Fischer FAQ
Ci sono domande?
C'è molto da dire e sicuramente avrete anche delle domande. Ecco le più comuni. Se avete bisogno di altre risposte, contattateci. Saremo lieti di aiutarvi.
Nella nostra mediateca troverete anche molti tutorial interessanti e informazioni utili.
FAQ Parametri importanti
Valore medio
Il modo più semplice per calcolare un valore medio è sommare tutti i valori e dividere la somma per il numero di valori. Questo metodo è chiamato media aritmetica. Esistono altri modi per calcolare la media, ma vengono utilizzati raramente.
Gamma
L'intervallo R indica la distanza tra il valore misurato più piccolo e quello più grande. Per calcolare l'intervallo, il valore misurato più basso viene sottratto da quello più grande. L'intervallo può essere fortemente distorto dagli outlier ed è quindi utile solo se i valori misurati sono pochi. Per grandi quantità di dati, la deviazione standard è più significativa.
Deviazione standard
La deviazione standard σ indica la dispersione dei valori misurati intorno al valore medio. Una deviazione standard elevata indica che i valori misurati differiscono notevolmente l'uno dall'altro. Se i valori sono tutti vicini alla media, la deviazione standard è piccola. L'efficacia della media e della deviazione standard nel descrivere la realtà dipende, tra l'altro, dal numero di valori misurati. Più sono i punti di misurazione, più i rapporti diventano significativi.
Coefficiente di variazione
L'entità della deviazione standard dipende non solo dalla dispersione dei valori misurati, ma anche dalla loro entità: un valore medio più elevato comporta automaticamente una deviazione standard più elevata. Per ovviare a questo problema, la deviazione standard relativa, il coefficiente di variazione V, viene spesso espresso in percentuale. In questo caso, la deviazione standard viene divisa per la media aritmetica. Come per la deviazione standard, anche in questo caso valori elevati indicano un'elevata dispersione dei valori misurati.
FAQ XRF
Che cos'è il metodo XRF (fluorescenza a raggi X)?
L'analisi di fluorescenza a raggi X a dispersione energetica (XRF) è un metodo di misura non distruttivo che può essere utilizzato per determinare le composizioni elementari e gli spessori degli strati. Questo metodo sfrutta l'emissione di raggi X caratteristici da parte degli atomi che sono stati ionizzati dalla radiazione primaria incidente. Utilizzando un algoritmo adeguato, è possibile trarre conclusioni sulle distribuzioni quantitative e qualitative degli elementi nel campione esaminato.
Cosa si può misurare con il metodo XRF?
Idispositivi di misurazione XRF sono utilizzati per la determinazione non distruttiva dello spessore del rivestimentoe per l'analisi dei materiali. In linea di principio, con l'analisi XRF si possono misurare elementi che vanno dal sodio (11) all'uranio (92). Gli spessori di rivestimento da misurare vanno da pochi nm a circa 100 µm. Tuttavia, gli spessori degli strati che possono essere misurati in pratica dipendono fortemente dal sistema di stratificazione in esame e, soprattutto nel caso di elementi leggeri, dalle condizioni ambientali. È qui che la fisica del metodo di misura pone dei limiti. Nell'analisi elementare si possono misurare concentrazioni nell'ordine del mille. Anche in questo caso, la matrice dell'elemento e altri fattori di influenza giocano un ruolo importante nella pratica.

Quanto è grande il punto di misura per le misure XRF?
Il punto di misura sul campione è definito dalla dimensione del collimatore e dalla distanza di misura utilizzata o, nel caso di ottiche policapillari, dalla dimensione del punto a fuoco. I valori tipici per i collimatori sono compresi tra 30 µm e 3 mm e per i dispositivi con ottica policapillare tra 10 e 20 μm.
Che cos'è un tubo a raggi X?
Il tubo a raggi X genera la radiazione primaria, che ionizza gli atomi del campione da esaminare e fornisce quindi il prerequisito di base per l'analisi XRF e per la generazione della radiazione di fluorescenza caratteristica nel campione. La radiazione primaria a raggi X è uno spettro continuo che consiste principalmente in un fondo di bremsstrahlung e nella radiazione a raggi X caratteristica del materiale anodico utilizzato nel tubo a raggi X (in breve: spettro di eccitazione). La forma esatta dello spettro di eccitazione è ulteriormente definita dalla tensione e dalla corrente del tubo utilizzate, nonché dalla dimensione dello spot sull'anodo.
Che cos'è un otturatore?
L'otturatore è un componente di sicurezza dei nostri dispositivi XRF e definisce l'esatto tempo di misurazione aprendosi durante la misurazione. In caso contrario, l'otturatore rimane chiuso e blocca la radiazione radiografica primaria. I finecorsa assicurano inoltre che il coperchio del dispositivo sia chiuso e che un operatore non possa entrare nel fascio primario in qualsiasi momento della misurazione.
Qual è lo scopo di un filtro primario?
Il filtro primario viene utilizzato per modificare la radiazione primaria. A seconda del filtro, è possibile modificare le condizioni di eccitazione per le attività di misura.
Che cos'è un collimatore o un'apertura?
Il collimatore limita la sezione trasversale del fascio primario nei nostri dispositivi di misura XRF, garantendo l'eccitazione di un punto di misura di dimensioni definite sul campione. Se la geometria del campione richiede un punto di misura relativamente piccolo, i nostri dispositivi XRF offrono una scelta di collimatori diversi. Per gli spot di misura di dimensioni estremamente ridotte a causa della geometria del campione, vengono utilizzate le cosiddette ottiche policapillari al posto dei collimatori realizzati meccanicamente. In questo modo è possibile focalizzare una quantità relativamente elevata di radiazione di eccitazione primaria in un punto di misura dell'ordine di 10-20 µm, a seconda dell'ottica policapillare utilizzata. Di conseguenza, il tempo di misura è notevolmente ridotto.
Cosa sono le ottiche policapillari?
