Grace Chua ผู้เชี่ยวชาญด้านการตลาดของ Helmut Fischer แสดงให้เห็นว่าการใช้ FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ ใช้งานง่ายเพียงใดผ่านชุดบทเรียนของเครื่อง XDV®-µ เป็นเครื่องวัดด้วยเทคนิคเอ็กซ์เรย์ที่มีเลนส์เอ็กซ์เรย์โพลีคาพิลลารีสำหรับการวัดในส่วนประกอบและโครงสร้างที่มีขนาดเล็กมาก อุปกรณ์ทั้งหมดมีการติดตั้งเลนส์โพลีคาพิลลารีที่โฟกัสลำแสงเอ็กซ์เรย์ทำให้สามารถวัดสปอต (fwhm) ที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางระหว่าง 10 ถึง 60 ไมครอนได้ ความเข้มสูงของรังสีที่โฟกัสส่งผลให้มีระยะเวลาการวัดสั้นๆ นอกจาก XDV-μ ที่ใช้งานได้ทั่วไปแล้วยังมีอุปกรณ์พิเศษสำหรับอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์อีกด้วย ตัวอย่างเช่น XDV-μ LD เหมาะสำหรับการวัดบนแผงวงจรพิมพ์ในขณะที่ XDV-μ WAFER มีไว้สำหรับใช้ในห้องปลอดเชื้อ
แสดงความคิดเห็นของคุณ