FISCHERSCOPE X-RAY PCB series

ซีรี่ส์ XRF ระดับมืออาชีพสำหรับการทดสอบแผงวงจรพิมพ์

แผงวงจร PCB ในปัจจุบันมีจุดเชื่อมสัมผัส การเคลือบผิวจำนวนมาก เพื่อรับประกันความน่าเชื่อถือของจุดบัดกรี ความต้านทานการกัดกร่อนและอายุการเก็บรักษาความหนาของวัสดุต่างๆ จะต้องมีความแม่นยำและถูกต้อง สำหรับการตรวจสอบตามข้อกำหนด มาตรฐานต่างๆ เครื่องเอ็กซ์เรย์ ฟลูออเรสเซ็นต์เป็นวิธีที่เลือกใช้ที่ถูกต้อง

เฮลมุท ฟิสเชอร์นำเสนอรุ่น PCB Series เป็นโซลูชันการวัดโดยเฉพาะ สำหรับอุตสาหกรรมแผงวงจรพิมพ์ ผู้เชี่ยวชาญด้าน PCB ให้ผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้และรวดเร็วสำหรับงานการวัดที่เรียบง่าย มีความละเอียดและการวัดความหนาของชั้นเคลือบจนถึงระดับช่วงนาโนเมตร

มีรุ่นต่างๆให้เลือกตามความต้องการของคุณ โทรหาเรา! เราพร้อมบริการ

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

สำหรับการวัดความหนาแบบง่ายและการตรวจสอบเฉพาะจุด FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB เป็นเครื่องวัด XRF มีเครื่องตรวจจับ Detactor แบบ PC Tube ซึ่งทำให้ใช้เวลาในการวัดสั้น ๆ แนะนำให้ใช้เครื่องวัดเอ็กซ์เรย์นี้สำหรับการวัดความหนาของชั้นที่มีความหนามากกว่า 0.1 มม.

หลอดXray แบบ ทังสเตนไมโครโฟกัสสำหรับการใช้งานมาตรฐาน
จุดวัดที่เล็กที่สุด Ø ประมาณ 0.15 มม.
เครื่องตรวจจับ PC Tube Detactor สำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบตั้งแต่โพแทสเซียม (19) ถึงยูเรเนียม (92)
จดสิทธิบัตรโดย Fischer: วิธี DCM สำหรับการปรับระยะความสูงที่ต่างกันของชิ้นงาน การวัดที่ง่ายและรวดเร็ว
ระยะสุ่มตัวอย่างแบบกว้างสำหรับแผงวงจรพิมพ์ที่มีขนาดสูงสุด 610 x 610 มม. (24” x 24”)
ความสูงของตัวอย่างสูงสุด 90 มม.
เครื่องมือได้รับการรับรอง มาตรฐานความปลอดภัย ตามกฎหมายป้องกันรังสีของประเทศเยอรมนี

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB ตัวตรวจจับพลังงานแบบPC tube Detecor อย่างไรก็ตาม เครื่องมือ XRF นี้มีคอลลิเมเตอร์(area) และฟิลเตอร์ที่หลากหลาย คุณจึงสามารถสร้างเงื่อนไข หรือ parameter การวัดที่เหมาะสมที่สุดสำหรับงานของคุณ ในการกำหนดค่าพื้นฐาน มีถาดวางตัวอย่างแบบดึงออก ซึ่งทำให้การวางตำแหน่งของ PCB ง่ายขึ้น ระยะ XY ที่ตั้งโปรแกรมได้ก็พร้อมใช้สำหรับการวัดอัตโนมัติด้วย

Xray Tube เป็นแบบหลอดทังสเตนไมโครโฟกัสสำหรับการใช้งานมาตรฐาน
ปรับแสงที่เปลี่ยนแปลงได้ 4 เท่าสำหรับเงื่อนไข ของการวัดที่เหมาะสมที่สุด
ตัวกรองแบบเปลี่ยนได้ 3 เท่า สำหรับงานที่ซับซ้อนมากขึ้น ใช้งานได้ดีขึ้น
จุดวัดที่เล็กที่สุด Ø ประมาณ 0.15 มม.
เครื่องตรวจจับ PC Tube Detector สำหรับวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุ ตั้งแต่โพแทสเซียม (19) ถึงยูเรเนียม (92)
ระยะการวัดแบบดึงออกด้วยมือหรือตั้งโปรแกรมได้สำหรับแผงวงจรพิมพ์สูงสุด 610 x 610 มม. (24” x 24”)
ความสูงของตัวอย่างสูงสุด: 5 มม.
จดสิทธิบัตรโดย Fischer: วิธี DCM สำหรับการปรับระยะการวัดที่ง่ายและรวดเร็ว
เครื่องมือได้รับการรับรอง มาตรฐานความปลอดภัย ตามกฎหมายป้องกันรังสีของประเทศเยอรมนี