Le ottiche policapillari sono costituite da migliaia di sottili capillari di vetro che sfruttano l'effetto della riflessione esterna totale per focalizzare i raggi X in uno spot di pochi µm. Le ottiche policapillari sviluppate e prodotte internamente consentono di ottenere spot di misura particolarmente piccoli di 10 o 20 μm (FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ) o 60 μm (ottiche policapillari a lunga distanza nel FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD). L'effetto microfocus delle ottiche policapillari aumenta il fascio di raggi X fino a 10.000 volte rispetto alle ottiche a collimatore. I nostri dispositivi di misura con lenti policapillari sono quindi in grado di misurare le strutture più piccole con tempi di misura ridotti.
* Dimensione dello spot: Larghezza completa a metà del massimo (FWHM) per Mo-Kα
Quali detector sono installati nei dispositivi FISCHER XRF?
- Tubo contatore proporzionale: Grazie al suo angolo solido di rilevamento relativamente ampio, questo detector è ideale per compiti di misurazione semplici, come la misurazione dello spessore di componenti con geometrie complesse che richiedono una grande distanza di misurazione, o per strati relativamente sottili con un piccolo punto di misurazione.
- Diodo PIN al silicio (PIN): Rispetto al contatore proporzionale, questo detector di fascia media ha una risoluzione energetica molto migliore, motivo per cui viene utilizzato principalmente per la misurazione di sistemi multistrato con spessori talvolta molto sottili o per l'analisi dei materiali.
- Rivelatore di deriva del silicio (SDD): I punti di forza di questo moderno detector a semiconduttore sono la risoluzione energetica superiore e l'angolo solido di rilevamento più ampio rispetto al diodo PIN. Ciò lo rende ideale per l'analisi di tracce o per la misurazione di elementi leggeri e rivestimenti molto sottili fino alla gamma dei nm.
Il detector assorbe la radiazione (fluorescenza dei raggi X) dal campione, così come lo spettro diffuso che lo raggiunge, e lo misura in modo dispersivo dal punto di vista energetico. Ciò significa che, durante il tempo di misurazione, assegna un'energia specifica a ciascun fotone incidente e fornisce quindi uno spettro di fluorescenza sotto forma di intensità rispetto all'energia. Questo spettro costituisce la base per la successiva analisi dello spessore dello strato e/o del materiale. Nei nostri dispositivi XRF è installato uno dei seguenti tre tipi di detector. Si differenziano per la modalità di funzionamento e per il campo di applicazione principale:
Quali vantaggi offre il processore digitale di impulsi (DPP)?
Questo componente ad alta tecnologia è stato sviluppato da FISCHER. Il processore digitale di impulsi (DPP) converte i segnali analogici in segnali digitali. La chiave della qualità di un DPP è la sua capacità di elaborare il maggior numero di eventi nel minor tempo possibile, senza perdite o fusione di più eventi in uno solo.
Il DPP+ di FISCHER è in grado di elaborare fino a 500.000 impulsi al secondo, contribuendo così in modo significativo all'ottimizzazione dei tempi di misura, pur mantenendo i tempi di misura più brevi possibili.

Quanto sono accurati i risultati delle misurazioni XRF?
L'accuratezza si riferisce alla deviazione stimata tra il risultato della misurazione e il valore "vero" del campione.
Tuttavia, è importante distinguere tra errore casuale, che influisce sulla precisione, ed errore sistematico, che influisce sull'accuratezza. La precisione è influenzata da fattori quali la qualità dello spettrometro, la distanza di misurazione, il tempo di misurazione, nonché le influenze dell'operatore e le condizioni ambientali. L'accuratezza, invece, è influenzata principalmente da assunzioni errate nella calibrazione, come le incertezze negli standard utilizzati o la composizione errata del campione.
Quali fattori influenzano la ripetibilità delle misure XRF?
- Qualità dello spettrometro
- Distanza di misurazione
- Collimatore / Punto di misura
- Spessore dello strato
- Condizioni di eccitazione
- Tempo di misura
La ripetibilità è la dispersione dei valori di misura ottenuti da un campione quando viene misurato con un dispositivo in condizioni identiche. Una misurazione in condizioni ideali significa che il campione rimane invariato tra più misurazioni e non viene spostato. I fattori che influenzano la ripetibilità sono, tra gli altri
Quali fattori influenzano la riproducibilità delle misure XRF?
- posizionamento (piano inclinato, parti cilindriche, ombreggiatura)
- Messa a fuoco del campione
- Influenza dell'operatore
- Proprietà del campione
- Spessore del materiale di base
- Altro sfondo (ad esempio, PCB dovuto alla radiazione diffusa)
- Composizione del materiale di base e del rivestimento
- Ruvidità
- Condizioni ambientali
La riproducibilità è la dispersione dei valori misurati ottenuti da un campione quando viene misurato con un dispositivo in condizioni variabili. Per condizioni variabili si intende la misurazione in più posizioni e/o da parte di persone diverse e/o in condizioni ambientali diverse. I fattori che influiscono sono, tra gli altri
Quali fattori influenzano l'accuratezza delle misure XRF?
- Tracciabilità
- Incertezza dello standard
- Incertezza nella misurazione dello standard
- Errori nella correzione del materiale di base
- Densità e composizione dello strato
- Differenza tra campione e standard di calibrazione
Quali fattori influenzano l'accuratezza delle misure XRF?
L'accuratezza è il valore stimato della deviazione tra il risultato della misurazione e il valore corretto (sconosciuto). I fattori che influiscono sono:
FAQ XRF - Software e funzionamento
Dove posso scaricare l'ultima versione del software per il mio strumento XRF?
Questo viene sempre fornito con i nostri dispositivi XRF. Per ulteriori domande, contattate il vostro rappresentante.
Cosa significa la maschera "Esportazione dati"?
La definizione della maschera di esportazione può essere utilizzata per determinare quali parametri devono essere esportati.
Andare a "Valutazione ► Esportazione ► Impostazioni di esportazione" nel menu del software WinFTM® e definire quali dati devono essere esportati e in quale formato.
È possibile specificare se i file devono essere esportati online, scritti in un foglio Excel o inoltrati tramite uscita S232 o TCP-IP. È inoltre possibile (pre)definire una o più maschere di esportazione e scegliere tra ulteriori opzioni.Cosa viene misurato quando il dispositivo XRF richiede "Scatt"?
Nel software WinFTM®, "Scatt" si riferisce a un campione di dispersione costituito da copolimero acrilonitrile-butadiene-stirene (o ABS). Questo campione e lo spettro di dispersione corrispondente sono calibrati in fabbrica.
