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Contenido de fósforo en níquel medible directamente sin electrodos

La concentración de fósforo influye significativamente en las propiedades mecánicas y magnéticas de un recubrimiento. Este elemento se incorpora cuando se usan métodos típicos para la deposición de níquel sin electrodos o químicos. Por lo tanto, la medición del contenido de fósforo ha sido un problema desde que el Ni sin electrodos se introdujo por primera vez para aplicaciones técnicas.

Hasta ahora el análisis de fluorescencia de rayos X, ampliamente utilizado en la industria de galvanotecnia para la medición del espesor del recubrimiento y el análisis del recubrimiento, solo era capaz de determinar la concentración de fósforo indirectamente a través de la evaluación de la señal del material del sustrato, restringiendo la aplicabilidad de la técnica a sistemas con sustratos que consistieran en un solo elemento pesado. Además, se requería un espesor de recubrimiento mínimo de aproximadamente 4 µm.

Sin embargo, utilizando el FISCHERSCOPE® X-RAY con detectores de deriva de silicio de alta resolución (SDD), la señal de fluorescencia del fósforo se puede medir directamente, siempre que las condiciones de excitación se seleccionen correctamente.

La información obtenida se refiere a la capa más superficial: la radiación de fluorescencia de la primera 1 µm superior se introduce en la evaluación de espectros; de esta forma, la interferencia del reflejo de difracción puede excluirse en gran medida. La incertidumbre de medición del contenido de fósforo es de aproximadamente 0,5 por ciento en masa.

Debido a que la medición del espesor de un recubrimiento de NiP se realiza bajo diferentes condiciones de excitación que la determinación de la concentración de P, estas dos aplicaciones de medición se complementan entre sí. La trazabilidad puede garantizarse utilizando los patrones de calibración respectivos (con Fe, Cu, Al y PCB como materiales de sustrato) de FISCHER.

La combinación de la tecnología de detección de vanguardia como SDD, excitaciones múltiples en varios modos y el potente software de análisis, WinFTM®, permite mediciones fiables y precisas tanto del espesor del recubrimiento como del contenido de fósforo de recubrimientos de níquel en una amplia variedad de materiales de sustrato. El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD une todas estas características de rendimiento en un solo instrumento.

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