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB

ตรงกันข้ามกับ XULM-PCB และ XDLM-PCB FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB ตรวจจับพลังงาน ด้วย Detector แบบ ซิลิคอนที่มีความไวสูง (SDD) ตัวกรองที่แตกต่างกัน ซึ่งจะสร้างสภาวะการวัดที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการทดสอบตามวิธี ENIG และ ENEPIG ในการกำหนดค่าพื้นฐาน เครื่องมือนี้มีถาดวาตัวอย่างแบบเด้งออก ซึ่งช่วยลดความยุ่งยากในการวางตำแหน่ง PCB สามารถติดตั้งส่วนขยายถาดวางตัวอย่าง สำหรับ PCB ขนาดใหญ่ได้

หลอด Xray Tube ไมโครโฟกัสทังสเตนหรือโครเมียม
มี Colimator size 4 ขนาดสำหรับสภาวะการวัดที่เหมาะสมที่สุด
มี filter ตัวกรองสัญญาณ เปลี่ยนได้ 3 แบบ สำหรับสภาวะการกระตุ้นที่เหมาะสมสำหรับงานที่ซับซ้อนมากขึ้น
จุดวัดที่เล็กที่สุด Ø ประมาณ 0.15 มม.
เครื่องตรวจจับการเคลื่อนตัวของซิลิคอน (SDD) สำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบตั้งแต่อะลูมิเนียม (13) ไปจนถึงยูเรเนียม (92)
จดสิทธิบัตรโดย Fischer: วิธี DCM สำหรับการปรับระยะการวัดที่ง่ายและรวดเร็ว ระยะการวัด
ขั้นแยกออกเองได้สำหรับแผงวงจรพิมพ์สูงสุด 610 x 610 มม. (24” x 24”)
ความสูงของตัวอย่างสูงสุด 10 มม.
เครื่องมือได้รับการรับรอง มาตรฐานความปลอดภัย ตามกฎหมายป้องกันรังสีของประเทศเยอรมนี

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

ในการใช้งานที่มีความน่าเชื่อถือสูงแผงวงจรพิมพ์ เป็นส่วนประกอบที่มีความสำคัญต่อคุณภาพ ในกรณีเช่นนี้จะใช้การเคลือบระดับไฮเอนด์ตามกระบวนการ ENIG และ ENEPIG เนื่องจากความหนาของชั้นที่บางที่สุด ในกระบวนการเหล่านี้อยู่ระหว่าง 40 ถึง 100 นาโนเมตรความแม่นยำ Detector แบบ PC Tube จึงไม่เพียงพอต่อการตรวจสอบกระบวนการวัด อีกต่อไป นี่คือจุดที่FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB เป็นตัวเลือกที่เหมาะสม การรวมกันของเครื่องตรวจจับซิลิกอนดริฟต์ที่มีความไวสูง (SDD) และเลนส์โพลีคาพิลลารีช่วยให้สามารถวัดได้อย่างแม่นยำบนโครงสร้างที่มีขนาดน้อยกว่า 50 µm

โดยเฉพาะอย่างยิ่งเมื่อต้องจัดการกับโครงสร้างขนาดเล็กมาก การเลือกตำแหน่งการวัดแต่ละตำแหน่งทีละรายการอาจใช้เวลานานหากต้องตรวจสอบตัวอย่างสุ่มจำนวนมาก แต่ด้วยซอฟต์แวร์จดจำภาพที่ใช้งานโดย Fischer คุณสามารถประหยัดความพยายามนี้ได้ เพียงแค่จัดเก็บส่วนหนึ่งของภาพ เครื่อง XDV-µ PCB จะค้นหาโครงสร้างที่เกี่ยวข้องและทำการวัดโดยอัตโนมัติ

Microfocus แบบ Ultra นี้ ช่วยให้สามารถวิเคราะห์ธาตุบนจุดขนาดเล็กมากๆ ได้ด้วยเทคนิค µ-XRFแอนอดโมลิบเดียมเป็นทางเลือก
มี Collimator size ได้ 4 แบบสำหรับสภาวะการวัดที่เหมาะสมที่สุด
ตัวกรอง filter แบบเปลี่ยนได้ 4 เท่าสำหรับสภาวะการกระตุ้นที่เหมาะสมสำหรับงานที่ซับซ้อนมากขึ้น
เลนส์โพลีคาพิลลารีสำหรับจุดตรวจวัดขนาดเล็กมาก Ø ประมาณ 20 หรือ 10 µm
เครื่องตรวจจับการเคลื่อนตัวของซิลิคอน (SDD) สำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบตั้งแต่อะลูมิเนียม (13) ไปจนถึงยูเรเนียม (92)
ระยะการวัดที่ตั้งโปรแกรมได้ มีตัวยึดสูญญากาศสำหรับ FLEX PCBs< /li>
ความสูงของตัวอย่างสูงสุด < 4-5 มม.
เครื่องมือได้รับการรับรอง มาตรฐานความปลอดภัย ตามกฎหมายป้องกันรังสีของประเทศเยอรมนี
โปรเซสเซอร์พัลส์ดิจิตอล DPP+ เวลาการวัดสั้นลงโดยมีค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานเท่าเดิม*
_{*เปรียบเทียบกับ DPP}

ดาวน์โหลดเดี๋ยวนี้