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For decades, Fischer has stood for measuring instruments of the highest quality and accuracy. We use the accumulated know-how in the field of measurement technology not only in the manufacture of the measuring instruments, but also for relevant services such as measuring instrument calibration. With regard to the correct calibration, we have summarized important questions and answers for you in the following.

In the following, you see important questions about the calibration of coating thickness gauges and the calibration of xrf spectrometers.

Quels paramètres statistiques faut-il prendre en compte pour une comparaison des valeurs de mesure?

Les paramètres suivants sont importants pour une comparaison des valeurs de mesure: valeur moyenne arithmétique, écart type, quantité de mesures individuelles.

Sans l'écart type pertinent et le nombre de mesures individuelles, les valeurs moyennes ne peuvent pas être comparées les unes aux autres de  manière significative.

Pourquoi ai-je besoin de calibrer?

Chaque méthode de mesure physique est influencée par les paramètres des revêtements et du substrat. Ces paramètres sont: la géométrie des pièces, la conductivité électrique, la magnétisabilité, la densité du revêtement, la surface de mesure etc.

Chaque fois, lorsque ces paramètres de revêtements ou de substrat changent, il est nécessaire de recalibrer l'instrument de mesure. 

Je calibre mon instrument de mesure sur une plaque plane. Maintenant, je veux mesurer sur une pièce courbée avec un petit diamètre. Sera-t-il possible de continuer, sans autre étalonnage?

Non, la calibration sur la plaque plane provoque une erreur de mesure systématique sur une surface courbe. Cela signifie que les valeurs de mesure seront  trop grandes. En effet, l'instrument évalue les signaux de mesure de l'échantillon (ici: l'objet incurvé) de telle manière, comme s'ils provenaient d'un échantillon plat.

Pourquoi deux parties peuvent-elles recevoir des résultats de mesure différents? Quelles pourraient en être les raisons?

La précision des instruments de mesure est garantie par les étalons. L'étalonnage doit être effectué sur des échantillons réels non revêtus. De plus, il faut veiller à mesurer sur les mêmes points de mesure. Il est important de prendre suffisamment de mesures pour obtenir une valeur moyenne significative.

Comment vérifier un étalonnage pour les mesures DFT?

On vérifie l'étalonnage en mesurant à nouveau la feuille d'étalonnage sur l'échantillon non revêtu. Il doit s'agir de cette position de mesure, où vous mesurez également plus tard. Les plaques d'étalonnage Fischer Base ne sont pas utiles à cette fin.

Quand utiliser une normalisation avec un instrument FISCHER X-Ray?

La normalisation provoque un ajustement de la tâche de mesure pour les paramètres actuels ou pour les nouveaux substrats actuels. Ceci doit être effectué en cas de modifications des filtres primaires ou des courants d'anode ou des collimateurs. Il est également nécessaire si les compositions d'alliage ou les substrats de l'échantillon ont changé.

Mon instrument FISCHER X-Ray semble mesurer des valeurs non plausibles. Comment puis-je savoir, que je mesure correctement?

Vous devez alors choisir la surveillance des équipements de mesure. Vous vérifierez l'instrument de mesure en mesurant à nouveau les étalons. Si les valeurs correctes ne sont pas respectées, des ajustements sont nécessaires.

Que signifie une mesure de référence avec un appareil à rayons X FISCHER?

Une mesure de référence est un nouvel étalonnage de l'axe d'énergie. Ceci est pertinent pour la correction des instruments de comptage proportionnel, sur l'influence de la température.

Comment vérifier l'étalonnage de l'instrument FISCHER X-Ray?

Afin de vérifier l'étalonnage, il est nécessaire de mesurer à nouveau les étalons dans le menu «Produit», «Mesurer CAL. normes'. Si vous trouvez qu'il y a un écart, alors l'instrument doit être recalibré.

À quelle fréquence faut-il recertifier les étalons FISCHER X-Ray?

Cela dépend de l'utilisation et le client peut le déterminer lui-même.  Typiquement, cela serait tous les 1 à 3 ans.

Est-il possible d'empiler les feuilles talons X-Ray pendant l'étalonnage?

Oui, c'est possible. Il existe une règle d'utilisation approximative: pour les instruments à compteur proportionnel, on peut utiliser 2-3 feuilles. Pour les instruments avec un détecteur PIN/SDD, il est possible d'utiliser une feuille.

At-on besoin de re-certifier la plaque pour les éléments purs, pour les instruments FISCHER X-Ray?

Ce n'est pas nécessaire. Vous n'avez pas besoin de re-certifier la plaque, car les éléments sont épais en saturation et donc très stables.

Que faire si l’instrument demande «Matériau de base de cal. std. set »et« Matériau de base du produit »pendant la normalisation ou l’étalonnage?

Ici, WinFTM demande le matériau du substrat. Veuillez placer et mesurer le matériau de base non revêtu à partir du jeu d'étalons d'étalonnage et le matériau de base non revêtu des objets à mesurer. Attention: si les mauvaises pièces sont placées sur l'instrument, cela peut sérieusement affecter l'exactitude des résultats!

Quelle est la différence entre un certificat du fabricant et un certificat ISO 17025 pour les normes d'étalonnage?

Les normes d'étalonnage avec le certificat ISO 17025 sont mesurées selon une procédure stricte telle que définie par les organismes d'accréditation; ils ont moins d'incertitude de mesure que les étalons d'étalonnage avec un certificat du fabricant.

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