비용 측면에서 패션 주얼리 및 액세서리의 금속 부품은 항상 단단한 재료로 만들어지지는 않습니다. 기본 형태는 쉽게 작업 할 수 있고 저렴한 합금으로 만들어지며 장식용 코팅으로 도금됩니다. 코팅과 기판 재료는 모두 Pb와 Cd가 없어야합니다. 따라서 성형 및 코팅 전에 황동 및 아연 합금과 같은 기본 재료를 분석하는 것이 가장 시간과 비용 효율적입니다.
화학 분석에 필요한 엄청난 노력과는 달리 X-선 형광(XRF) 시스템을 사용하여 오염 물질을 테스트하는 것은 간단하고 간단합니다. 모든 측정 방법에 없어서는 안될 높은 검출 강도와 낮은 검출 한계로 인해 FISCHER의 XRF 시스템은 이러한 스크리닝 목적에 이상적입니다.
반복 측정의 표준 편차는 기기에서 감지 할 수있는 최저 농도의 직접적인 표시입니다 (검출 한계 ~ 3 x 표준편차). 표 1의 인상적인 결과는 XRF 방법과 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD가 미량 분석에 매우 적합하므로 합법적 인 목표값이 충족되었는지 여부를 제어하는 데 매우 적합함을 보여줍니다.
전 세계적으로 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 기기는 패션 주얼리 및 액세서리 제조에 사용되는 재료의 스크리닝에 사용되고 있습니다. 이러한 기기는 취급이 간편하고 반복 정밀도가 우수하므로 새로운 규정 준수를 감독하는 데 가장 적합합니다. 지역 FISCHER 직원이 추가 질문에 기꺼이 도움을 드릴 것입니다.