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幅広い測定アプリケーションに対応

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®測定器は、シンプルな形状のサンプルの測定に適しています。なお、XANシリーズに搭載される半導体検出器により高度な測定もできます。蛍光X線式測定器では、膜厚測定だけでなく組成分析も行うことができます。

 

5つのモデルから構成されたXANシリーズは、幅広いアプリケーションをカバーします。XAN 215は、シリコンPIN検出器を搭載。鉄上の亜鉛やAu/Ni/Cuなどのシンプルな皮膜構成のタスクに最適です。より複雑な測定アプリケーションには、 シリコン・ドリフト検出器を搭載したXAN 220をおすすめします。さらに、金とプラチナの分析に高分解能で信頼性の高い測定結果を求める場合や重金属や有害物質の検出などには、 XAN 250をおすすめします。

特長

  • DIN ISO 3497およびASTM B 568に準拠した蛍光X線式測定器により、膜厚測定と組成分析、RoHSスクリーニングができます。
  • 高品質な半導体検出器(PINおよびSDD)は、優れた検出精度と分解能。
  • XAN 250および252:アルミニウムなどの軽元素の測定
  • コリメーター: 固定または4種類切替式、最小測定スポット約0.3mm
  • 一次フィルター: 固定または6種類切替式
  • 固定式測定ステージまたは手動式XY測定ステージ
  • 測定位置の簡単調整のためのビデオカメラ
  • 測定サンプルの高さ最大17cmまで対応

アプリケーション

  • 歯科金属(銀)を非破壊式で分析
  • 多層膜コーティング
  • 電子産業や半導体産業における厚さ10nmの機能膜分析
  • 玩具に鉛が入っていないかのトレース検査
  • ジュエリーや精錬所などにおける高精度な金属組成の分析

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