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Características

  • Analizador de fluorescencia de rayos X de primera calidad para mediciones automáticas de recubrimientos muy delgados (& lt; 0.05 μm) y para análisis de materiales finos en el rango tanto por mil según ISO 3497 y ASTM B 568
  • < li> Detector de deriva de silicio extremadamente potente de Fischer con área efectiva extra grande (SDD 50 mm²)
  • 6x filtro primario intercambiable y 4x colimadores intercambiables para optimizar las condiciones de medición
  • Análisis de elementos ligeros como aluminio, silicio y fósforo
  • Alturas de muestra de hasta 14 cm
  • Etapa XY programable de alta precisión con precisión de posicionamiento de & lt; 5 µm para mediciones automatizadas en estructuras pequeñas & nbsp;
  • Construcción extremadamente robusta para pruebas en serie, con excelente estabilidad a largo plazo
  • Dispositivo certificado totalmente protegido

Aplicaciones

  • Ensayo de recubrimientos muy finos en la industria electrónica y de semiconductores, p. ej. capas de oro y paladio de menos de 50 nm de espesor & nbsp;
  • Medición de recubrimientos de materiales duros en la fabricación de automóviles
  • Medición del espesor del recubrimiento en la industria fotovoltaica
  • Análisis de trazas de materiales peligrosos sustancias como el plomo y el cadmio de acuerdo con las directivas RoHS, WEEE, CPSIA y otras directivas para la electrónica, el embalaje y los bienes de consumo
  • Análisis y pruebas de autenticidad del oro y otros metales preciosos, así como sus aleaciones
  • Determinación directa del contenido de fósforo en recubrimientos funcionales de NiP

El todoterreno de gama alta

El XDV®-SDD es uno de los analizadores de fluorescencia de rayos X más potentes de la gama de Fischer. Este espectrómetro XRF está equipado con un detector de deriva de silicio (SDD) particularmente sensible. Esto le permite medir incluso las capas más delgadas. no destructivamente, por ejemplo, recubrimientos de oro de aproximadamente 2 nm de espesor en sustratos de plomo. & nbsp;

Al mismo tiempo, el XDV-SDD es perfectamente adecuado para el análisis de materiales no destructivos. Por ejemplo, su sensibilidad de detección para trazas de plomo en plástico es de aproximadamente 2 ppm, varios órdenes de magnitud inferiores a los valores requeridos por RoHS o CPSIA.

Para que pueda crear las condiciones ideales para cada medición, el XDV-SDD tiene colimadores intercambiables y filtros primarios, lo que permite trabajar a nivel científico. Sin embargo, el dispositivo extremadamente robusto es fácil de operar y está diseñado específicamente para pruebas en serie en uso industrial. Características como su mesa de medición que se desplaza automáticamente y la detección por imagen de formas repetitivas para su medición, hacen que su trabajo diario sea más fácil.

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