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Análisis de fluorescencia de rayos X: El método ideal para el control de calidad en galvanoplastia (Parte 2)

Fischer Marketing Team | 24. abril 2020

Análisis de fluorescencia de rayos X: El método ideal para el control de calidad en galvanoplastia (Parte 2)

Los modernos sistemas XRF de la línea FISCHERSCOPE XUL o XULM son típicamente pequeños y pueden ser instalados y utilizados cerca de áreas de producción, envío o recepción, así como en un laboratorio. Helmut Fischer Group también ofrece sistemas portátiles portátiles XRF.

Además de la fuente de rayos X, el componente principal del sistema de medición de rayos X es el detector. La calidad del detector determina qué tareas de medición se pueden resolver con un solo dispositivo. Fischer ofrece tres tipos diferentes de detectores.

El contador proporcional es un tubo lleno de gas. Es un detector probado para tareas de medición simples, muy adecuado para medir capas más gruesas con pequeños puntos de medición. Si las emisiones de la muestra están bien separadas, es decir, si los elementos de interés difieren (es decir, revestimiento de estaño en un sustrato de cobre), entonces el contador proporcional hará un muy buen trabajo.

Si la muestra es complicada - con muchos elementos o emisiones muy superpuestas (números atómicos adyacentes) - entonces los detectores de silcón son preferidos o incluso necesarios. Aquí Fischer ofrece modelos con un diodo PIN de silicio (Si-PIN) o con un detector de deriva de silicio (SDD). Ambos tienen una mejor resolución de energía que el contador proporcional que proporciona una respuesta mucho mejor de pico a fondo (simple a ruido). El PIN es un detector de rango medio. Aunque puede utilizarse tanto para el análisis de materiales como para la medición del espesor de la capa, requiere tiempos de medición más largos para pequeños puntos de medición. El SDD es el detector de semiconductores más moderno con una excelente resolución y los mejores límites de detección. Su fuerza radica en la medición de revestimientos muy finos en la escala de nanómetros y en el análisis de materiales en el rango de per mil.

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Análisis del contenido metálico de las soluciones de chapado

Para aplicar recubrimientos a una tasa de recubrimiento bien definida y con una composición bien definida, las empresas de galvanoplastia deben supervisar y controlar muy de cerca la formulación de sus baños de galvanoplastia. Por ejemplo, los revestimientos metálicos (como Aucucd, Aucuin, Rhru u otros) especialmente populares en la industria de la joyería deben aplicarse absolutamente homogéneneamente sobre toda la superficie para garantizar un acabado de color uniforme.

Todos los instrumentos Fischer XRF se pueden equipar fácilmente para analizar soluciones de chapado mediante el montaje de la célula de análisis de soluciones opcional (véase la Figura 3). Primero, la célula especializada se llena con la solución a analizar, luego se cubre con una lámina Mylar delgada pero robusta y se sella con un anillo de plástico - toda la parte del kit de análisis de la solución. Diferentes células con diferentes materiales de base están disponibles. La elección del material correcto puede mejorar considerablemente el rendimiento de medición. Los efectos de matriz (Cl, SO4, CN) en la solución pueden corregirse mediante la absorción de la radiación de fluorescencia del material base de la célula (p.ej. Mo o Ni).

En comparación con otros métodos, el análisis XRF (fluorescencia de rayos X) de tales soluciones es sencillo: la preparación de muestras es rápida, y los únicos consumibles necesarios son piezas pequeñas de lámina plástica, en comparación con otros métodos analíticos donde los gases (Ar) o se utiliza agua purificada.

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De esta manera, el uso de análisis de XRF para monitorear el baño de baño es una manera rápida y eficaz para determinar las concentraciones de iones y sustancias químicas en la solución. El análisis del baño de chapado puede llevarse a cabo directamente en el proceso de producción sin la presencia de personal especialmente cualificado. Como los resultados de medición exactos están disponibles en cuestión de segundos, el tiempo de reacción cuando la solución de baño se desvía se minimiza. Además, las células de análisis de soluciones pueden reutilizarse sin costes de funcionamiento adicionales.

Conclusión

El análisis XRF con dispositivos Fischer ofrece a las empresas de chapado beneficios significativos. Mediante la gestión eficaz tanto del espesor del revestimiento de los componentes como del análisis del baño de chapado mediante análisis XRF, las empresas de chapado podrán mejorar la calidad del producto y el control de los procesos y costes y satisfacer las necesidades de sus fabricantes y usuarios finales. Como las muestras ya no tienen que ser enviadas a un laboratorio para ser analizadas, hay un ahorro significativo de tiempo y costes para que un sistema de medición Fischer XRF pueda pagarse a sí mismo después de poco tiempo.

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