
위의 표 1에서 볼 수 있듯이 SDD의 뛰어난 반복 정밀도는 매우 얇은 Au 및 Pd 코팅도 신뢰할 수있는 측정을 가능하게합니다.
사용 가능한 신호의 높은 에너지 분해능이 배경 또는 인접한 형광선의 영향을 덜 받기 때문에 SDD를 사용하는 기기에서도 정확성이 더 좋습니다.
기판 재료에 의해 생성된 형광 신호를 적절히 처리하는 것도 코팅이 더 얇을수록 더 중요합니다. 배경 신호를 일반적으로 빼면 반복 정밀도가 향상되지만 결과에 오류가 발생할 수도 있습니다. 따라서 평가 소프트웨어인 WinFTM®를 사용하면 모든 측정에서 기판 재료의 구성을 명시적으로 고려할 수 있습니다.
FISCHER 제품의 현지 담당자가 인쇄 회로 기판의 Au/Pd 코팅 측정에 적합한 X-ray 형광 기기 선택을 도와 드릴 것입니다-비례 카운터 튜브가있는 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®, PIN 감지기가있는 XDAL® 또는 SDD 감지기가있는 XDV®- SDD.