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Mesure des revêtements Cr / Ni / Cu sur substrats plastiques

Chrome Plating Measurement

Les accessoires de salle de bains sont généralement finis avec un placage de chrome décoratif. Mais ce qui peut sembler être une pomme de douche en métal solide, par exemple, n'est souvent qu'un revêtement métallique multicouche sur un substrat en plastique. Pour garantir que la pomme de douche soit non seulement jolie à la livraison, mais même après de nombreuses années d'utilisation, l'épaisseur de chaque couche individuelle doit être contrôlée pour garantir la qualité.

La composition typique de ces pommes de douche est un système de revêtement chrome / nickel / cuivre sur le dessus d'un matériau de substrat en plastique. La finition extérieure décorative en chrome n'a généralement qu'une épaisseur de 0,5 µm (ou moins) et la couche de nickel d'environ 5 à 10 µm. Si la couche de cuivre est comprise entre 20 et 25 µm, l'épaisseur totale du revêtement ne dépassant pas 30 µm, une mesure non destructive utilisant la méthode de fluorescence X (XRF) est possible.

Pour ce type d'application, les instruments de fluorescence X à tube compteur proportionnel sont parfaitement adaptés. Même avec de petits points de mesure, des taux de comptage suffisamment élevés peuvent être obtenus grâce à la grande surface du détecteur, garantissant une bonne répétabilité. En raison de la grande chambre de mesure facilement accessible, les instruments robustes de la famille FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® sont bien adaptés aux grands échantillons aux formes complexes.

Pour maximiser la précision des résultats, un bon positionnement de l'objet est essentiel, par exemple en choisissant une zone intrinsèquement horizontale ou en alignant correctement l'échantillon. Pour vous aider dans cette étape cruciale, les systèmes de mesure FISCHERSCOPE® X-RAY sont équipés d'un pointeur laser comme aide au positionnement et d'une optique de caméra à fort grossissement. En utilisant l'image vidéo générée par le logiciel WinFTM®, la mise au point exacte requise du point de mesure peut être obtenue.

Résultats typiques d'une mesure aux rayons X, recueillis à l'aide d'un FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® avec un temps de mesure de 30 secondes pour quatre cycles de mesure par spot.

Point de mesure

1

2

3

4

5

Valeur moyenne Cr

0,17

0,17

0,17

0,17

0,16

Écart type

0,003

0,005

0,005

0,004

0,005

Valeur moyenne de Ni

7,24

7,40

7,10

7,29

7,21

Écart type

0,07

0,04

0,10

0,11

0,07

Valeur moyenne Cu

21,40


21,90


22,10


20,10


20,60

Écart type

0,25


0,39


0,29


0,29


0,26

Pour déterminer l'épaisseur des revêtements décoratifs en Cr / Ni / Cu sur des substrats en plastique avec une épaisseur de revêtement totale maximale d'environ 30 µm, les systèmes de mesure à compteur proportionnels économiques de la famille FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® sont la solution optimale. Pour mesurer des revêtements plus épais, des instruments utilisant la méthode coulométrique (destructive) sont également disponibles comme alternative. Pour plus d'informations, veuillez contacter votre représentant FISCHER local.

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