โดยทั่วไปแล้วหัวฝักบัวจะมีลักษณะเป็นสีเงินมันวาว อาจถือว่าเป็นโลหะแข็ง อย่างไรก็ตามวัสดุพิมพ์มักเป็นพลาสติก องค์ประกอบชั้นทั่วไป คือ โครเมี่ยม / นิกเกิล / ทองแดงบนพื้นผิวพลาสติก
การเคลือบโครเมี่ยมตกแต่งอยู่ในพื้นที่ 0.5 μm หรือน้อยกว่านั้นการเคลือบนิกเกิลมีค่า 5 - 10 μm ชั้นทองแดงสูงถึง 30 μm หรือหนากว่านั้น วิธีเอ็กซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ (XRF) เป็นวิธีการวัดแบบไม่ทำลายผิวที่จะใช้
รูปที่ 1 แสดงการตั้งค่าการวัดบน FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® การวัดค่าการเคลือบโครเมียม นิกเกิล และทองแดงบนส่วนประกอบพลาสติกถูกนำมาใช้ในการวัด
ต้องพิจารณาประเด็นต่อไปนี้ในการวัดผลนี้:
การจัดตำแหน่งของชิ้นงานให้เข้ากับอุปกรณ์ตรวจจับ (ท่อนับสัดส่วน)
ควรทำการวัดที่จุดสูงสุดเสมอ นอกจากนี้สิ่งสำคัญ คือ ต้องทราบว่าเครื่องตรวจจับอยู่ในแนวเดียวกับเครื่องมือวัดอย่างไร หากจัดวางหัวฝักบัวไว้ตามแนวยาวกับตัวตรวจจับการเคลื่อนย้ายตำแหน่งการวัดที่น้อยลงจะไม่ส่งผลดีอย่างมากต่อผลลัพธ์
หลีกเลี่ยงการเอียง
ตัวอย่างต้องไม่เอียง กล่าวคือ จุดที่จะวัดต้องอยู่ในแนวนอนอย่างแน่นอน ต้องให้ความสนใจเป็นพิเศษกับข้อกำหนดนี้เนื่องจากมักไม่มีพื้นผิวเรียบบนชิ้นงานทดสอบ
วิดีโอที่ถูกต้องโดยเน้นที่จุดวัด
หากโฟกัสไม่ถูกต้องที่จุดวัดซอฟต์แวร์วิเคราะห์จะถือว่าระยะการวัดไม่ถูกต้อง ซึ่งอาจนำไปสู่การวัดที่ผิดพลาด
ความหนาอิ่มตัวของ XRF
มีข้อจำกัด ทางกายภาพในการวัด XRF หากความหนาของผิวเคลือบมากเกินไปอาจทำให้เกิดความอิ่มตัวได้ ขีดจำกัด นี้สามารถประมาณได้บนอุปกรณ์ที่มีซอฟต์แวร์WinFTM®สำหรับแอปพลิเคชันการวัดที่มีอยู่
ในรูปที่ 3 ขีดจำกัด ช่วงการวัดถูกกำหนดสำหรับการเคลือบทองแดงโดยสมมติว่าการเคลือบผิวด้วยโครเมี่ยมและนิกเกิลมีความหนา 0.2 μmและ 7.5 μm ตามลำดับ ช่วงการวัดสำหรับการเคลือบโครเมี่ยมด้านล่างนี้อยู่ที่ประมาณ 1 ถึง 25 μm
นอกจากนี้ยังมีตัวเลือกอื่นในการกำหนดความหนาชั้นของเคลือบ Cr / Ni / Cu แบบคูลโลเมตริก ด้วยวิธีนี้สารเคลือบจะถูกลบออกอย่างต่อเนื่อง ที่พื้นที่การวัดและความหนาของเคลือบที่กำหนดใน COULOSCOPE® CMS ตามเวลาที่ใช้ในการกำจัด
ตารางที่ 1 แสดงความหนาของผิวเคลือบที่วัดได้: ในวิธี XRF มีการวัดตำแหน่งสี่ตำแหน่งรอบๆ พื้นที่การวัดคูโลเมตริกแต่ละแห่ง ผลลัพธ์คูโลเมตริกแต่ละรายการประกอบด้วยการวัดสำหรับองค์ประกอบการเคลือบแต่ละชิ้น ค่าที่วัดได้สำหรับทั้งสองวิธีนั้นใกล้เคียงกันมาก แต่ผู้สังเกตที่ได้รับการฝึกฝนจะสังเกตว่าวิธีการนั้นไม่ได้ให้ผลลัพธ์เหมือนกันทุกประการ
สาเหตุของความแตกต่างอาจพบได้ในการวางตำแหน่งของชิ้นงานทดสอบในการวัด XRF ความไม่เป็นเนื้อเดียวกันในการเคลือบอาจมีบทบาท ในกรณีของทองแดงก็เป็นความจริงเช่นกันที่ชิ้นงานมีค่าใกล้เคียงกับความหนาอิ่มตัวของ XRF และความไม่แม่นยำในการวัดจะเพิ่มขึ้นอย่างมากตามผลที่ตามมา
