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La serie profesional para el ensayo de placas de circuito impreso

Las placas de circuito impreso de hoy en día tienen una gran cantidad de puntos de contacto recubiertos. Para garantizar la confiabilidad de las uniones soldadas, la resistencia a la corrosión y la vida útil, los respectivos espesores de los diversos materiales deben estar en la relación correcta. Para monitorear estas especificaciones, la fluorescencia de rayos X con dispersión de energía es el método más recomendable.

Los instrumentos de fluorescencia de rayos X especialmente desarrollados por Fischer satisfacen perfectamente los requisitos de los fabricantes de PCB: no solo son rápidos y fáciles de usar, sino que todos los dispositivos son lo suficientemente espaciosos como para alojar PCB de hasta 610 x 610 mm de tamaño. & nbsp; </ p >

Hay varios modelos disponibles según sus requisitos. !Llamanos! Estamos a tu disposición.

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

Para mediciones simples y comprobaciones puntuales, el FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB es ideal. Está equipado con un detector de tubo contador proporcional, lo que permite tiempos de medición cortos. Este instrumento de fluorescencia de rayos X se recomienda para espesores mediciones de capas de más de 0.1 µm de grosor.

  • Tubo con microfocal de tungsteno para aplicaciones estándar
  • Detector proporcional de tubo contador para analizar elementos desde potasio (19) hasta uranio (92)
  • Mesa de medición amplia yfija para placas de circuitos impresos de hasta 610 x 610 mm (24 x 24")
  • Altura máxima de la muestra: 90 mm
  • Punto de medición más pequeño Ø aprox. 0.2 mm
  • Dispositivo certificado totalmente protegido & nbsp;

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB también está equipado con un tubo contador proporcional. Sin embargo, este instrumento de fluorescencia de rayos X tiene una variedad de colimadores y filtros para que pueda crear las condiciones de medición óptimas para su tarea. En la configuración básica, tiene una mesa de medición con extracción de muestra, que simplifica el posicionamiento de la PCB. Bajo pedido, también disponible con mesa de medición programable XY también para mediciones automáticas.

  • Tubo con microfocal de tungsteno para aplicaciones estándar
  • Filtro intercambiable 3x opcional, posibilidad de distintas energias de excitación para tareas más complejas
  • Detector proporcional de tubo contador para analizar elementos de potasio (19 ) a uranio (92)
  • Mesa de medición extraíble manualmente o programable para placas de circuito impreso de hasta 610 x 610 mm (24 x 24")
  • Altura máxima de muestra: 5 mm < / li>
  • 4x colimadores intercambiables, punto de medición más pequeño Ø aprox. 0,2 mm
  • Dispostivo certificado totalmente protegido & nbsp;

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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

En aplicaciones de alta confiabilidad, las placas de circuito impreso son componentes críticos para la calidad. En tales casos, se emplean recubrimientos de alta calidad de acuerdo con los procesos ENIG y ENEPIG. Dado que los espesores de capa más delgados en estos procesos están entre 40 y 100 nm, la precisión de contadores proporcionales no es suficiente para monitorear el proceso. Aquí es donde el PCB FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ es la elección correcta. La combinación de un detector de deriva de silicio (SDD) altamente sensible y una óptica policapilar permite mediciones precisas en estructuras de menos de 50 µm de tamaño.

Especialmente cuando se trata de estructuras muy pequeñas, permite seleccionar individualmente cada posición de medición precisa demucho tiempo si se van a inspeccionar grandes cantidades de muestras aleatorias. Pero con el software de reconocimiento de imágenes implementado por Fischer, puede ahorrarse este esfuerzo. Simplemente almacene una sección de la imagen; el XDV®-µ PCB busca las estructuras correspondientes y las mide automáticamente.

  • Tubo con microfocal de tungsteno o molibdeno
  • Filtro intercambiable 4x, para condiciones de excitación óptimas para tareas más complejas
  • Detector de deriva de silicio para análisis de elementos de aluminio (13) al uranio (92)
  • Etapa de medición programable, opcionalmente con soporte de vacío para PCB FLEX
  • Óptica policapilar para puntos de medición muy pequeños (10 o 20 µm FWHM) & nbsp;
  • Tamaño máximo de muestra: 610 x 610 mm y 10 mm de altura
  • Aprobación individual como dispositivo de protección total& nbsp;

 

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