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Debido a que los artículos que entran en contacto con la piel humana deben estar libres de materiales nocivos y sustancias alergénicas, hay nuevas regulaciones para la protección del consumidor que restringen el contenido de plomo (Pb), cadmio (Cd) y otros elementos tóxicos o alergénicos en joyas de moda, piezas de reloj y accesorios, así como en las fijaciones y adornos metálicos en bolsos, carteras o ropa. Este desafío analítico requiere equipos de medición que puedan detectar rápida y fácilmente incluso las cantidades más pequeñas de estas sustancias.

En virtud de este nuevo reglamento, no sólo las sustancias orgánicas nocivas, sino también los metales pesados, en particular Pb, Cd y Ni, deben ser severamente limitados. Dependiendo de la industria y el país, las trillas pueden ser extremadamente bajas, a menudo en el rango de 100 ppm.

A efectos de costo, las piezas metálicas de joyería y accesorios de moda no siempre están hechas de materiales sólidos. Las formas subyacentes están hechas de aleaciones fácilmente viables y baratas que luego se chapan con revestimientos decorativos. Tanto los recubrimientos como los materiales de sustrato deben estar libres de Pb y Cd. Por lo tanto, es más oportuno y rentable analizar materiales base como latón y aleaciones de zinc antes de dar forma y recubrimiento.

En contraste con el enorme esfuerzo requerido con el análisis químico, es sencillo y sencillo probar contaminantes utilizando sistemas de fluorescencia de rayos X (XRF). Su alta resistencia a la detección y sus bajos límites de detección, indispensables en cualquier método de medición, hacen que los sistemas XRF de FISCHER sean ideales para este tipo de cribado.

Valores típicos de precisión de repetibilidad (Std. dev.) en mediciones de plomo, medidos con FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.

Matrix

Std. dev. Pb [ppm]

ABS

0.5

Al

2

Cu

13

Zn

20

Sn

0.6

Brass, actual

10 - 30

SnBi2, actual

5 - 15

SnBi50 actual

50 - 100

La desviación estándar de las mediciones repetidas es una indicación directa de las concentraciones más bajas detectables por un instrumento (límite de detección de 3 x std. dev.). Los impresionantes resultados de la Tabla 1 muestran que el método XRF y el ® XDV®X-RAY XDV®-SDD son excepcionalmente adecuados para el análisis de trazas y, por lo tanto, para controlar si se han alcanzado los valores objetivo legales.

En todo el mundo, los instrumentos X-RAY XDV®-SDD de FISCHERSCOPE® están en uso para la proyección de materiales utilizados en la fabricación de joyas y accesorios de moda. Estos instrumentos se caracterizan por su fácil manejo y su excelente precisión de repetibilidad y por lo tanto son los más adecuados para supervisar el cumplimiento de las nuevas regulaciones. Su agente local de FISCHER estará encantado de ayudarle con más preguntas.

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