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Moduli fotovoltaici a film sottile per misure in linea

Nella produzione di pannelli solari a film sottile o lamine (ad esempio CIS/CIGS, CdTe) è fondamentale il rispetto rigoroso dei limiti di spessore e composizione specificati, in quanto influisce direttamente sull'efficienza del pannello. Solo con un sistema di misura in linea preciso, veloce e affidabile è possibile monitorare in maniera costante i parametri di produzione e, quindi, garantire la qualità dei processi di rivestimento.

Il tipico sistema fotovoltaico a film sottile (FV) è costituito da una pila abbastanza complessa di strati rivestiti su substrati come vetro o fogli. L'impegno dei produttori è rivolto allo sviluppo di prodotti CdTe / CIS / CIGS affidabili e a basso costo, e alcune delle questioni più critiche che si trovano ad affrontare sono:

  • Efficienze dei moduli sempre più elevate
  • Strati assorbitori sempre più sottili inferiori a 1 µm
  • Stechiometria e uniformità costanti della pellicola assorbente su vaste aree
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    La tecnologia di misura consolidata e non distruttiva della fluorescenza da raggi X (XRF), aiuta a migliorare l'uniformità e la stechiometria e, quindi, l'efficienza della cella e la resa produttiva. FISCHERSCOPE® X-RAY 5400 consente una misura accurata e precisa degli spessori e della composizione degli strati in sistemi CIS / CIGS / CdTe complessi, per un controllo di qualità in linea continuo nelle diverse fasi produttive.

Dato che le testine a raggi X sono montate tramite interfacce standard raffreddate al sistema della camera a vuoto, se la temperatura del substrato si avvicina a 500°C possono essere utilizzate anche nei macchinari di produzione.

Durante il processo di produzione il prodotto può spostarsi o gonfiarsi, causando variazioni della distanza tra il campione e la testina di misurazione. Al fine di prevenire falsi risultati, il software WinFTM® di FISCHER utilizza le informazioni già contenute negli spettri XRF misurati, ottenendo una compensazione della distanza affidabile senza parti in movimento ed evitando quindi il ricorso a sensori di distanza secondari.

Con la funzione di compensazione della distanza attivata, la distanza di misurazione può essere modificata fino a +/- 5 mm senza influire in modo significativo sulle letture di misura.

Utilizzando la tecnologia XRF la qualità della produzione di celle solari a film sottile può essere monitorata in modo accurato e preciso. La testa di misura a raggi X appositamente progettata FISCHERSCOPE® X-RAY 5400, inoltre soddisfa tutti i requisiti di solidità previsti per le linee di produzione. Per ulteriori informazioni, non esitare a contattare il tuo rappresentante locale FISCHER.

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