Tuttavia, se dovesse essere necessario misurare nuovamente lo spettro di scattering, è possibile caricarlo nel software tramite la voce di menu “General → Load and evaluate”.
Perché non è possibile creare nuovi compiti di misura?
La creazione di nuovi compiti di misura richiede una licenza software specifica, nota come "super software". Se non avete acquistato questa licenza, potete acquistarla separatamente o chiedere ai nostri colleghi esperti del reparto application di eseguire questa operazione per voi.
Il dispositivo XRF stampa tutti i valori misurati senza che venga richiesto.
L'opzione File "Stampa valori individuali" è stata probabilmente attivata nel menu del software WinFTM® . In questo caso, ogni singolo valore viene inviato al buffer della stampante e, quando una pagina è piena, viene stampato automaticamente. Disattivare l'opzione "Stampa valori individuali" e cancellare il buffer della stampante.
I valori di misura sono stati cancellati accidentalmente. Posso ripristinarli?
Se sono stati cancellati singoli valori all'interno di un blocco, nell'elenco dei valori misurati compare un trattino. Andare a "Valutazione ► Ripristino del valore misurato" nel menu del software WinFTM® per rendere nuovamente visibili i singoli valori misurati di un blocco. Tuttavia, se sono stati cancellati interi blocchi o articoli, i dati non possono essere recuperati.
Quali sono le caratteristiche del software che rendono unica la misurazione con i dispositivi FISCHER?
Il nostro software WinFTM® è il più potente sul mercato per la misurazione dello spessore del rivestimento e l'analisi del materiale mediante l'analisi della fluorescenza a raggi X. Valuta e gestisce in modo efficiente i dati di misura e consente di effettuare misurazioni accurate e prive di standard.
FAQ XRF - Applicazione
Per quali settori industriali è adatto l'XRF?
- Elettronica e semiconduttori
- Galvanotecnica
- Automotive
- Oro, analisi dei metalli preziosi e gioielli
- Pitture e vernici
- Tecnologia di fissaggio
- Ferro e acciaio
- Casalinghi e ferramenta
- Aerospaziale
- Edilizia e infrastrutture
- E molto altro ancora
L'analisi XRF è utilizzata in un'ampia varietà di settori industriali. Indipendentemente dal settore in cui vi trovate - conosciamo le vostre esigenze e le vostre sfide, e quindi troveremo la soluzione di misura giusta e su misura per la vostra applicazione. Settori in cui siamo affidabili, tra gli altri:
Per saperne di più sui nostri settori.
Quali vantaggi offre l'XRF rispetto ad altri metodi di misurazione?
- Non distruttiva: il campione non viene danneggiato dalla fluorescenza a raggi X, il che la rende ideale per le ispezioni in entrata e in uscita o durante il processo di produzione.
- Preparazione minima del campione: nella maggior parte dei casi, non è necessaria alcuna preparazione del campione per la misurazione mediante analisi a fluorescenza a raggi X.
- Tempi di misura ridotti: la maggior parte delle applicazioni può essere misurata in pochi secondi.
- Analisi multi-elemento: è possibile determinare simultaneamente diversi elementi e spessori di strati in un'unica misura.
- Ampia gamma di applicazioni: L'analisi a fluorescenza a raggi X può misurare concentrazioni di elementi nell'ordine del mille o livelli di purezza fino al 100 %, nonché spessori di strati che vanno da pochi nm a diversi 10 µm.
Perché scegliere uno strumento XRF di FISCHER?
- FISCHER = leader di mercato nel campo della misurazione dello spessore dei rivestimenti
- Ampia gamma di prodotti XRF, dai dispositivi portatili ai sistemi da banco, fino ai sistemi high-end completamente integrati.
- Made in Germany, massima qualità di produzione
- Precisione di misura e affidabilità senza pari
- Molte configurazioni individuali per soddisfare le vostre esigenze: Rivelatori, tubi a raggi X e ottiche diverse (collimatori e ottiche policapillari), direzione di misura, configurazioni del tavolo e altro ancora.
- Analisi di elementi fino a 24 elementi contemporaneamente
- Standard certificati e personalizzati
- Potente software per la misurazione dello spessore del rivestimento e l'analisi dei materiali (WinFTM®, FISIQ® X)
- Servizio clienti di prima classe e consulenza applicativa con decenni di esperienza
I motivi sono molteplici, verificateli voi stessi:
Dove posso trovare informazioni rilevanti sul prodotto per il mio dispositivo FISCHER XRF?
Al momento dell'acquisto del dispositivo di misurazione FISCHER, riceverete tutte le ulteriori informazioni comodamente tramite un codice QR.
FAQ Tactile
Quali sono i fattori che incidono sulla precisione di misura dei misuratori di spessore per rivestimenti Fischer?
L'accuratezza di misura dei misuratori di spessore del rivestimento dipende da fattori quali lo spessore del rivestimento, le condizioni della superficie, la sonda utilizzata, ecc. Le informazioni sull'accuratezza e la ripetibilità in condizioni ideali sono riportate nelle schede tecniche delle sonde.
Metodo a correnti parassite sensibili alla fase: Quali combinazioni di strati e materiali di base è possibile misurare?
Esistono diverse opzioni di misura: Ad esempio, posso utilizzare il metodo delle correnti parassite sensibili alla fase per misurare metalli non magnetizzabili su metalli magnetizzabili. Un esempio è lo zinco sul ferro. Ma è possibile anche misurare metallo non magnetizzabile su plastica elettricamente non conduttiva, come ad esempio rame su Iso. Un altro esempio di misurazione è il nichel su rame (metallo magnetizzabile su metallo non magnetizzabile).
Metodo a correnti parassite sensibili all'ampiezza: Quali combinazioni di strati e materiali di base è possibile misurare?
Il metodo delle correnti parassite sensibili all'ampiezza viene utilizzato per misurare rivestimenti elettricamente non conduttivi su materiali di base elettricamente conduttivi e non magnetizzabili, come l'anodizzazione o la vernice su alluminio, la vernice su rame o la ceramica su titanio.
Metodo dell'induzione magnetica: Quali combinazioni di strati e materiali di base è possibile misurare?
