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Il sistema XRF automatizzato per il fotovoltaico

Il sistema FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 misura in maniera continua lo spessore degli strati sottili su substrati di grandi dimensioni, ad esempio nel settore del fotovoltaico. gli strumenti di questa serie sono unità modulari di facile installazione nelle linee di produzione. X-RAY 5000 può essere utilizzato sia in atmosfera normale che sotto vuoto. Inoltre, la manutenzione del dispositivo è semplice: La testina di misurazione può essere revisionata senza bisogno di rilasciare il vuoto.

Se durante la fabbricazione il prodotto si muove o si gonfia, può distorcere i risultati della misura. Per questo motivo, il software WinFTM di Fischer dispone di una funzione integrata per la compensazione delle fluttuazioni di distanza fino a 1 cm senza bisogno di sensori di distanza aggiuntivi.

Caratteristiche

  • Misurazione continua nei processi in corso con collegamento ai sistemi di controllo della produzione
  • Utilizzo flessibile: per misurazioni in vuoto o in aria; per temperature del campione fino a 400° C
  • Disponibile opzionalmente con raffreddamento ad acqua
  • Design e struttura solida per misurazioni costantemente precise in condizioni difficili
  • Particolarmente adatto alla misura dello spessore del rivestimento e all'analisi dei materiali su grandi superfici
  • Sorgente di raggi X, rivelatore e filtro primario selezionabili dal cliente
  • Sistemi conformi alle norme DIN ISO 3497 e ASTM B 568

Applicazioni

  • Spessore degli strati CIGS, CIS, CdTe e CdS nell'industria solare
  • Strati sottili con spessore di pochi µm su strisce di metallo, lamine metalliche e di plastica
  • Composizione degli strati CIGS, CIS, CdTe e CdS nel settore fotovoltaico
  • Controllo dello spessore del rivestimento nella produzione continua
  • Monitoraggio del processo negli impianti di sputtering e galvanica

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