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Análisis de fluorescencia de rayos X: El método ideal para el control de calidad en galvanoplastia (Parte 1)

Fischer Marketing Team | 24. abril 2020

Análisis de fluorescencia de rayos X: El método ideal para el control de calidad en galvanoplastia (Parte 1)

La galvanoplastia es un proceso común de acabado o mejora de metales utilizado en numerosas aplicaciones industriales. El objetivo principal del galvanoplastia es dotar al material base de propiedades decorativas y funcionales. Algunos compuestos, como el zinc, el cromo y el níquel y sus aleaciones, confieren al sustrato unos beneficios tanto decorativos como funcionales que cumplen los requisitos del fabricante y del usuario final.

La variación del espesor es un reto importante en la industria del recubrimiento. La geometría de los componentes abarca desde superficies planas simples hasta superficies complejas y desiguales. Características como huecos, cavidades y agujeros tendrán una menor cantidad de depósito de revestimiento en comparación con las esquinas exteriores, bordes y áreas planas. Aunque las especificaciones de acabado generalmente indican un mínimo de espesor de chapado, el sobrelaminado resultaría en costes adicionales mientras que el sobrelaminado resultaría en un producto menos ideal. Teniendo en cuenta estas consideraciones, es importante poder medir el espesor del revestimiento con rapidez y precisión, lo que afecta a la calidad del producto y al control de procesos y costes.

El análisis de fluorescencia de rayos X es un método rápido y preciso para medir el espesor del recubrimiento.

Análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método rápido y no destructivo para medir el espesor del revestimiento y la composición de depósitos de recubrimiento de una amplia gama de materiales con gran precisión. Una ventaja importante del análisis XRF es que el espesor y la composición de revestimientos individuales y múltiples se pueden medir simultáneamente. Además, el equipo es fácil de operar y una medición suele tardar unos pocos segundos.

XRF es una espectroscopia atómica. El análisis de fluorescencia de rayos X se basa en el fenómeno de que, cuando los átomos de una muestra de material son excitados por la radiación X primaria, generan radiación fluorescente (fig. 2). La longitud de onda o la energía de esas emisiones fluoradas es característica de la composición elemental del material de la muestra. El número de fotones emitidos a esas energías específicas representa el número de átomos (masa) del elemento emisor que está presente en el material. Además, el espesor del revestimiento puede determinarse ya sea por la resistencia de la señal de los materiales de revestimiento o por la atenuación de la radiación material de la base.

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