Con il metodo dell'induzione magnetica, si misurano rivestimenti non magnetici su materiali di base facilmente magnetizzabili, come zinco su ferro o vernice su ferro.
Cosa devo considerare quando misuro gli strati di nichel con sonde a correnti parassite sensibili alla fase e con sonde magnetiche induttive?
In ogni caso, deve essere calibrato con pezzi nichelati reali e il loro spessore di rivestimento noto. Il magnetismo dei rivestimenti di nichel può variare notevolmente, quindi può essere molto diverso sui pezzi da misurare rispetto ai pezzi di calibrazione. Questo può portare a errori di misura, che possono costituire un problema, soprattutto per l'ispezione delle merci in entrata.
Lo strumento di misura o il programma Fischer visualizzano un messaggio di errore sconosciuto. Come posso procedere?
Per prima cosa, verificare se l'errore e la sua correzione sono descritti nelle istruzioni per l'uso. In caso contrario, vi preghiamo di inviarci il numero di serie, la designazione esatta dello strumento di misura, la sonda di misura, il numero di versione del programma Fischer, il numero di errore (codice di errore), la formulazione esatta del messaggio di errore e le circostanze che hanno portato all'errore. Qui troverete le persone da contattare.
Quale metodo utilizza il SIGMASCOPE® per misurare la conducibilità elettrica specifica?
Con il metodo delle correnti parassite sensibili alla fase ( vedi progetto di norma DIN 50994 e norma DIN EN 2004-1).
Cosa significa l'unità di misura MS/m per SIGMASCOPE®?
MS/m significa Mega-Siemens per m, che corrisponde a 1.000.000 di Siemens/m. Questa unità è il reciproco (inverso) dell'unità di misura della resistività elettrica specifica Ohm x mm²/m. 1 Siemens corrisponde quindi a 1/Ohm.
Cosa significa l'unità di misura %IACS per SIGMASCOPE®?
IACS significa "International Annealed Copper Standard". Questa unità di misura è spesso utilizzata nei paesi anglo-americani. Vale quanto segue: La conducibilità elettrica specifica del 100 % IACS corrisponde a 58 MS/m. Grazie a questa relazione, qualsiasi valore di conducibilità elettrica può essere convertito da un'unità di misura all'altra.
Perché devo prestare attenzione alla temperatura degli oggetti da misurare quando misuro la conduttività elettrica con il SIGMASCOPE®?
- Lo strumento deve essere calibrato alla stessa temperatura presente durante la misurazione.
- Oppure la temperatura dell'oggetto da misurare deve essere registrata con un sensore di temperatura (interno/esterno) durante la misurazione e la calibrazione.
La conducibilità elettrica specifica dipende direttamente dalla temperatura. Più alta è la temperatura, più bassa è la conducibilità. Per garantire che i valori misurati siano comparabili, la conducibilità viene sempre specificata con riferimento a 20°C. Per questo motivo, anche gli standard di conducibilità Fischer forniscono valori per 20°C.
Affinché il SIGMASCOPE® sia in grado di convertire un valore misurato della conducibilità fisicamente reale in 20°C, devono essere soddisfatte le seguenti condizioni:
Se queste condizioni non sono soddisfatte, possono verificarsi errori di misura sistematici.
Quali sonde possono essere utilizzate per misurare gli spessori dei sistemi di rivestimento duplex "vernice su zinco a caldo su acciaio" nella protezione dalla corrosione pesante?
Con le sonde di misura duplex FDX10 e FDX13H. Queste sonde richiedono uno spessore minimo del rivestimento di zinco a caldo di 70 µm per poter misurare correttamente.
Quali sonde possono essere utilizzate per misurare lo spessore del rivestimento per il sistema di rivestimento duplex "vernice su acciaio debolmente zincato"?
Per gli strati di zinco sottili, si utilizzano le sonde ESG2 e ESG20. Queste sonde possono essere applicate solo se non c'è uno strato di diffusione tra lo zinco e l'acciaio. Questo è solitamente il caso della galvanotecnica e dei rivestimenti di zinco a caldo molto sottili (come nel settore automobilistico). I rivestimenti di zinco a caldo per la protezione dalla corrosione pesante, che spesso superano i 70 µm di spessore, di solito formano uno strato di diffusione distinto tra acciaio e zinco. In questi casi, le sonde ESG2 e ESG20 non possono essere utilizzate.
Quali combinazioni strato-materiale di base possono essere misurate con il metodo coulometrico?
Strati metallici elettricamente conduttivi su metalli, plastiche o ceramiche. Per saperne di più
Quali sono i requisiti per la misurazione coulometrica?
Devono essere soddisfatte le seguenti condizioni: una superficie di rivestimento pulita, un buon contatto della pinza di supporto con l'oggetto da misurare. Inoltre, è necessario selezionare una velocità di distacco corrispondente allo spessore del rivestimento. Inoltre, è necessario utilizzare l'elettrolita appropriato. Per saperne di più
Quali sono i fattori che influiscono sull'accuratezza del metodo di misurazione coulometrico?
I fattori sono: spessore del rivestimento, condizioni della superficie, tenuta della cella di misura utilizzata, velocità di distacco e purezza del rivestimento.
Cosa devo fare per trasferire i dati sul mio computer?
Collegare il cavo di trasferimento al computer e al dispositivo di misura. Installare il software del driver appropriato sul computer. Selezionare l'interfaccia corretta a cui è collegato lo strumento nel programma di valutazione in uso. Per separare i gruppi di valori misurati, impostare un separatore di gruppi nel dispositivo di misura.
Perché la mia trasmissione dati non funziona?
Il motivo potrebbe essere: È stato caricato il driver corretto con i diritti di amministratore? È stata selezionata l'interfaccia corretta nel software del computer (vedere inoltre Gestione periferiche)?
Dove posso scaricare l'ultima versione del software per il mio dispositivo portatile?
Per i nostri strumenti portatili potete trovare l'ultima versione del nostro software nella mediateca.
Dove posso trovare informazioni rilevanti sul prodotto per il mio dispositivo portatile FISCHER?
Al momento dell'acquisto del dispositivo di misurazione FISCHER, riceverete tutte le ulteriori informazioni comodamente tramite un codice QR.
