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La óptica capilar de rayos X se utiliza para guiar y dar forma a la radiación X. Tales sistemas son monocapilares, como capilares cilíndricos, elipsoidales o paraboloidales o policapilares, que consisten en un sistema monolítico de una gran cantidad de canales capilares huecos. Su función se basa en el efecto de la reflexión externa total de los rayos X desde las superficies lisas internas de los canales capilares. Para ángulos de incidencia inferiores al ángulo crítico de la reflexión total, el coeficiente de reflexión alcanza valores cercanos al 100 por ciento y la radiación X se guía con bajas pérdidas a través de la óptica. El ángulo crítico depende principalmente del material reflectante y la energía del fotón de rayos X. El material básico para los capilares de rayos X es el vidrio. La baja rugosidad de las superficies de vidrio reflectante conduce a una baja porción de rayos X dispersos difusos, por lo que se puede realizar un transporte eficiente de la radiación X a través de los capilares de vidrio. Debido a estas propiedades, la óptica capilar puede dirigir los rayos X f rom fuente para muestrear de tal manera que una alta intensidad se concentre en un área definida con precisión en la superficie de la muestra.

La óptica de rayos X puede distinguirse por el número de reflejos de las superficies capilares internas. Existen sistemas capilares de rebote único y rebote múltiple.

Un sistema monolítico de muchos canales capilares huecos doblados se denomina óptica policapilar de rayos X. Este es un sistema capilar de rebote múltiple. Es capaz de transportar la radiación desde una fuente de rayos X a un área a una distancia definida de la fuente con pérdidas de baja intensidad. En esa área denominada punto focal de una óptica de enfoque de este tipo, se puede concentrar una intensidad de haz muy alta.

La óptica capilar de rayos X se usa para muchas aplicaciones como análisis de fluorescencia de rayos X (XRF, µXRF, 3D-µXRF), difracción de rayos X (XRD, µXRD), XRF y XRD con resolución de tiempo, rayos X dispersivos de longitud de onda espectroscopía (WDX), microscopía electrónica (EM) y microscopía de rayos X. Los detalles esenciales para la especificación de la geometría de la óptica son las propiedades de la fuente de rayos X, la conformación del haz requerida, el diámetro del punto focal y el rango de energía de los fotones que deben guiarse de manera eficiente. La directriz VDI / VDE 5575 describe todos los tipos de óptica de rayos X, incl. óptica capilar y sus principales propiedades. Puede encontrar más información sobre los tipos de óptica en nuestras páginas web.

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