Óptica

• Optimización continua gracias a décadas de experiencia
• Desarrollo y producción en Berlín
• En comparación con un colimador pinhole convencional: amplificación de la densidad de XRF hasta 10.000 veces
• Acortamiento del tiempo de medición mediante la concentración del haz de excitación en un pequeño punto con una intensidad muy alta
• Tamaño de punto pequeño de hasta < 10*  µm para mediciones en componentes y microestructuras más pequeñas
• Ancho de banda espectral de 1 keV - 50keV
• Diferentes tipos disponibles: Monocapilares con forma cilíndrica, elíptica o parabólica, y una variedad de policapilares incl. versiones sin halo
• El software WinFTM, desarrollado por la empresa, admite funciones de mapeo, evaluaciones especiales como el modo de matriz y mediciones automatizada

* Tamaño de punto en Mo-K

Medición de revestimientos finos y muy finos y análisis de sistemas multicapa complejos:

• Recubrimientos en obleas de silicio y placas de circuito impreso
• Medición del contenido de Ag en los puntos de soldadura
• Contactos enchufables
• Cuadros conductores
• Mapeo de elementos y espesores de capa a microescala

El desarrollo y la fabricación de ópticas capilares de alta precisión para la conformación de haces de rayos X es una de nuestras principales competencias tecnológicas. Gracias a estos componentes, los instrumentos XRF de Helmut Fischer son capaces de medir en los componentes y microestructuras más pequeños. Como uno de los dos únicos fabricantes en todo el mundo, garantizamos la innovación y la máxima precisión de medición.

Además del uso de fuentes de microenfoque muy brillantes y de detectores dispersivos de energía eficientes, la aplicación de ópticas policapilares también es decisiva para el rendimiento óptimo de medición de un espectrómetro XRF. Una lente policapilar concentra el haz de excitación en un pequeño punto con una intensidad muy alta, lo que conduce a una reducción significativa del tiempo de medición. Los modernos avances en el campo de la nanotecnología y la microelectrónica están aumentando la demanda de una resolución espacial cada vez mejor. Durante mucho tiempo, la resolución espacial en el rango de alta energía del haz de rayos X se vio empañada por el llamado efecto halo. Este efecto provocaba un importante deterioro de la resolución lateral del punto de medición en la superficie de la muestra y, por tanto, causaba determinaciones de composición erróneas en el análisis cuantitativo de materiales. Gracias a nuestra larga experiencia y a un eficaz trabajo de desarrollo, no sólo pudimos reducir el efecto de halo, sino también producir lentes policapilares libres de halo.

En Helmut Fischer se beneficia de casi 30 años de experiencia en el desarrollo de policapilares optimizados para una amplia gama de aplicaciones. La óptica se basa en el efecto de la reflexión total externa en la superficie lisa interior de los capilares de vidrio. El ángulo crítico de la reflexión total depende de la energía del haz de rayos X, la densidad del material reflectante y la rugosidad de la superficie reflectante. Como el vidrio tiene una rugosidad muy baja, es un material eficaz para la fabricación de ópticas capilares de rayos X. Las ópticas capilares se diferencian por el número de reflexiones en la superficie interior del capilar. Tenemos diseños específicos en la cartera de Fischer: Monocapilares con forma cilíndrica, elíptica o parabólica, así como una variedad de policapilares. En la tabla se ofrece un resumen de los distintos métodos analíticos de rayos X en los que se utiliza la óptica capilar:

Los monocapilares de forma elíptica o parabólica son elementos ópticos de formación de imágenes con una reflexión total única. El tamaño del punto focal de un capilar de forma elíptica viene determinado tanto por el tamaño y la forma de la fuente como por la precisión de fabricación del capilar. Los capilares de forma parabólica enfocan un haz paralelo a un punto focal o paralelizan el haz divergente de una fuente puntual. Un haz de sincrotrón es enfocado por ellos en un punto muy pequeño de hasta 250 nm.