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Analisi a fluorescenza da raggi X per esigenze specifiche

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® è il miglior strumento di misura a fluorescenza da raggi X della XDL; serie . Come gli altri prodotti della serie, esegue misurazioni dall'alto verso il basso rendendo semplice e conveniente il test su campioni dalle sagome particolari. Per ottimizzare le tue specifiche condizioni di misurazione, FISCHERSCOPE X-RAY XDAL; viene fornito con collimatori e filtri intercambiabili di serie.

In caso di attività di misura impegnative scegliere il tipo di rivelatore più idoneo è fondamentale! A tale scopo FISCHERSCOPE X-RAY XDAL offre 3 diversi rivelatori a semiconduttore.

Il Si-PIN è un rilevatore di fascia media e adatto per misurare più elementi su un'area di misura relativamente ampia. Se dotato di Si-PIN, XDAL viene spesso utilizzato per ispezionare rivestimenti di materiali duri.

Il rivelatore Silicon Drift Detector (SDD) di alta qualità offre una migliore risoluzione energetica rispetto al Si-PIN. Gli spettrometri XDAL equipaggiati in questo modo vengono utilizzati per risolvere compiti di misura complessi nel settore elettronico: ad esempio per la misura di strati sottili di lega o per l'analisi di materiali con elementi molto simili come l'oro e il platino. Si tratta dello strumento XRF più adatto per il controllo di qualità con applicazioni ENIG ed ENEPIG.

Per misurazioni particolarmente difficili, Fischer offre anche un SDD con superficie del rivelatore extra-large. Il punto di forza di questo rivelatore sta nella sua capacità di misurare in modo affidabile strati fino a un intervallo di pochi nanometri e di effettuare analisi di tracce nell'intervallo al millimetro. Con questi strumenti XDAL puoi testare il contenuto di piombo per evitare baffi di stagno nelle saldature per le applicazioni ad alta affidabilità.

Caratteristiche

  • Spettrometro a fluorescenza da raggi X universale per misure automatizzate su strati; 0,0 5μm e per analisi dei materiali nella gamma di ppm secondo gli standard DIN ISO 3497 e ASTM B 568
  • 3 diverse opzioni di rivelatore (Diodo Si -PIN; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
  • 3 filtri primari intercambiabili
  • 4x collimatori intercambiabili
  • punto di misura più piccolo ca. 0,15 mm
  • Altezze del campione fino a 14 cm
  • Stadio XY programmabile con precisione di posizionamento di 10 µm
  • Custodia scanalata per la misura su grandi circuiti stampati </ li >
  • Dispositivo per la protezione completa certificato;

Applicazioni

  • Analisi dei materiali di rivestimenti e leghe (anche rivestimenti sottili e basse concentrazioni)
  • Industria elettronica, ENIG, ENEPIG
  • Connettori e contatti
  • Industria dell'oro, della gioielleria e dell'orologeria
  • Misurazione di rivestimenti sottili (pochi nanometri) di oro e palladio nella produzione di PCB
  • Analisi di oligoelementi
  • Determinazione del piombo ( Pb) per applicazioni ad alta affidabilità (assenza di baffi di stagno)
  • Analisi dei rivestimenti nei materiali duri

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