FAQ Metodi di misurazione
Metodo XRF / analisi di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (XRF)
L'analisi di fluorescenza a raggi X a dispersione energetica (XRF) è un metodo di misura non distruttivo che può essere utilizzato per determinare le composizioni elementari e gli spessori degli strati. Quando un materiale viene eccitato con raggi X, gli atomi emettono un segnale di fluorescenza caratteristico. Lo spettro della radiazione emessa consente di trarre conclusioni sulla natura del campione. Lo spettro di fluorescenza può essere utilizzato per determinare la distribuzione quantitativa e qualitativa degli elementi e i corrispondenti spessori degli strati di un campione.
Metodo di misura magnetico
Il metodo magnetico utilizza l'effetto Hall per determinare lo spessore degli strati di rivestimenti magnetici su materiali non magnetici (e viceversa) misurando la variazione della tensione di Hall.
Metodo delle correnti parassite sensibili all'ampiezza
Il metodo a correnti parassite sensibili all'ampiezza misura lo spessore dello strato su metalli non ferrosi elettricamente conduttivi ma non magnetici rilevando l'attenuazione di un campo magnetico alternato generato da una bobina a causa delle correnti parassite indotte nel metallo.
Metodo a correnti parassite sensibili alla fase
Il metodo delle correnti parassite sensibili alla fase misura lo spessore dei rivestimenti elettricamente conduttivi su vari substrati rilevando l'angolo di fase della variazione di impedenza generata dalle correnti parassite e utilizzandola per calcolare lo spessore del rivestimento.
Rivestimenti duplex
Per la misurazione di rivestimenti duplex, ad esempio nell'ingegneria automobilistica, i metodi magnetico-induttivi e a correnti parassite sensibili alla fase sono combinati per misurare con precisione gli strati di zinco e di vernice, indipendentemente dal loro spessore.
Metodo magnetico-induttivo
Il metodo di misurazione magnetico-induttivo sfrutta le proprietà magnetiche del materiale di base per la misurazione non distruttiva dello spessore del rivestimento, rilevando l'amplificazione di un campo magnetico alternato.
Contenuto di ferrite
Il metodo magnetico-induttivo viene utilizzato per determinare in modo non distruttivo il contenuto di ferrite nell'acciaio, misurando l'amplificazione di un campo magnetico a bassa frequenza da parte dei grani di ferrite.
Conducibilità elettrica
Il metodo della conduttività misura in modo non distruttivo la conduttività elettrica dei metalli utilizzando sonde a correnti parassite sensibili alla fase per determinare le proprietà del materiale, come la composizione e la microstruttura.
Metodo della microresistenza
Il metodo della microresistenza misura con precisione lo spessore di strati elettricamente conduttivi su substrati isolanti facendo passare la corrente attraverso lo strato con una sonda e registrando la caduta di tensione tra due aghi di misura, che dipende dallo spessore dello strato.
Metodo di retrodiffusione beta
Il metodo di retrodiffusione beta consente di misurare in modo non distruttivo lo spessore di strati organici e inorganici su un'ampia gamma di substrati utilizzando le radiazioni di atomi radioattivi.
Metodo di misura a terahertz
Il metodo di misurazione a terahertz utilizza onde terahertz a impulsi brevi che penetrano in sistemi multistrato senza contatto per misurare i tempi di transito dei segnali riflessi, determinando così con precisione gli spessori degli strati e altre proprietà dei materiali.
Metodo di misurazione coulometrico
Il metodo di misurazione coulometrico dissolve gli strati metallici e calcola lo spessore nel tempo richiesto in base alla legge di Faraday. È adatto per molti strati metallici su qualsiasi materiale di base ed è un'alternativa economica alla fluorescenza a raggi X, soprattutto per i sistemi multistrato.
FAQ Calibrazione dei dispositivi Tactile
Quali valori statistici caratteristici devono essere utilizzati come minimo quando si utilizzano valori misurati?
Per il confronto dei valori misurati, si devono utilizzare almeno i seguenti valori caratteristici: Media aritmetica, deviazione standard e numero di singoli valori misurati. Senza la corrispondente deviazione standard e il numero di valori misurati, i valori medi non possono essere confrontati in modo significativo e serio tra loro.
Perché devo calibrare il mio strumento di misura?
Secondo la norma DIN EN ISO 9001, le apparecchiature di misura devono essere calibrate se è richiesta la tracciabilità. Ogni metodo di misurazione fisica è influenzato dalle proprietà del rivestimento e del materiale di base. Esempi di queste proprietà sono: la geometria del pezzo, la conducibilità elettrica, il magnetismo, la densità del rivestimento o anche la superficie di misura. Pertanto, ogni volta che le proprietà dello strato o del materiale di base cambiano, è molto probabile che sia necessario ricalibrare l'apparecchiatura di misura.
Ho calibrato il mio strumento di misura magnetico induttivo o a correnti parassite su una lastra piana e ora voglio misurare su un pezzo tornito con un diametro ridotto, ad esempio. È possibile farlo senza un'altra calibrazione regolata?
No. La calibrazione sulla lastra piatta crea un errore di misurazione sistematico sulla superficie curva. Di conseguenza, i valori misurati saranno troppo alti. Questo perché il dispositivo di misura valuta i segnali provenienti dall'oggetto curvo come se provenissero da un pezzo piatto. Pertanto, è necessario eseguire calibrazioni regolari quando la forma o la geometria dei pezzi o della superficie di misura cambia.
Due persone arrivano a risultati di misurazione diversi. Quale potrebbe essere la ragione e cosa si può fare?
Le possibili cause possono essere l'utilizzo di due dispositivi di misura con calibrazioni (curve caratteristiche) diverse o l'esecuzione di misure con lo stesso dispositivo di misura ma su superfici di misura diverse. La correttezza dei valori di misura ottenuti con i dispositivi di misura è sempre garantita dagli standard di calibrazione. Nel caso dei dispositivi di misura a induzione magnetica e a correnti parassite, la calibrazione deve essere eseguita sulla superficie di misura degli oggetti reali non rivestiti da misurare, sui quali deve essere misurato anche lo spessore del rivestimento per le parti rivestite. Inoltre, è necessario assicurarsi che le misurazioni vengano effettuate nello stesso punto o sulla stessa superficie di misurazione e che venga registrato un numero sufficiente di valori di misura per ottenere un valore medio significativo e una deviazione standard significativa. Solo in questo modo si possono ottenere risultati di misura comparabili.
