FISCHERSCOPE X-RAY PCB series

La serie profesional para el ensayo de placas de circuito impreso

Las placas de circuito impreso de hoy en día tienen un gran número de puntos de contacto recubiertos. Para garantizar la fiabilidad de las uniones soldadas, la resistencia a la corrosión y la vida útil, los espesores respectivos de los distintos materiales deben estar en relación correcta. Para controlar estas estrictas especificaciones, la fluorescencia de rayos X de energía dispersiva es el método elegido.

Con la serie PCB, Helmut Fischer ofrece soluciones de medición especializadas para placas de circuitos impresos. Los profesionales de PCB proporcionan resultados fiables y rápidos tanto para tareas de medición sencillas como para las más ambiciosas, así como para la medición del grosor de las capas hasta el rango nanométrico.

Disponemos de varios modelos en función de sus necesidades. Llámenos. Estamos aquí para usted.

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

Para mediciones simples y comprobaciones puntuales, el FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB es ideal. Está equipado con un detector de tubo contador proporcional, lo que permite tiempos de medición cortos. Este instrumento de fluorescencia de rayos X se recomienda para espesores mediciones de capas de más de 0.1 µm de grosor.

Tubo con microfocal de tungsteno para aplicaciones estándar
Detector proporcional de tubo contador para analizar elementos desde potasio (19) hasta uranio (92)
Mesa de medición amplia yfija para placas de circuitos impresos de hasta 610 x 610 mm (24 x 24")
Altura máxima de la muestra: 90 mm
Punto de medición más pequeño Ø aprox. 0.2 mm
Dispositivo certificado totalmente protegido

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

El FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB también está equipado con un tubo contador proporcional. Sin embargo, este instrumento XRF tiene una variedad de colimadores y filtros para que pueda crear las condiciones de medición óptimas para su tarea. En la configuración básica, dispone de una etapa de muestreo extraíble, que simplifica el posicionamiento de la placa de circuito impreso. A petición, también está disponible una platina XY programable para mediciones automatizadas.

Tubo de microenfoque de tungsteno para aplicaciones estándar
Apertura cambiable 4x opcional para condiciones de medición optimizadas
Filtro cambiable 3x opcional para mejores condiciones de excitación para tareas más complejas
Punto de medición más pequeño Ø aprox. 0. 15 mm
Detector de tubo de contador proporcional para analizar elementos desde el potasio (19) hasta el uranio (92)
Etapa de medición extraíble manualmente o programable para placas de circuitos impresos de hasta 610 x 610 mm
Altura máxima de la muestra: 5 mm
Patentado por Fischer: el método DCM para un ajuste sencillo y rápido de la distancia de medición
Inspección de aceptación individual como instrumento totalmente protegido según la ley alemana de protección contra las radiaciones

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB

A diferencia de la XULM-PCB y la XDLM-PCB, la FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB está equipada con un detector de deriva de silicio (SDD) altamente sensible, diferentes aperturas y filtros. Esto crea unas condiciones de medición óptimas también para las pruebas de los revestimientos ENIG y ENEPIG. En su configuración básica, el instrumento cuenta con una mesa de muestreo desplegable que simplifica el posicionamiento de las placas de circuito impreso. A petición, puede equiparse con una extensión de la mesa de muestras para placas de circuito impreso de gran tamaño.

Tubo de microenfoque de tungsteno o cromo
Apertura 4x cambiable para condiciones de medición optimizadas
Filtro 3x cambiable para condiciones de excitación óptimas para tareas más complejas
Punto de medición más pequeño Ø aprox. 0. 15 mm
Detector de deriva de silicio (SDD) para el análisis de elementos desde el aluminio (13) hasta el uranio (92)
Patentado por Fischer: el método DCM para un ajuste sencillo y rápido de la distancia de medición
Estadio extraíble manualmente para placas de circuitos impresos de hasta 610 x 610 mm (24" x 24")
Altura máxima de la muestra 10 mm
Inspección de aceptación individual como instrumento totalmente protegido según la ley alemana de protección contra la radiación

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

En aplicaciones de alta fiabilidad, las placas de circuitos impresos son componentes de calidad crítica. En estos casos, se emplean revestimientos de alta gama según los procesos ENIG y ENEPIG. Dado que los espesores de capa más finos en estos procesos se sitúan entre 40 y 100 nm, la precisión de los tubos contadores proporcionales ya no es suficiente para controlar el proceso. Aquí es donde el FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB es la elección correcta. La combinación de un detector de deriva de silicio (SDD) altamente sensible y una óptica policapilar permite realizar mediciones precisas en estructuras de menos de 50 µm de tamaño.

Especialmente cuando se trata de estructuras muy pequeñas, la selección individual de cada posición de medición puede llevar mucho tiempo si hay que inspeccionar un gran número de muestras aleatorias. Pero con el software de reconocimiento de imágenes implementado por Fischer, puede ahorrarse este esfuerzo. Simplemente guarde una sección de la imagen. El XDV-µ PCB busca las estructuras correspondientes y las mide automáticamente.

Tubo Ultra microenfocus con ánodo de tungsteno para un rendimiento mayor en los puntos más pequeños con µ-XRF; ánodo de molibdeno opcional
Apertura cambiable 4x para condiciones de medición optimizadas
Filtro cambiable 4x para condiciones de excitación óptimas para tareas más complejas
Optica policapilar para puntos de medición muy pequeños Ø aprox. 20 o 10 µm
Detector de deriva de silicio (SDD) para el análisis de elementos desde el aluminio (13) hasta el uranio (92)
Plataforma de medición programable, opcionalmente con soporte de vacío para placas de circuito impreso FLEX
Altura máxima de la muestra < 4-5 mm
Inspección de aceptación individual como instrumento totalmente protegido según la ley alemana de protección contra las radiaciones
Procesador de pulsos digitales DPP+. Tiempos de medición aún más cortos con la misma desviación estándar*
_{*En comparación con el DPP}

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