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Fischer Marketing Team | 24. abril 2020

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ Tutorial

Grace Chua, Especialista en Marketing de Helmut Fischer, demuestra lo fácil que es usar el FISCHERSCOPEď X-RAY XDVď-µ a través de una serie de tutoriales. El XDVď-µ es un instrumento de medición de fluorescencia de rayos X con una óptica de rayos X policapilar para mediciones en componentes y estructuras muy pequeñas. Todos los dispositivos están equipados con óptica policapilar que enfoca el haz de rayos X, haciendo posible la medición de puntos (fwhm) con diámetros entre 10 y 60 μm. La alta intensidad de la radiación enfocada resulta en una corta duración de medición. Además del XDV-μ de aplicación universal, también hay disponibles dispositivos especializados para las industrias de electrónica y semiconductores. Por ejemplo, el XDV-μ LD está optimizado para la medición en placas de circuitos impresos, mientras que el XDV-μ Wafer está diseñado para su uso en salas limpias.

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