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Misurazione dei rivestimenti in Cr/Ni/Cu sui substrati in plastica

L'accessoria per il bagno generalmente è rifinita con una cromatura decorativa. Ma quello che può sembrare un soffione doccia in metallo solido, ad esempio, spesso consiste semplicemente in un rivestimento metallico multistrato sopra un substrato di plastica. Per garantire che il soffione doccia non abbia un bell'aspetto solo al momento della consegna, ma anche dopo molti anni di utilizzo, occorre verificare il livello di qualità dello spessore di ogni singolo strato.

La composizione tipica dei soffioni doccia è un sistema di rivestimento in cromo / nichel / rame su un materiale di substrato in plastica. La finitura esterna decorativa in cromo solitamente ha uno spessore di soli 0,5 µm (o meno) e lo strato di nichel di circa 5-10 µm. Se lo strato di rame è compreso tra 20 e 25 µm, e quindi lo spessore complessivo del rivestimento non è superiore a 30 µm, è possibile effettuare misure non distruttive utilizzando il metodo della fluorescenza da raggi X (XRF).

Per questo tipo di applicazione, sono ideali gli strumenti a fluorescenza da raggi X con un contatore proporzionale. Grazie all'ampia area del rivelatore è possibile ottenere tassi di conteggio sufficientemente elevati anche nei punti di misura più piccoli, garantendo una buona precisione di ripetibilità. Grazie alla camera di misura ampia e facilmente accessibile, i solidi strumenti della famiglia FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® sono adatti per campioni di grandi dimensioni con forme complesse.

Per massimizzare la precisione dei risultati, è essenziale il corretto posizionamento dell'oggetto, ad esempio scegliendo un'area intrinsecamente orizzontale o allineando correttamente il campione. Per supportare questo passaggio fondamentale, gli strumenti di misura FISCHERSCOPE® X-RAY sono dotati di un puntatore laser come ausilio per il posizionamento e ottiche della telecamera ad alto ingrandimento. Utilizzando l'immagine video generata dal software WinFTM®, è possibile ottenere la messa a fuoco esatta richiesta del punto di misura.

Risultati tipici di una misurazione a raggi X, raccolti utilizzando FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® con un tempo di misurazione di 30 secondi per quattro cicli di misurazione per punto.
punto di misura 1 2 3 4 5
Valore medio di Cr 0,17 0,17 0,17 0,17 0,16
Deviazione standard 0,003 0,005 0,005 0,004 0,005
Valore medio Ni 7,24 7,40 7,10 7,29 7,21
Deviazione standard 0,07 0,04 0,10 0,11 0,07
Valore medio Cu 21,40
21,90
22,10
20,10
20,60
Deviazione standard 0,25
0,39
0,29
0,29
0,26

Per determinare lo spessore di placcature decorative in Cr / Ni / Cu su substrati di plastica con uno spessore di rivestimento complessivo massimo di circa 30 µm, il conveniente contatore proporzionale della famiglia FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® rappresenta la soluzione ottimale. Per misurare rivestimenti più spessi, sono disponibili in alternativa anche strumenti che impiegano il metodo coulometrico (distruttivo). Per ulteriori informazioni, contatta il tuo rappresentante locale FISCHER.

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