XRF - การวิเคราะห์ด้วยเครื่อง X-Ray Fluorescence แบบกระจายพลังงาน

องค์ประกอบสุดท้ายที่สำคัญสำหรับวิธีการวิเคราะห์ XRF คือเครื่องตรวจจับ ซึ่งจะตรวจจับรังสีเรืองแสงและวัดค่าด้วยความแม่นยำสูงสุด ข้อมูลจากตัวตรวจจับจะถูกส่งไปยังซอฟต์แวร์การวิเคราะห์และประมวลผลตามนั้น ประเภทของเครื่องตรวจจับเป็นตัวกำหนดงานการวัดที่คุณสามารถแก้ไขได้ด้วยเครื่องสเปกโตรมิเตอร์ XRF
เรามีกลุ่มผลิตภัณฑ์เครื่องตรวจจับที่ครอบคลุมมากที่สุดในตลาด ซึ่งหมายความว่าเฉพาะที่ Fischer เท่านั้นที่คุณจะพบเครื่องตรวจจับที่เหมาะกับงานการวัดของคุณและแก้ไขได้อย่างเหมาะสมที่สุด เครื่องตรวจจับมี 3 ประเภทที่มีข้อดีเฉพาะ

ท่อตัวนับตามสัดส่วน (PC) ที่ผ่านการทดลองมาอย่างดีนั้นขาดไม่ได้ในกลุ่มผู้เชี่ยวชาญด้านเทคโนโลยีการวัด มีพื้นที่ตรวจจับขนาดใหญ่ที่มีหน้าต่างโค้งเล็กน้อย คุณลักษณะนี้ช่วยให้บรรลุอัตราการนับสูงเมื่อมีรังสีเรืองแสงจำนวนมากมาถึงเครื่องตรวจจับ ทำให้สามารถวัดค่าที่ระยะห่างจากตัวอย่างได้ 20 – 80 มม. ท่อ PC ถูกกำหนดไว้ล่วงหน้าสำหรับการวัดความหนาของการเคลือบในช่วง 1 – 30 µm และจุดการวัดขนาดเล็ก ข้อดีอีกประการหนึ่งคือท่อ PC มีความไวน้อยกว่าอย่างมากเกี่ยวกับความถูกต้องของการจัดตำแหน่งตัวอย่างกับเครื่องตรวจจับและการตั้งค่าระยะการวัด ท่อ PC มีการชดเชยดริฟท์ที่พัฒนาโดย Fischer เป็นมาตรฐาน ซึ่งให้ความเสถียรที่ยอดเยี่ยม

สำหรับการวัดความหนาของสารเคลือบที่มีความต้องการมากขึ้น ต้องใช้ความละเอียดด้านพลังงานที่สูงขึ้น ในกรณีนี้ การใช้เครื่องวิเคราะห์ XRF กับ silicon PIN diode เป็นทางเลือกที่ดี เครื่องตรวจจับเซมิคอนดักเตอร์นี้ยังสามารถใช้สำหรับการวิเคราะห์วัสดุอย่างง่ายได้อีกด้วย ดังนั้น silicon PIN detector จึงเป็นตัวเชื่อมตรงกลางที่สมบูรณ์แบบในกลุ่มผลิตภัณฑ์ตัวตรวจจับของเรา

สเปกโตรมิเตอร์ XRF คุณภาพสูงใช้เครื่องตรวจจับการดริฟท์ซิลิคอน (SDD) เครื่องตรวจจับนี้มีประสิทธิภาพมากที่สุด มีความละเอียดด้านพลังงานที่ดีและมีความไวในการตรวจจับสูงเป็นพิเศษ ดังนั้น เมื่อตรวจสอบองค์ประกอบของวัสดุ SDD จะให้ประสิทธิภาพที่ดีที่สุดของเครื่องตรวจจับทั้งหมด รังสีเรืองแสงของธาตุในตัวอย่างที่มีความเข้มข้นต่ำมากเท่านั้นจะตรวจพบได้ง่าย นอกจากนี้ เครื่องมือที่ติดตั้ง SDD ยังระบุความหนาของสารเคลือบในระดับนาโนเมตรได้อย่างแม่นยำ และช่วยให้ประเมินงานหลายชั้นที่ซับซ้อนได้อย่างน่าเชื่อถือ