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リードフレームの皮膜(金、パラジウム、ニッケルなど)は、産業界における高度な要求に応えるために、一層薄膜形成(数ナノメートル)になっています。そこでフィッシャーでは、この高度なアプリケーションの測定のために、高精度な蛍光X線測定器を開発しました。フィッシャーの蛍光X線測定器は、膜厚測定と組成分析を同時にそくていすることができ、短い時間で測定結果を得ることができます。

 

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