XDL / XDLM / XDAL

Avec des axes entraînés par moteur (en option) et un sens de mesure de haut en bas, les instruments de mesure de la gamme XDL® permettent de réaliser des tests en série automatisés. Plusieurs versions, avec des sources de rayonnement X différentes, filtre, Ouverture et détecteur, permettent de choisir l'appareil à rayons X à la configuration la mieux adaptée à votre tâche de mesure spécifique.

Série XDL

Caractéristiques :

  • Instruments de spectrométrie de fluorescence X pour une grande diversité de tâches de mesure, grâce à différents composants matériels
  • Également adapté au test des circuits imprimés assemblés ou pièces à dentelures, en raison de la distance de mesure variable (jusqu'à 80 mm)
  • Tests en série automatisés avec table XY et axe Z programmables (en option)
  • Idéal pour la mesure des couches très fines à l'aide du détecteur à dérive de silicium à la résolution énergétique élevée (appareil XDAL)

Applications :

Mesure d'épaisseur de revêtement

  • Mesure de revêtements sur les circuits imprimés de grande taille et flexibles
  • Couches conductrices et/ou de séparation fines sur circuits imprimés
  • Revêtements sur composants tridimensionnels
  • Revêtements de chrome, par exemple éléments en plastique avec une finition chromée décorative

Analyse des matériaux

  • Analyse des bains de galvanoplastie
  • Analyse des revêtements fonctionnels dans l'électronique et l'industrie des semi-conducteurs
  • Analyse des revêtements en matériau dur, par exemple CrN, TiN ou TiCN

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