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Analyse par Fluorescence X Ray: La méthode idéale pour le contrÎle de la qualité dans la galvanoplastie (Partie 1)

Automated Quality Control in Production
Fischer Marketing Team | 24. April 2020

Analyse par Fluorescence X Ray: La méthode idéale pour le contrÎle de la qualité dans la galvanoplastie (Partie 1)

La galvanoplastie est un procédé de finition ou d'amélioration métalliques utilisé dans de nombreuses applications industrielles. Le but principal de dépÎts électrolytiques est de fournir au matériau de base des propriétés décoratives et fonctionnelles. Certains composés, y compris le zinc, le chrome et le nickel et leurs alliages confÚrent des avantages fonctionnels et décoratifs sur le substrat qui répondent à la fois aux exigences de son fabricant et l'utilisateur final.

La variation d'Ă©paisseur est un dĂ©fi important dans l'industrie du placage. La gĂ©omĂ©trie des composants varie avec des surfaces plates simples ou complexes, des surfaces inĂ©gales. Des Ă©quipements tels que des Ă©videments, des cavitĂ©s et des trous auront une plus faible quantitĂ© de dĂ©pĂŽt de revĂȘtements par rapport aux coins extĂ©rieurs, les bords et les zones plates. Bien que les spĂ©cifications de finition indiquent gĂ©nĂ©ralement un minimum d'Ă©paisseur de placage, le "sur" placage entraĂźnerait des coĂ»ts supplĂ©mentaires dans un produit moins idĂ©al que des rĂ©sultats de "sous"-placage. Avec ces considĂ©rations Ă  l'esprit, ĂȘtre capable de mesurer l'Ă©paisseur de revĂȘtements rapidement et avec prĂ©cision est important et ceci affecte la qualitĂ© des produits et des processus ainsi que le contrĂŽle des coĂ»ts.

Analyse par Fluorescence X Ray: La méthode idéale pour le contrÎle de la qualité dans la galvanoplastie

L'analyse

par fluorescence de rayons X (XRF) est une mĂ©thode rapide et non destructrice pour mesurer l'Ă©paisseur des revĂȘtements et la composition des dĂ©pĂŽts de placage d'un large Ă©ventail de matĂ©riaux, et ce, avec une grande prĂ©cision. Un avantage majeur de l'analyse XRF est que l'Ă©paisseur et la composition des couches, uniques ou multiples, peuvent ĂȘtre mesurĂ©s simultanĂ©ment. De plus, l'Ă©quipement est facile Ă  utiliser et une mesure ne prend gĂ©nĂ©ralement que quelques secondes.

XRF est une spectroscopie atomique. Le principe de L'analyse de fluorescence aux rayons X rĂ©side dans le phĂ©nomĂšne selon lequel, lorsque des atomes dans un Ă©chantillon de matĂ©riau sont excitĂ©s par le rayonnement X primaire, ils gĂ©nĂšrent un rayonnement fluorescent (Fig. 2). La longueur d'onde ou l'Ă©nergie de ces Ă©missions fluorescentes est caractĂ©ristique de la composition Ă©lĂ©mentaire du matĂ©riau de l'Ă©chantillon. Le nombre de photons Ă©mis Ă  ce niveau d'Ă©nergie spĂ©cifique reprĂ©sente le nombre d'atomes (masse) de l'Ă©lĂ©ment d'Ă©mission qui est prĂ©sent dans le matĂ©riau. En outre, l'Ă©paisseur de revĂȘtement peut ĂȘtre dĂ©terminĂ©e soit par la puissance du signal Ă  partir des matĂ©riaux de revĂȘtements ou par l'attĂ©nuation du rayonnement par le matĂ©riau de la base.

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