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Analisi della fluorescenza da raggi X: Il metodo ideale per il controllo di qualità nella galvanica (Parte 1)

Automated Quality Control in Production
Fischer Marketing Team | 24. aprile 2020

Analisi della fluorescenza da raggi X: Il metodo ideale per il controllo di qualità nella galvanica (Parte 1)

La galvanizzazione è il processo di finitura o miglioramento dei metalli più comunemente utilizzato in numerose applicazioni industriali. Lo scopo principale della galvanica è quello di fornire al materiale di base proprietà decorative e funzionali. Alcuni composti tra cui zinco, cromo e nichel e le loro leghe conferiscono funzione decorativa e funzionale al substrato e soddisfano i requisiti del produttore e dell'utente finale.

La variazione dello spessore rappresenta una sfida significativa nel settore della galvanica. La geometria dei componenti varia da semplici superfici piane a superfici complesse e irregolari. Caratteristiche come rientranze, cavità e fori avranno un minore deposito di rivestimento rispetto agli angoli esterni, ai bordi e alle aree piane. Sebbene le specifiche di finitura in genere prevedano uno spessore minimo di placcatura, la sovrapposizione comporterebbe costi aggiuntivi mentre la sotto-placcatura non rappresenta la scelta ideale. Tenendo presenti queste considerazioni, è importante eseguire misure dello spessore di rivestimento in modo rapido e accurato in quanto influisce sulla qualità del prodotto e sul controllo del processo e dei costi.

L'analisi della fluorescenza da raggi X rappresenta un metodo rapido e accurato per misurare lo spessore del rivestimento

L'analisi a fluorescenza da raggi X (XRF) è un metodo rapido e non distruttivo per misurare con elevata precisione lo spessore del rivestimento e la composizione dei depositi di placcatura di un'ampia gamma di materiali. Uno dei principali vantaggi dell'analisi XRF è che è possibile misurare simultaneamente lo spessore e la composizione di rivestimenti singoli e multipli. Inoltre, l'apparecchiatura è facile da usare e la misura richiede solo pochi secondi.

XRF è una spettroscopia atomica. La base dell'analisi della fluorescenza da raggi X è costituita dal fatto che, quando gli atomi in un campione di materiale sono eccitati dalla radiazione X primaria, generano radiazione fluorescente (Fig. 2). La lunghezza d'onda o l'energia delle emissioni fluorescenti è caratteristica della composizione elementare del materiale campione. Il numero di fotoni emessi a quelle energie specifiche rappresenta il numero di atomi (massa) dell'elemento emittente presente nel materiale. Inoltre, lo spessore del rivestimento può essere determinato dall'intensità del segnale proveniente dai materiali di rivestimento o dall'attenuazione della radiazione del materiale di base.

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