Wir sind für Sie da.

Helmut Fischer GmbH
Institut für Elektronik und Messtechnik

Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Deutschland

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB

Die Profi-Serie für Leiterplatten.

Zuverlässig und vollautomatisch! Die XDV®-µ PCB-Geräte sind die spezialisierte Lösung für die Messung von kleinsten Strukturen sowie sehr dünnen Beschichtungen auf Leiterplatten.

 

Fischer DPP+ ¹ für höchste
Präzision auch bei kurzen Messzeiten
Polykapillaroptiken aus eigener Produktion²
mit kleinster Spotgröße 10 µm (FWHM)
Automatische Bilderkennung
für sichere Messungen kleiner Strukturen
¹ ² Mehr anzeigen
Weniger anzeigen

¹ Bis zu 50 % verbesserte Performance: Signifikant bessere Standardabweichung und somit Messmittelfähigkeit oder deutlich verkürzte Messzeit im Vergleich DPP zu DPP+.
² High-End Kapillaroptiken Made by Fischer – weltweit einziger Hersteller von Röntgenfluoreszenz-Messgeräten mit eigener Fertigung von Polykapillaroptiken. Drei verschiedene High-End-Polykapillaroptiken verfügbar – für jede Ihrer Anwendungen die passende Lösung: 10 µm halofrei, 20 µm halofrei oder 20 µm standard.

Automatisierte XRF-Qualitätskontrolle von Leiterplatten.

Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB ist ein echter Spezialist für die zuverlässige Qualitätskontrolle von Leiterplatten mit Röntgenfluoreszenz. Dank leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor, Mikrofokus-Röhre Ultra und Polykapillaroptik misst das XRF-Gerät mit extrem kleinem Messfleck bei sehr hoher Intensität. Dadurch können Sie auch dünnste Schichten zuverlässig bestimmen. Die Geräte erfüllen zudem die IPC-Anforderungen 4552 und 4556 für ENIG und ENEPIG sowie 4553A (Silver) und 4554 (Tin).

Allen Herausforderungen gewachsen.

Sichere und schnelle Ergebnisse für ambitionierte Messaufgaben

Vollständig automatisierbar.

Lassen Sie Ihr Gerät für sich arbeiten

PCB-Profis.

Spezialisierte Messlösungen für Leiterplatten, erfüllen IPC-Normen

Fortschrittlichste Polykapillaroptik auf dem Markt.

Unsere inhouse gefertigten Polykapillaroptiken liefern herausragende Messergebnisse bei kurzen Messzeiten

Genau und exakt.

Positionierung des Messpunkts auf kleinen Strukturen dank automatischer Bilderkennung

Inbetriebnahme.

Extrem schnell und einfach

Digitaler Pulsprozessor DPP+.

Noch kürzere Messzeiten mit derselben Standardabweichung*

*Im Vergleich zum DPP

  • Merkmale

      Mikrofokus-Röhre Ultra mit Wolframanode für noch höhere Leistung bei kleinsten Spots mit µ-XRF; Molybdänanode optional

      4-fach wechselbarer Filter

      Bis zu 10 mm Probenhöhe möglich

      Polykapillaroptiken erlauben besonders kleine Messflecke bei kurzen Messzeiten mit hoher Intensität

      Messfleck ca.: Ø 10 bzw. 20 µm (FWHM)

      Hochpräziser, programmierbarer Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm, optional mit Vakuumfixierung

      Silizium-Drift-Detektor mit 20 oder 50 mm² für höchste Präzision bei dünnen Schichten

      DPP+ für höchste Präzision auch bei kurzen Messzeiten

  • Anwendungsbeispiele

      • Messung auf kleinsten flachen Bauteilen und Strukturen auf Leiterplatten bis 610 x 610 mm (24 x 24 in)
      • Analyse sehr dünner Beschichtungen z. B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 3 nm bzw. 10 nm
      • Automatisierte Messungen z. B. in der Qualitätskontrolle
      • Mit der Option 10 μm: Messungen mit kleinstem Messfleck in Kombination mit einem großen Silizium-Drift-Detektor
      • Mit der Option Vakuumtisch: Messung auf flexiblen Leiterplatten
      • Volle Konformität mit den IPC-Normen 4552 und 4556 (ENIG, ENEPIG), 4553A (Silver) und 4554 (Tin)

      Sie haben weitere Anwendungen? Dann kontaktieren Sie uns! 

Application Notes
Tutorials
Webinare
Broschüren
FISCHERSCOPE® X-RAY: Kalibrierung von Röntgenfluoreszenzmessgeräten
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial: Durchführung Stabilitätstest
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 1: Kalibrieren - Artikel versenden
FISCHERSCOPE® X-RAY Tutorial Teil 2: Kalibrieren - Artikel versenden
Strahlenschutz - Wissenswertes für den Betrieb von FISCHER Röntgeneinrichtungen
Einrichten einer Messmittelüberwachung
Kleiner, schneller, genauer: Polykapillargeräte für die Herausforderungen moderner Band- und Drahtbeschichter
Kalibrierung und Messmittelüberwachung über WinFTM®
Dokumentation und Protokollierung von Messwerten
Messsystemanalyse leicht gemacht
Artikel und Messaufgaben in WinFTM® anlegen, optimieren und verwalten
Li-Ionen-Batterien – Einsatzmöglichkeiten von X-RAY-Geräten
XRF-Kalibrierung verstehen und beherrschen

Fischer Insights.

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