En la fabricación de láminas o paneles solares de película delgada (por ejemplo, CIS / CIGS, CdTe) es crucial mantener exactamente los límites especificados de espesor y composición, ya que esto afecta directamente la eficiencia del panel. Solo con un sistema de medición en línea preciso, rápido y confiable se pueden monitorear continuamente los parámetros de producción y, por lo tanto, se asegura la calidad de los procesos de recubrimiento.
Un sistema fotovoltaico (PV) de película delgada típico se compone de una pila bastante compleja de capas recubiertas sobre sustratos como vidrio o láminas. A medida que los fabricantes se esfuerzan por desarrollar productos CdTe / CIS / CIGS confiables y de menor costo, algunos de sus problemas más críticos son:
- eficiencias de módulo cada vez más altas
- capas absorbentes cada vez más delgadas de menos de 1 µm
- estequiometría y uniformidad de la película absorbente constante en áreas grandes </ ul >
Aquí es donde la tecnología de medición madura y no destructiva, como la fluorescencia de rayos X (XRF), ayuda a mejorar la uniformidad y la estequiometría y, por lo tanto, la eficiencia celular y el rendimiento de producción. El FISCHERSCOPE® X-RAY 5400 permite una medición precisa y precisa de los espesores de capa y la composición en sistemas complejos CIS / CIGS / CdTe, para un control de calidad continuo en línea en varias etapas durante la producción.
Debido a que los cabezales de rayos X se montan a través de interfaces estándar refrigeradas al sistema de cámara de vacío, incluso se pueden usar en maquinaria de producción en condiciones en las que las temperaturas del sustrato se acercan a los 500 ° C.
El movimiento y el abultamiento del producto pueden ocurrir durante el proceso de producción, lo que hace que la distancia entre la muestra y el cabezal de medición fluctúe. Para evitar efectos de falsificación, el software WinFTM® de FISCHER utiliza información ya contenida en los espectros XRF medidos, logrando una compensación de distancia confiable sin partes móviles y obviando así la necesidad de sensores de distancia secundarios.
Con la función de compensación de distancia activada, la distancia de medición se puede alterar hasta +/- 5 mm sin afectar significativamente las lecturas de medición.
La calidad de producción de las células solares de película delgada se puede controlar con precisión y precisión mediante la tecnología XRF. El cabezal de medición de rayos X en línea especialmente diseñado de FISCHER, FISCHERSCOPE® X-RAY 5400, también cumple con todos los requisitos de robustez de los entornos de producción en vivo. Para obtener más información, póngase en contacto con su representante local de FISCHER.