MB AN004 Bestimmung von Schadstoffen in kleinsten Konzentrationen – RoHS 0.48 MB AN006 Bestimmung von Platin, Rhodium und Palladium in Katalysatoren 0.16 MB AN021 Spurenelementanalyse in Materialien für Modeschmuck und Accessoires 0.51 MB AN073 Schadstoffanalyse an Textilien nach Oeko-Tex® Standards 0.75 MB AN089 Messen von Chrom(III)-Schichten 0.13 MB AN092 Worauf bei der Wahl eines Röntgenfluoreszenzanalyse Geräts zu achten ist 1.25 MB AN093 Röntgenfluoreszenzanalyse zur zerstörungsfreien Schichtdickenmessung im Bereich der Kaltmassivumformung 0.76 MB AN097 Vor dem Punzieren, bei hohen Probenvolumina oder großen Prüfteilen: Goldgehalt schnell und zuverlässig messen 0.69 MB AN109 Messung besonders dünner Bauteile und Folien mit dem Probenträger Zero Background 0.42 MBProduktvideos
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