Jump to the content of the page

하이엔드 만능 제품

XDV®-SDD는 Fischer 포트폴리오에서 가장 강력한 X-ray 형광 분석기 중 하나입니다. 이 XRF 는 특히 민감한 silicon drift 검출기 (SDD)가 장착되어 있습니다. 이를 통해 가장 얇은 층까지도 비파괴적으로 측정 할 수 있습니다. 리드 프레임에 약 2 nm 두께의 금 코팅. 

동시에 XDV-SDD는 비파괴 재료 분석에 완벽하게 적합합니다. 예를 들어, 플라스틱에서 미량의 납에 대한 검출 민감도는 약 2ppm으로 RoHS 또는 CPSIA에서 요구하는 값보다 몇 배 더 낮습니다.

각 측정에 적합인 조건을 만들 수 있도록 XDV-SDD에는 교환 가능한 콜리메이터와 필터가 있어 적합한 애플리케이션을 만들 수 있습니다. 그럼에도 불구하고 매우 견고한 장비는 작동하기 쉽고 산업용으로 일련의 테스트를 위해 특별히 설계되었습니다. 자동 확장 측정 단계 및 측정 사이트의 라이브 이미지와 같은 기능으로 일상적인 작업이 쉬워집니다.

특징

  • 매우 얇은 코팅 (<0.05 μm)의 자동 측정 및 ISO 3497 및 ASTM B 568에 따른 밀 범위 미만의 미세한 물질 분석을위한 프리미엄 범용 X-ray 형광 측정기
  • 초대형 유효 영역 (SDD 50 mm²)을 갖춘 Fischer의 매우 강력한 실리콘 드리프트 검출기
  • 측정조건 최적화를 위한 6배 변경 가능한 필터 및 4배 변경 가능한 콜리메이터
  • 알루미늄, 실리콘, 인과 같은 광원소의 분석
  • 최대 14cm의 샘플 높이
  • 작은 구조물에서 자동 측정을 위해 위치 정확도가 <5µm 미만인 고정밀 프로그래밍 가능 XY 스테이지 
  • 연속 테스트를 위한 매우 견고한 구조와 뛰어난 장기 안정성
  • 인증된 완전 보호 장비

애플리케이션

  • 전자 및 반도체 산업에서 매우 얇은 코팅 테스트 예: 50nm 두께& 
  • 자동차 제조에서 경질 재료 코팅 측정
  • 태양광 산업의 코팅 두께 측정
  • RoHS, WEEE, CPSIA 및 기타 전자 제품, 포장 및 소비재 지침에 따른 납 및 카드뮴과 같은 유해 물질의 미량 분석
  • 금 및 기타 귀금속 및 그 합금의 분석 및 진위성 테스트
  • 기능성 NiP 코팅에서 인 함량의 직접 측정

다운로드

이름 종류 사이즈 다운로드
Jump to the top of the page