Come si controlla la calibrazione degli spessimetri per rivestimenti?
Si misura una lamina di calibrazione sul pezzo non rivestito con diversi valori misurati (di solito da 5 a 10) e questo nel punto in cui le misure saranno effettuate successivamente. Le piastre di calibrazione con base Fischer non sono utili per questa calibrazione. Successivamente, l'utente deve decidere quali deviazioni dal setpoint del film e dal valore medio misurato ammettere, in modo che il dispositivo di misura sia ancora considerato sufficientemente ben calibrato. La valutazione della calibrazione di un dispositivo di misura nel contesto della statistica e in relazione all'incertezza dello spessore del film misurato è fornita, ad esempio, dalle norme DIN EN ISO 2178: 2016 "Rivestimenti non magnetici su metalli di base magnetici - Misurazione dello spessore del film - Metodo magnetico" (Capitolo 8) e DIN EN ISO 2360:2017 "Rivestimenti non conduttivi su materiali di base metallici non magnetici - Misurazione dello spessore del film - Metodo a correnti indotte" (Capitolo 8).
Di cosa bisogna tenere conto quando si calibrano le sonde duplex FDX10 e FDX13H?
Queste sonde duplex hanno due canali di misura. Il canale magnetico induttivo misura lo spessore totale del rivestimento di vernice e zinco. Il canale a correnti parassite sensibile all'ampiezza misura lo spessore dello strato di vernice sullo zinco. Per la calibrazione, sono necessari un pezzo di acciaio completamente non rivestito corrispondente al pezzo originale e un pezzo zincato con almeno 70 µm di zinco. Il canale magnetico induttivo delle sonde viene calibrato sulla parte in acciaio non rivestita. Le lamine di calibrazione utilizzate devono coprire l'intervallo di spessore totale del rivestimento previsto (vernice e zinco). La parte zincata viene utilizzata per calibrare il canale a correnti parassite sensibile all'ampiezza. Le lamine di calibrazione utilizzate devono inquadrare l'intervallo di spessore dello strato di vernice previsto.
Cosa si deve considerare quando si calibrano le sonde duplex ESG2 e ESG20?
Queste sonde duplex hanno due canali di misura. Il canale magnetico induttivo misura lo spessore totale del rivestimento di vernice e zinco. Il canale a correnti parassite, sensibile alla fase, misura lo spessore del rivestimento di zinco sotto la vernice. Per la calibrazione, sono necessari un pezzo di acciaio completamente non rivestito corrispondente al pezzo originale e un pezzo zincato con un tipico rivestimento di zinco. Il canale induttivo magnetico delle sonde viene calibrato sulla parte in acciaio non rivestita. Le lamine di calibrazione utilizzate devono coprire l'intervallo di spessore totale previsto per il rivestimento (vernice e zinco). Sulla parte zincata, viene calibrato il canale eddy current sensibile alla fase delle sonde. In questo caso non si devono usare fogli di calibrazione, poiché lo strato di zinco stesso è lo strato di calibrazione. In questa fase della calibrazione è necessario misurare solo la parte zincata. Non è necessario misurare lo spessore dello strato di zinco come spessore di riferimento prima della calibrazione. Il valore di riferimento della calibrazione dello strato di zinco è fornito dal canale magnetico induttivo calibrato nella prima fase.
La densità del rivestimento ha un ruolo nella calibrazione?
Sì, è così. Ad esempio, se lo strumento di misura è stato calibrato con un pezzo il cui rivestimento ha una densità di 2 g/cm³, e ora le misure devono essere effettuate su un pezzo con una densità di 1 g/cm³, ad esempio, si verificheranno errori di misura sistematici. I valori misurati sono quindi troppo bassi. Questo accade perché il dispositivo di misura valuta i segnali del nuovo oggetto come se anche il suo strato avesse una densità di 2 g/cm³.
FAQ Calibrazione dei dispositivi XRF
Cosa si intende per normalizzazione in un dispositivo FISCHER XRF?
Nella tecnologia di misura, la normalizzazione si riferisce all'adattamento del compito di misura alle impostazioni attuali o a nuovi materiali di base. Questa operazione deve essere eseguita quando si cambia il filtro primario, la corrente anodica, il collimatore o quando si utilizza una nuova lega di materiali di base. Ciò garantisce risultati di misura coerenti e accurati.
Il mio dispositivo FISCHER XRF mi sta dando valori non plausibili. Come posso essere sicuro che le mie misurazioni siano ancora corrette?
Il monitoraggio delle apparecchiature di misura consente di verificare il corretto funzionamento del dispositivo XRF e di valutare se i risultati delle misure riflettono realmente il campione o se la causa è un difetto del dispositivo. Nel monitoraggio delle apparecchiature di misura, un campione di riferimento specifico (standard FISCHER o pezzo di riferimento del cliente) viene misurato a intervalli regolari nelle stesse condizioni. Se la misura rientra nei limiti di tolleranza e di intervento precedentemente stabiliti in base all'applicazione, si può presumere che il dispositivo XRF sia in buone condizioni di funzionamento.
Che cos'è una misurazione di riferimento su un dispositivo FISCHER XRF?
La misura di riferimento viene utilizzata per calibrare l'asse energetico. Questa operazione può essere eseguita in modo rapido e semplice dall'operatore. La misura di riferimento è particolarmente utile per i dispositivi XRF con contatori proporzionali, per i quali si consigliano misure di riferimento a intervalli regolari. Corregge i dispositivi XRF con contatori proporzionali per le influenze della temperatura.
Come si controlla la calibrazione di un dispositivo XRF?
Gli standard di calibrazione possono essere misurati nel software WinFTM® alla voce di menu "Items ► Calibration Standards". In questo modo si garantisce che la calibrazione precedente sia corretta, che il dispositivo sia ancora in perfette condizioni o che sia necessaria una ricalibrazione.
Con quale frequenza devono essere ricertificati gli standard di calibrazione dei raggi X?
Gli intervalli di ricertificazione dipendono dall'uso e possono essere determinati dall'utente. Gli intervalli di circa 1 - 3 anni sono comuni per garantire un'elevata precisione di misura.
I fogli di calibrazione dei raggi X possono essere impilati durante il processo di calibrazione?
