Jump to the content of the page

Analyse par la Fluorescence X Ray : La méthode idéale pour le contrÎle de la qualité dans la galvanoplastie (Partie 2)

Modern XRF Systems
Fischer Marketing Team | 24. April 2020

Analyse par la Fluorescence X Ray : La méthode idéale pour le contrÎle de la qualité dans la galvanoplastie (Partie 2)

Les lignes de systĂšmes XRF modernes du FISCHERSCOPE XUL ou XULM sont gĂ©nĂ©ralement de petite taille et peuvent ĂȘtre installĂ©s et utilisĂ©s prĂšs de la production, de l'expĂ©dition ou des zones de rĂ©ception, ainsi que dans un laboratoire. La groupe Helmut Fischer propose Ă©galement des systĂšmes portables de poche-XRF.

En plus de la source de rayons X, le composant principal du systĂšme de mesure de rayons X est le dĂ©tecteur. La qualitĂ© du dĂ©tecteur dĂ©termine les tĂąches de mesure qui peuvent ĂȘtre rĂ©solues avec un seul appareil. Fischer propose trois types de dĂ©tecteurs diffĂ©rents.

Le compteur proportionnel est un tube rempli de gaz. C'est un dĂ©tecteur Ă©prouvĂ© et pour des tĂąches de mesure simples, bien adaptĂ©es pour mesurer des couches plus Ă©paisses avec de petits spots de mesure. Si les Ă©missions provenant de l'Ă©chantillon sont bien sĂ©parĂ©es, Ă  savoir si les Ă©lĂ©ments d'intĂ©rĂȘt diffĂšrent fortement (par exemple, un revĂȘtement d'Ă©tain sur un substrat en cuivre), alors le compteur proportionnel va faire un trĂšs bon travail.

Si l'Ă©chantillon est compliquĂ© - avec de nombreux Ă©lĂ©ments ou des Ă©missions se chevauchant fortement (numĂ©ros atomiques adjacents) - alors les Silicon dĂ©tecteurs sont prĂ©fĂ©rĂ©s ou mĂȘme nĂ©cessaires. Pour ces modĂšles, Fischer Offre des dĂ©tecteurs avec une diode PIN de silicium (Si-PIN) ou avec un dĂ©tecteur de dĂ©rive de silicium (SDD). Tous les deux ont une meilleure rĂ©solution de l'Ă©nergie que le compteur proportionnel qui fournit une meilleure rĂ©ponse pic par rapport Ă  bruit de fond (un seul pic/bruit). Le Si PIN diode est un dĂ©tecteur de milieu de gamme. Bien qu'il puisse ĂȘtre utilisĂ© aussi bien pour l'analyse des matĂ©riaux et de la couche de mesure d'Ă©paisseur, il faut plus temps de mesure pour les petits spots de mesure. Le SDD est le meilleur dĂ©tecteur semi-conducteur moderne avec une excellente rĂ©solution et les meilleures limites de dĂ©tection. Sa particularitĂ© rĂ©side dans la mesure des revĂȘtements trĂšs minces Ă  l'Ă©chelle du nanomĂštre et Ă  l'analyse des matĂ©riaux dans l'intervalle par milliĂšme de pouce.

Analyse du contenu métallique des Solutions électrolytiques

Afin d'appliquer des revĂȘtements Ă  un taux de placage bien dĂ©fini et avec une composition bien dĂ©finie, les entreprises de galvanoplastie doivent surveiller et contrĂŽler la formulation de leurs bains de placage de trĂšs prĂšs. Par exemple, les revĂȘtements mĂ©talliques (comme AuCuCd, AuCuIn, RHRU ou autres) particuliĂšrement populaires dans l'industrie des bijoux doivent ĂȘtre appliquĂ©s absolument de maniĂšre homogĂšne sur toute la surface pour assurer une mĂȘme finition de couleur.

Tous les instruments XRF Fischer peuvent ĂȘtre facilement Ă©quipĂ©s pour l'analyse de solutions de plaquage par montage de la cellule d'analyse de la solution en option (voir figure 3). Tout d'abord, la cellule spĂ©cialisĂ©e est remplie avec la solution Ă  analyser, puis il est recouvert d'une feuille de Mylar mince mais robuste et Ă©tanche avec une bague en matiĂšre plastique - partie du kit d'analyse de la solution. DiffĂ©rentes cellules avec des matĂ©riaux de base diffĂ©rents sont disponibles. Choisir le bon matĂ©riel peut amĂ©liorer considĂ©rableement les performances de mesure. Les effets de matrice (Cl, SO4, CN) dans la solution peuvent ĂȘtre corrigĂ©s par l'intermĂ©diaire de l'absorption du rayonnement de fluorescence du matĂ©riau de base de la cellule (par exemple, Mo ou Ni).

En comparaison avec d'autres mĂ©thodes, l'analyse XRF (fluorescence de rayons X) de ces solutions est simple: la prĂ©paration de l'Ă©chantillon est rapide, et les seuls consommables nĂ©cessaires sont de petits morceaux de feuille de matiĂšre plastique, par opposition Ă  d'autres mĂ©thodes d'analyse oĂč les gaz (Ar) ou de l'eau purifiĂ©e sont utilisĂ©s.

De cette façon, en utilisant une analyse XRF pour surveiller le bain de placage est un moyen rapide et efficace pour dĂ©terminer les concentrations des ions et des produits chimiques dans la solution. analyse de bain de placage peut ĂȘtre effectuĂ© directement dans le processus de production sans personnel particuliĂšrement qualifiĂ© prĂ©sent. Comme les rĂ©sultats de mesure prĂ©cis sont disponibles en quelques secondes, le temps de rĂ©action lorsque la solution de dĂ©viants bain est rĂ©duite au minimum. De plus, les cellules d'analyse de la solution peut ĂȘtre rĂ©utilisĂ©e pour rĂ©sultat sans frais supplĂ©mentaires d'exploitation.

Conclusion

L'analyse XRF avec les appareils Fischer offre aux entreprises de placage des avantages importants. En gĂ©rant efficacement Ă  la fois l'Ă©paisseur des revĂȘtements des composants et l'analyse du bain de placage grĂące Ă  une analyse XRF, les entreprises de placage seront en mesure d'amĂ©liorer leur qualitĂ© des produits et des processus, le contrĂŽle des coĂ»ts afin de rĂ©pondre aux besoins des fabricants et des utilisateurs finaux. Ainsi les Ă©chantillons ne doivent plus ĂȘtre envoyĂ©s Ă  un laboratoire pour analyse. Beaucoup de temps et d'Ă©conomies de coĂ»ts sont rĂ©alisĂ©s de sorte qu'un systĂšme de mesure Fischer XRF peut se payer lui-mĂȘme aprĂšs un court laps de temps.

Laissez-nous votre commentaire
En soumettant ce formulaire, je confirme que j'ai lu et compris les politique de confidentialité.
Jump to the top of the page