Mesure des revêtements de Cr / Ni / Cu d'une pomme de douche
Une pomme de douche a en général un aspect argenté brillant, on peut supposer un métal solide. Cependant, le substrat est très souvent en matière plastique. La composition du revêtement typique est chrome / nickel / cuivre sur un substrat en matière plastique.
Les revêtements de chrome décoratifs ont une épaisseur d'environ de 0,5 µm ou même moins, le revêtement de nickel est de 5 à 10 µm, la couche de cuivre est de 30 µm ou même plus épais. La méthode par fluorescence de rayons X (XRF) est un procédé non destructif de mesure à utiliser.
La Figure 1 montre la configuration de la mesure sur un FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®. Une application de mesure déterminant les revêtements de chrome, de nickel et de cuivre sur un composant en matière plastique a été utilisée pour effectuer la mesure.
Les points suivants de la Figure 2 doivent être pis en compte dans cette mesure: le positionnement de l'échantillon par rapport au détecteur (tube compteur proportionnel)
La mesure doit toujours être prise au plus haut point. De plus, il est important de savoir comment le détecteur est aligné dans le dispositif de mesure. Si la pomme de douche est disposée longitudinalement au détecteur, les petits déplacements de la position de mesure n'ont pas de grands effets sur le résultat.
Évitez d'incliner
L'échantillon ne doit pas être incliné, à savoir le point à mesurer doit être absolument horizontal. Une attention particulière doit être accordée à cette exigence car il n'y a souvent pas de surfaces planes sur l'échantillon.
Une vidéo parfaite avec mise au point (netteté) du point de mesure
Si la netteté n'est pas correct au point de mesure, le logiciel d'analyse supposera une distance de mesure incorrecte. Cela peut conduire à des mesures erronées.
épaisseur saturation XRF
Il y a des limites physiques à la mesure XRF. Si l'épaisseur du revêtement est trop grande, il y a un risque de saturation. Cette limite peut être estimée sur les appareils avec le logiciel WinFTM® pour une application de mesure existante.
In Figure 3 , la limite de la plage de mesure a été déterminée pour le revêtement de cuivre, sur l'hypothèse que les revêtements de finition de chrome et de nickel sont de 0,2 um et 7,5 um d'épaisseur, respectivement. La plage de mesure pour le revêtement de chrome sous ceux-ci est d'environ 1 à 25 um.
Il est également possible en alternative de déterminer les épaisseurs de revetements des couches Cr / Ni / Cu par mesure coulométrique. Dans ce procédé, les couches sont successivement dissoutes, et l'épaisseur de revêtement est déterminée par le COULOSCOPE® CMS par la mesure du temps pris pour l'enlèvement.
Le Tableau 1 montre les épaisseurs de revêtement mesurées: Avec le procédé XRF, quatre points de mesure ont été mesurés dans la zone de mesure coulométrique. Les résultats coulométriques sont constitués chacun d'une mesure pour chaque élément de revêtement. Les valeurs mesurées par les deux méthodes sont très proches les uns des autres, mais un observateur expérimenté peut noter que les méthodes ne proposent pas exactement les mêmes résultats.
Les raisons de ces différences se trouvent dans la position de l'échantillon avec la mesure XRF; Des inhomogénéités dans les revêtements peuvent également jouer un rôle. Dans le cas du cuivre, il est également vrai que l'échantillon est proche de l'épaisseur de la saturation en XRF et l'inexactitude augmente fortement en conséquence.