In linea di principio, le lamine di calibrazione Fischer possono essere impilate. Come regola generale, si possono utilizzare 2 - 3 lamine per i contatori proporzionali e 1 lamina per i dispositivi di misura con PIN o rilevatori di deriva al silicio.
La piastra degli elementi puri per i dispositivi XRF deve essere ricertificata?
No, non è necessario. La piastra di elementi puri contiene elementi puri per lo spessore di saturazione XRF, che rimangono stabili se usati con cura e possono essere utilizzati per periodi molto lunghi.
L'unica cosa da evitare sono i danni meccanici e la contaminazione.Cosa si deve fare se il dispositivo XRF chiede il "set di calibrazione del materiale di base" e l'"oggetto di misurazione del materiale di base" durante la nomina o la calibrazione?
Il software WinFTM® consente di misurare sistemi di campioni simili per composizione del materiale di base, ma con differenze significative. Questo è spesso il caso delle leghe di rame, ad esempio. In questi casi, il processo di standardizzazione o calibrazione richiederà il set di calibrazione del materiale di base e il materiale di base dell'oggetto da misurare. Il primo si riferisce al materiale di base di cui si conosce la composizione e che viene utilizzato per l'ulteriore calibrazione, mentre il secondo si riferisce al materiale di base del pezzo del cliente da misurare. È necessario prestare attenzione a non fare confusione, perché altrimenti si calibra un errore sistematico.
Qual è la differenza tra un certificato di fabbrica e un certificato ISO 17025 per gli standard di taratura?
Gli standard di calibrazione con certificazione ISO 17025 sono misurati secondo una procedura specificata dagli enti di accreditamento e presentano un'incertezza inferiore rispetto agli standard di calibrazione con certificato di fabbrica.
FAQ Standard
Cosa sono gli standard di calibrazione e perché sono importanti?
Gli standard di calibrazione sono materiali con una composizione nota e verificata, utilizzati per regolare e controllare i dispositivi XRF. Garantiscono risultati di misura accurati e riproducibili.
Come posso selezionare lo standard di calibrazione adatto alla mia misurazione?
Lo standard di calibrazione deve essere il più simile possibile al materiale da misurare e alla composizione del rivestimento. Ciò garantisce che la calibrazione fornisca risultati realistici e accurati.
Quali tipi di standard di calibrazione offre FISCHER?
- standard solidi per strati singoli e multipli, strati di lega, elementi puri e leghe
- standard in lamina per strati singoli, multipli e strati di lega
- set prefabbricati per settori e applicazioni specifici
FISCHER offre una gamma molto ampia di oltre 500 standard certificati. Tra questi sono inclusi:
Quali sono i principali vantaggi degli standard di calibrazione FISCHER?
- Riferibilità riconosciuta a livello mondiale
- Scelta tra oltre 500 standard certificati
- Massima accuratezza grazie alla certificazione DAkkS
- Laboratori di taratura accreditati di proprietà in tutto il mondo
- Possibilità di realizzare standard personalizzati
- Consulenza completa da parte di esperti
Posso continuare a utilizzare il mio standard se è piegato, strappato o danneggiato?
No. Se lo standard è piegato, strappato o danneggiato in altro modo, non deve essere utilizzato. Maneggiare le lamine di calibrazione con la massima cura, poiché i loro strati sottili le rendono particolarmente soggette a strappi o deformazioni. Se si riscontra un danno, consigliamo di inviarci lo standard per un controllo. Vi invitiamo a contattarci direttamente.




Lamina di Cu, strappata
non idoneaLamina di Au, spiegazzata
non idoneaLamina di Nb, strappata
non idoneaLamina di Au
idoneaQuale parte dello standard è certificata per la misurazione?
Per gli standard a raggi X, nel certificato è specificata un’area centrale di 2 × 2 mm. Se viene certificata un’area di misura diversa, ciò sarà espressamente indicato nel certificato. Per le lamine destinate alle misure a contatto, l’area di misura certificata è contrassegnata direttamente sulla lamina con un cerchio.

L’area di misura certificata è contrassegnata in rosso. Con quale frequenza devo inviare il mio standard per la manutenzione o il controllo?
FISCHER non specifica un intervallo di manutenzione particolare. La necessità di inviare gli standard per la ritaratura può essere influenzata in modo significativo dalle condizioni di utilizzo, dai fattori ambientali e di conservazione, nonché dalla dipendenza dell’azienda da determinati standard e dai requisiti interni relativi alle apparecchiature di controllo. Pertanto, voi o il team responsabile del monitoraggio delle apparecchiature di controllo siete nella posizione migliore per valutare e stabilire l’intervallo appropriato per l’invio degli standard. Un valore indicativo tipico è di circa uno-tre anni.
Avete bisogno di una consulenza individuale? Contattateci
Il certificato ha una data di scadenza?
No, il certificato non ha una data di scadenza fissa. La necessità di inviare gli standard per la ritaratura può essere influenzata in modo significativo dalle condizioni di utilizzo, dai fattori ambientali e di conservazione, nonché dalla dipendenza dell’azienda da determinati standard e dai requisiti interni relativi alle apparecchiature di controllo. Pertanto, voi o il team responsabile del monitoraggio delle apparecchiature di controllo siete nella posizione migliore per valutare e stabilire quando è necessaria una ritaratura.
Avete bisogno di una consulenza individuale? Contattateci
Ho esigenze che non sono coperte dal catalogo degli standard di calibrazione FISCHER. Offrite anche soluzioni personalizzate?
Sì, offriamo soluzioni speciali personalizzate. Da un lato, possiamo combinare gli spessori degli strati presenti nel nostro catalogo per soddisfare le vostre esigenze specifiche, a condizione che ciò sia tecnicamente fattibile. Dall’altro lato, se tecnicamente possibile, possiamo produrre uno standard utilizzando il vostro materiale. I nostri referenti FISCHER saranno lieti di discutere con voi le vostre esigenze!
La superficie del mio standard è scolorita. Posso/devo pulire lo standard?
Gli standard non devono mai essere puliti meccanicamente o chimicamente! Ciò può causare danni, disomogeneità e/o una riduzione dello spessore dello strato, alterando potenzialmente i risultati della taratura.
