iMOXS

ด้วยแหล่งเอ็กซ์เรย์แบบโมดูล iMOXS (แหล่งเอ็กซ์เรย์แบบโมดูล IfG) คุณสามารถเพิ่มความสามารถให้กับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกวาด (SEM) ของคุณได้อย่างง่ายดาย iMOXS ใช้ชุดตรวจจับเดิมของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ซึ่งสามารถใช้งานร่วมกับ SEM ทุกประเภทในปัจจุบันโดยใช้หน้าแปลนที่เหมาะสม โดยมีค่าใช้จ่ายเพียงเล็กน้อยเท่านั้น ระหว่างแหล่งอิเล็กตรอนของ SEM และแหล่งเอ็กซ์เรย์เพิ่มเติม คุณสามารถตรวจสอบตัวอย่างโดยใช้การวิเคราะห์ด้วยวิธีเอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนส์และการวิเคราะห์ระดับจุลภาคสำหรับลำอิเล็กตรอนได้โดยใช้อุปกรณ์ชุดเดียว เมื่อรวมข้อดีของทั้งสองวิธี คุณสามารถตรวจจับธาตุที่มีความเข้มข้นเพียงเล็กน้อยได้ด้วยความละเอียดสูงมาก

[Translate to Thai:] iMOXS by IfG

คุณลักษณะ:

  • ลักษณะแบบโมดูล: สามารถปรับเปลี่ยนหลอดเอ็กซ์เรย์และระบบออปติกเอ็กซ์เรย์ตามความต้องการเฉพาะงานได้อย่างง่ายดาย
  • การใช้งานที่ไม่ซับซ้อน: ตรวจดูและปรับตำแหน่งการตรวจวัดได้อย่างง่ายดายผ่านหน้าจอ SEM
  • ติดตั้งกับกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมที่มีอยู่ทุกรุ่นได้อย่างง่ายดายเมื่อติดตั้งหน้าแปลนที่เหมาะสม
  • เหมาะสำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างที่มีขนาดถึง 10 µm: ระบบออปติกแบบโพลีแคปปิลารี่คุณภาพสูง ทำหน้าที่โฟกัสเอ็กซ์เรย์ลงบนพื้นที่ตรวจวัดขนาดเล็ก
  • การตรวจสอบใต้พื้นผิว: แม้ในวัสดุที่อยู่ต่ำกว่าพื้นผิวอย่างมีนัยสำคัญก็สามารถตรวจวัดได้

การประยุกต์ใช้:

  • ทำ mapping SEM: แสดงภาพรวมองค์ประกอบธาตุของตัวอย่างได้อย่างรวดเร็ว ค้นหาธาตุที่ SEM ตรวจไม่พบ
  • การวิเคราะห์ข้อผิดพลาด การทดสอบความผิดปกติของวัสดุและความล้าของวัสดุ
  • การวิเคราะห์วัสดุใน SEM โดยตรง เช่น การระบุสัดส่วน Si และ Zn ในอลูมิเนียมอัลลอย
  • การวิเคราะห์ทางนิติเวช
  • พิสูจน์จุลธาตุในระดับ ppm
  • การตรวจจับธาตุหนัก (Z > 18)

ติดต่อ FISCHER

Contact

Helmut Fischer (Thailand) Co., Ltd.
1232 ถนนพระราม 9 แขวงสวนหลวง เขตสวนหลวง 10250 กรุงเทพมหานคร ประเทศไทย
Bangkok/ประเทศไทย
เบอร์โทรศัพท์: +66 2 379-9852 , +66 2 379-9853 , +66 92 284 6105
อีเมลล์: thailand@helmutfischer.com
แบบฟอร์มในการติดต่อออนไลน์