XDV-SDD

XDV-SDD는 Fischer 포트폴리오에서 가장 강력한 XRF 장치 중 하나입니다. 이 장비에는 특히 대형 silicon drift detectors (SDD)가 장착되어 있습니다. 50mm² 디텍터 윈도우는 작은 측정 면적에서도 빠르고 정확한 분석을 가능하게합니다. 또한, 각 측정 작업을위한 최적의 여기 조건을 만들기 위해 여러 가지 측정 조건 및 필터를 장비에 장착 할 수 있습니다

도금 두께 측정과 재료 분석을 위한 XDV-SDD

특징

  • 박막조차도 정밀하고 정확하게 측정 할 수있는 고성능 대용량 유효 영역을 갖춘 고성능 X-ray 튜브와 silicon drift detector (SDD)
  • 자동 검사를 위한 매우 견고한 구조에 탁월한 장기 안정성까지 갖춤
  • 자동 serial 시험을 위한 프로그래밍 가능한 XY 테이블 및 Z 축
  • 빠르고 쉬운 샘플 위치 생성을 위한 라이브 비디오 이미징 및 레이저 포인터

어플리케이션

도금 두께 측정

  • 전자 및 반도체 산업에서 사용되는 두께 0.1μm 이하의 금 및 팔라듐 층 같은 매우 얇은 도금 검사
  • 자동차 제조 분야의 하드 코팅 측정
  • 태양광전지 산업의 도금 두께 측정

재료 분석

  • RoHS, WEEE, CPSIA 및 기타 지침에 따라 전자, 포장 및 소비재에서 금지된 물질 (예 : 중금속) 식별
  • 금 및 기타 귀금속 및 합금 분석
  • NiP의 인 함량 측정과 같은 기능성 도금의 조성 측정

FISCHER 연락처

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