Scolorimento di Al, Cu e Ag: Per questi metalli, l’ossidazione della superficie metallica forma uno strato di ossido che protegge il metallo sottostante da ulteriori reazioni con l’ossigeno (passivazione). A seconda del metallo, ciò può provocare una tipica alterazione del colore che, tuttavia, non influisce negativamente sui risultati di misura.
Importante: Non pulire gli standard! La rimozione dello strato di ossido mediante abrasione può alterare i risultati della taratura.Scolorimento di Fe, Zn e Zn/Fe: In caso di ossidazione del ferro (ruggine) o dello zinco (ruggine bianca), la corrosione ha un effetto distruttivo sullo standard. Se si verifica corrosione, gli standard devono essere inviati per la sostituzione. Poiché un ambiente corrosivo accelera il processo di corrosione, prestare sempre particolare attenzione alla corretta manipolazione e conservazione degli standard (vedere anche la domanda seguente).
Caso eccezionale: standard COULOSCOPE®: I nostri standard COULOSCOPE® rappresentano un’eccezione in materia di pulizia. Vengono forniti con una “gomma” che consente di riattivare lo strato di ossido di nichel.
Come devo conservare i miei standard?
Non conservare gli standard in atmosfere soggette a condensa o corrosive. Un’umidità eccessiva può danneggiare gli strati.
Posso rimuovere le etichette DAkkS dalla custodia del mio standard?
No, non rimuovere i contrassegni DAkkS dalle custodie. Il certificato di taratura DAkkS rimane valido solo insieme ai corrispondenti contrassegni DAkkS presenti sulle custodie.
Non riesco a trovare il mio certificato di taratura DAkkS. Dove o come posso ottenerne uno nuovo?
Su richiesta, possiamo riemettere i certificati di taratura DAkkS. Tuttavia, si prega di notare che ciò comporta tempi di consegna lunghi e costi aggiuntivi. A tale scopo, contattare direttamente il proprio referente FISCHER, che sarà lieto di fornire un’offerta personalizzata.
Il certificato DAkkS è disponibile anche in forma digitale?
Purtroppo non ancora, ma ci stiamo lavorando.
Dove posso trovare i termini e le condizioni?
Qui sono disponibili i termini e le condizioni
È possibile misurare gli standard FISCHER con il mio strumento FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ?
Sì, ma ciò dipende dall’ ottica policapillare installata nello strumento. A seconda dell’ottica policapillare, è possibile eseguire misure con spot di misura di circa 10–50 µm. Questi spot di misura molto piccoli consentono di visualizzare disomogeneità localizzate, come i “microfori”, o differenze di spessore su superfici con elevata rugosità. Le misure su un singolo punto dei nostri standard di calibrazione possono quindi, a seconda del materiale, determinare una maggiore dispersione dei valori misurati o un’alterazione dei risultati di taratura. Per gli standard misurati con i nostri strumenti FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ è pertanto necessario utilizzare sempre la modalità di scansione.
Dove posso trovare la dichiarazione di conformità?
Poiché gli standard sono realizzati individualmente e non sono soggetti a standardizzazione, non possiamo rilasciare una dichiarazione di conformità. Inoltre, forniamo standard per misure RoHS e rivestimenti speciali, alcuni dei quali richiedono l’utilizzo di materiali non conformi alla direttiva RoHS.
Il valore nominale dello standard fornito differisce dal valore indicato nell’offerta. Qual è il motivo?
I nostri standard sono soggetti a variazioni dovute al processo di produzione pari a ±20 % dello spessore dello strato specificato. Ciò non costituisce un difetto, ma rientra nell’intervallo di tolleranza consentito. Forniamo sempre standard con valori il più possibile vicini a quello specificato nell’offerta.
Quale valore è valido: quello riportato sullo standard o quello indicato nel certificato? Perché questi valori a volte sono diversi?
Tutti i valori di misura sono soggetti a un certo grado di variazione. Pertanto, i valori indicati nel certificato dopo una nuova certificazione possono differire dal valore riportato sullo standard, purché rimangano entro l’incertezza di misura specificata. Per le lamine destinate alle misure a contatto e certificate secondo la norma DIN EN ISO/IEC 17025:2017, i valori stampati sulla lamina possono differire da quelli elencati nel certificato anche a causa di fattori legati al sistema. Il valore attualmente valido è sempre quello indicato nel certificato.
Gli standard per misure a contatto sono soggetti a usura?
Sì, gli standard per misure a contatto sono generalmente soggetti a un’usura naturale causata dal contatto durante la misurazione. Non appena nell’area di misura contrassegnata diventano visibili danni, come ammaccature o crepe, consigliamo di sostituire lo standard.
Perché le lamine dei tactile non sono ricertificate?
Le lamine per i dispositivi di misurazione portatili sono soggette all'usura dovuta all'uso e pertanto non possono essere ricertificate.
I valori misurati durante la certificazione esterna delle lamine in plastica per strumenti di misura a contatto sono superiori ai valori forniti da FISCHER. Qual è il motivo?
La differenza nello spessore della lamina è probabilmente dovuta alla configurazione di misura. Presumiamo che le lamine siano state misurate con un punzone piatto. Con questo metodo, durante la misurazione dello spessore non si produce praticamente alcuna impronta nella lamina. Viene quindi misurato lo spessore effettivo della lamina. Lo spessore misurato con questo metodo è generalmente leggermente superiore a quello specificato da FISCHER.
Le lamine di calibrazione da noi misurate vengono utilizzate per tarare i nostri strumenti con le relative sonde di misura. Le sonde di misura FISCHER sono dotate di una piccola punta sferica che viene appoggiata sulla lamina di calibrazione o sulla superficie da misurare. Quando la sonda viene appoggiata sulla lamina in plastica, la punta sferica produce una piccola impronta di pressione che dipende, tra gli altri fattori, dallo spessore della lamina di calibrazione. Questa indentazione viene considerata durante la misurazione delle nostre lamine di calibrazione. Di conseguenza, il valore nominale delle lamine di calibrazione prodotte da Helmut Fischer sarà sempre leggermente inferiore al loro spessore effettivo. Se questa impronta non venisse considerata, dopo aver tarato i nostri strumenti con tali lamine si misurerebbero spessori dello strato errati sui componenti reali.