FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
คุณสมบัติ
- X-Ray Fluorescence สเปกโตรมิเตอร์สำหรับการวัดอัตโนมัติบนชั้น & lt; 0.0 5μm และสำหรับการวิเคราะห์วัสดุในช่วง ppm ตามมาตรฐาน DIN ISO 3497 และ ASTM B 568
- 3 ตัวเลือกเครื่องตรวจจับที่แตกต่างกัน ( ไดโอด Si-PIN SDD 20 mm. ² SDD 50 mm. ²)
- ฟิลเตอร์หลักที่เปลี่ยนแปลงได้ 3x
- เครื่องตรวจจับโคลิเมเตอร์แบบเปลี่ยนได้ 4 เท่า
- จุดวัดที่เล็กที่สุดโดยประมาณ 0.15 มม.
- ความสูงของตัวอย่างสูงสุด 14 ซม.
- สเตจ XY ที่ตั้งโปรแกรมได้พร้อมความแม่นยำในการกำหนดตำแหน่ง 10 µm
- ตัวเรือนแบบ Slotted สำหรับการวัดบนแผงวงจรพิมพ์ขนาดใหญ่ </ li >
- ได้รับการรับรองอุปกรณ์ป้องกันอย่างเต็มที่
การประยุกต์ใช้งาน
- การวิเคราะห์วัสดุของสารเคลือบและโลหะผสม (เช่น การเคลือบบางและความเข้มข้นต่ำ)
- อุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ ENIG, ENEPIG
- ตัวเชื่อมต่อและหน้าสัมผัส
- อุตสาหกรรมทอง เครื่องประดับ และนาฬิกา
- การวัดผิวเคลือบทอง และแพลเลเดียมแบบบาง (ไม่กี่นาโนเมตร) ในการผลิต PCB
- การวิเคราะห์ธาตุ
- การหาตะกั่ว ( Pb) สำหรับการใช้งานที่มีความน่าเชื่อถือสูง (การหลีกเลี่ยงหนวด - ดีบุก)
- การวิเคราะห์การเคลือบวัสดุแข็ง
การวิเคราะห์ XRF สำหรับความต้องการที่ซับซ้อน
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®เป็นเครื่องมือวัด X-Ray Fluorescence ที่ดีที่สุดของ XDL series เช่นเดียวกับ "พี่น้องตัวน้อย" เครื่องมือ XRF นี้จะวัดจากบนลงล่าง ซึ่งทำให้การทดสอบแม้กระทั่งตัวอย่างที่มีรูปร่างแปลกๆ ทำได้ง่ายและสะดวก เพื่อปรับเงื่อนไขการวัดให้เหมาะสมกับงานของคุณ FISCHERSCOPE X-RAY XDAL มาพร้อมกับเครื่องตรวจจับโคลิเมเตอร์และฟิลเตอร์ที่แลกเปลี่ยนได้เป็นอุปกรณ์มาตรฐาน
ยิ่งมีความต้องการงานวัดมากเท่าใดประเภทของอุปกรณ์ตรวจจับก็ยิ่งสำคัญมากขึ้นเท่านั้น! FISCHERSCOPE X-RAY XDAL จึงมีเครื่องตรวจจับเซมิคอนดักเตอร์ 3 แบบที่แตกต่างกัน
ซิลิคอน PIN diode เป็นเครื่องตรวจจับระดับกลางและเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดองค์ประกอบหลายชิ้นในพื้นที่การวัดที่ค่อนข้างใหญ่ เมื่อติดตั้ง PIN แล้ว XDAL มักใช้ในการตรวจสอบการเคลือบวัสดุแข็ง
เครื่องตรวจจับซิลิกอนดริฟต์คุณภาพสูง (SDD) ให้ความละเอียดของพลังงานที่ดีกว่าไดโอดซิลิคอน PIN เครื่องสเปกโตรมิเตอร์ XDAL ที่ติดตั้งออกมาจึงถูกนำมาใช้สำหรับการแก้ปัญหาการวัดที่ซับซ้อนในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ ตัวอย่างเช่น การวัด XRF ของชั้นโลหะผสมบางๆ หรือการวิเคราะห์วัสดุขององค์ประกอบที่คล้ายกันมาก เช่น ทองคำและทองคำขาว นี่คือเครื่องมือ XRF ที่เชื่อถือได้สำหรับการควบคุมคุณภาพด้วยแอปพลิเคชัน ENIG และ ENEPIG
สำหรับความท้าทายที่ยากเป็นพิเศษ Fischer ยังมี SDD ที่มีพื้นผิวตัวตรวจจับขนาดใหญ่พิเศษ จุดแข็งของเครื่องตรวจจับนี้อยู่ที่ความสามารถในการวัดความหนาชั้นได้อย่างน่าเชื่อถือ จนถึง ช่วงเพียงไม่กี่นาโนเมตร และทำการวิเคราะห์ร่องรอยในช่วงต่อมิลล์ ด้วยเครื่อง XDAL เหล่านี้คุณสามารถทดสอบปริมาณตะกั่วในโลหะบัดกรีสำหรับการใช้งานที่มีความน่าเชื่อถือสูง เพื่อหลีกเลี่ยงหนวดดีบุก
