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Alta precisión de repetibilidad y veracidad de las mediciones de recubrimiento Au / Pd en marcos de plomo

A medida que la industria electrónica utiliza recubrimientos cada vez más delgados, los fabricantes aumentan sus demandas de tecnologías de medición para proporcionar parámetros confiables para el control de los productos. El sistema de recubrimiento Au / Pd / Ni se usa con frecuencia en la galvanotecnia de bastidores de plomo, con CuFe2 (CDA 195) como material de sustrato. Los espesores de recubrimiento típicos están entre 3-10 nm Au y 10-100 nm Pd. Para controlar la calidad de estos sistemas de recubrimiento los instrumentos de fluorescencia de rayos X se han establecido como el método de medición elegido.

Se utilizó una serie de pruebas comparativas que emplearon otros métodos de medición física para determinar las capacidades de los instrumentos de fluorescencia de rayos X dentro de los rangos mencionados. Las muestras se midieron con el método de fluorescencia de rayos X utilizando el modelo FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD, la retrodispersión de Rutherford y la radiografía absoluta basada en radiación sincrotrón.

Para espesores de recubrimiento de Au de aproximadamente 4, 6 y 9 nm, los resultados de los instrumentos de fluorescencia de rayos X mejoraros los obtenidos por los otros dos métodos, con desviaciones en el rango sub-nm, confirmando no solo la baja dispersión sino también la veracidad de las mediciones con instrumentos de fluorescencia de rayos X. La trazabilidad de los resultados de medición se garantiza mediante el uso de los patrones de calibración FISCHER desarrollados específicamente para esta aplicación de medición. El manejo simple de los instrumentos de fluorescencia de rayos X también permite escanear fácilmente una muestra para determinar la homogeneidad del espesor del recubrimiento en caso de necesidad (ver Fig. 2).

La combinación de la tecnología de detección de vanguardia y el poderoso software de análisis, WinFTM®, permite mediciones fiables y precisas de espesores de recubrimiento incluso en rangos por debajo de 10 nm. Para su uso en marcos principales, se recomiendan los instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD para muestras de tamaño relativamente normal; para estructuras muy pequeñas, el modelo XDV®-µ, con su óptica especial de rayos X, garantiza un punto de medición muy pequeño de tan solo 20 µm en la muestra.

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