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FISCHERSCOPE X-RAY XDL および XDLM

FISCHERSCOPE X-RAY XDL および XDLM

自動測定が可能なXRF測定器

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®およびXDLM®測定器は、X線照射は上から下となります。これにより、平坦ではない試験片でも測定が容易になります。つまり複雑形状でも測定ができます。

 

X線を上から下へ照射する他の利点として、測定タスクをプログラム化して自動測定が組めます。プログラム可能な測定ステージを搭載しており、XDL 240およびXDLM 237は、表面をスキャン(走査)して測定することにも適しています。大型パーツの膜厚測定ができ、また多数の小型パーツの自動測定もできます。

XDLMは、マイクロフォーカスチューブを搭載しており、特に小さなサンプルの測定に適したデバイスです。エレクトロニクス産業などにおける直径0.1mmの測定スポットにも対応できます。

特長

 

  • エネルギー分散型蛍光X線スペクトロメーターによる、素材分析およびISO 3497とASTM B 568に準拠した膜厚測定 
  • XDLMの最小測定スポット: 約0.1 mm; XDLの最小測定スポット: 約0.2 mm
  • X線源:タングステンX線チューブ、またはタングステンマイクロフォーカスチューブ(XDLM)
  • X線検出器:比例計数管
  • 固定または切替式コリメーター
  • 固定または自動切替式一次フィルター
  • 手動またはプログラム可能なXYステージ
  • 大きなプリント配線板など向けのスリットの入ったハウジング
  • 測定位置の簡単調整のためのビデオカメラ
  • 完全保護された認定されたデバイス

アプリケーション

  • 鉄上の亜鉛のようなメッキ皮膜の測定
  • 大量生産部品の連続測定
  • A4のモリブデンの検出など、特別なスチールの分析
  • Cr/Ni/Cu/ABSなどの装飾クロムコーティング
  • プリント配線板上の機能性コーティングの測定、Au/Ni/Cu/PCBやSn/Cu/PCB
  • 電子産業におけるコネクターや接点の皮膜測定、Au/Ni/CuやSn/Ni/Cuなど

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