FISCHERSCOPE X-RAY 5000

คุณสมบัติ

การวัดอย่างต่อเนื่องในกระบวนการทำงานที่เชื่อมต่อกับระบบควบคุมการผลิต
การใช้งานที่ยืดหยุ่น: สำหรับการวัดในสุญญากาศ หรือ ในอากาศ สำหรับอุณหภูมิตัวอย่างสูงถึง 400 ° C
สามารถเลือกใช้ได้กับระบบระบายความร้อนด้วยน้ำ
การออกแบบและโครงสร้างที่แข็งแกร่งเป็นพิเศษเพื่อการวัดที่แม่นยำอย่างยั่งยืนภายใต้สภาวะที่เลวร้าย
เหมาะอย่างยิ่ง เพื่อการวัดความหนาเคลือบและการวิเคราะห์วัสดุบนผลิตภัณฑ์ที่มีพื้นผิวขนาดใหญ่
ลูกค้าสามารถเลือกแหล่งกำเนิดรังสีเอกซ์เครื่องตรวจจับและตัวกรองหลักได้
ระบบที่สอดคล้องกับ DIN ISO 3497 และ ASTM B 568

การประยุกต์ใช้งาน

ความหนาของชั้น CIGS, CIS, CdTe และ CdS ในอุตสาหกรรมพลังงานแสงอาทิตย์
ชั้นบาง ๆ หนาเพียงไม่กี่ µm บนแถบโลหะฟอยล์โลหะและฟอยล์พลาสติก
องค์ประกอบของชั้น CIGS, CIS, CdTe และ CdS ในเซลล์แสงอาทิตย์
การควบคุมความหนาของผิวเคลือบในการผลิตแบบต่อเนื่อง
การตรวจสอบกระบวนการในโรงสปัตเตอร์และการชุบด้วยไฟฟ้า

ระบบ XRF อัตโนมัติสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 จะวัดความหนาของชั้นบาง ๆ บนพื้นผิวขนาดใหญ่อย่างต่อเนื่อง เช่น ในเซลล์แสงอาทิตย์ อุปกรณ์ในซีรีส์นี้ มีรูปแบบหน่วยโมดูลาร์ที่ง่ายต่อการติดตั้งในสายการผลิต X-RAY 5000 สามารถทำงานได้ทั้งในบรรยากาศปกติหรือภายใต้สุญญากาศ นอกจากนี้ เครื่อง XRF ยังออกแบบมาให้ดูแลรักษาง่าย: สามารถซ่อมบำรุงหัววัดได้โดยไม่ต้องปล่อยสูญญากาศ

หากผลิตภัณฑ์เคลื่อนที่ หรือ นูนออกมาระหว่างการผลิตอาจทำให้ผลการวัดบิดเบี้ยวได้ ด้วยเหตุนี้ซอฟต์แวร์ WinFTM ของ Fischer จึงมีฟังก์ชั่นในตัวสำหรับการชดเชยระยะทางซึ่งสามารถชดเชยความผันผวนได้ถึง 1 ซม. โดยไม่ต้องใช้เซนเซอร์ตรวจจับระยะเพิ่มเติม