Optik

• Onlarca yıllık deneyim sayesinde sürekli optimizasyon
• Berlin'de geliştirme ve üretim
• Geleneksel bir iğne deliği kolimatörüyle karşılaştırıldığında: XRF yoğunluğunun 10.000 kata kadar yükseltilmesi
• Uyarma ışınını çok yüksek yoğunlukta küçük bir noktada konsantre ederek ölçüm süresinin kısaltılması
• En küçük bileşenler ve mikro yapılar üzerinde ölçümler için < 10* µm'ye kadar küçük nokta boyutları
• 1 keV - 50keV arası spektral bant genişliği
• Farklı tipler mevcuttur: Silindirik, eliptik veya parabolik şekilli monokapilerler ve çeşitli polikapilerler dahil. halo içermeyen sürümler
• Şirket içinde geliştirilen WinFTM yazılımı, haritalama işlevlerini, dizi modu gibi özel değerlendirmeleri ve otomatik ölçümleri destekler

* Mo-K'de nokta boyutu

İnce ve çok ince kaplamaların ölçümü ve karmaşık çok katmanlı sistemlerin analizi:

• Silikon levhalar ve PCB'ler üzerindeki kaplamalar
• Lehim tümseklerinde Ag içeriğinin ölçülmesi
• SMD bileşenleri
• Kontaklar
• Leadframes
• Mikro ölçekli öğe ve katman kalınlığı eşlemeleri

X-ışını ışını şekillendirme için yüksek hassasiyetli kılcal optiklerin geliştirilmesi ve üretimi, temel teknolojik yeterliliklerimizden biridir. Bu bileşenler sayesinde Helmut Fischer'in XRF cihazları en küçük bileşenleri ve mikro yapıları ölçebilir. Dünya çapında sadece 2 üreticiden biri olarak yenilik ve en yüksek ölçüm hassasiyetini sağlıyoruz.

Son derece parlak mikro odak kaynaklarının ve verimli enerji dağıtan dedektörlerin kullanımına ek olarak, polikapiler optik uygulaması da bir XRF spektrometresinin optimum ölçüm performansı için belirleyicidir. Bir polikapiller lens, uyarı ışınını çok yüksek yoğunlukta küçük bir nokta üzerinde yoğunlaştırır, bu da ölçüm süresinin önemli ölçüde azalmasına yol açar. Nanoteknoloji ve mikroelektronik alanındaki modern gelişmeler, her zamankinden daha iyi uzaysal çözünürlük talebini artırıyor. Uzun bir süre boyunca, X-ışını huzmesinin yüksek enerji aralığındaki uzaysal çözünürlük, halo etkisi olarak adlandırılan bir etkiyle bulutlandı. Bu etki, numune yüzeyindeki ölçüm noktasının yanal çözünürlüğünde önemli bir bozulmaya yol açtı ve dolayısıyla kantitatif malzeme analizinde hatalı kompozisyon belirlemelerine neden oldu. Uzun yıllara dayanan tecrübemiz ve etkili geliştirme çalışmalarımız sayesinde sadece halo etkisini azaltmakla kalmadık, aynı zamanda halo içermeyen polikapiler lensler de üretebildik.

Helmut Fischer'de çok çeşitli uygulamalar için optimize edilmiş polikapilerlerin geliştirilmesinde yaklaşık 30 yıllık bilgi birikiminden yararlanırsınız. Optik, cam kılcal damarların iç pürüzsüz yüzeyi üzerindeki toplam dış yansımanın etkisine dayanmaktadır. Toplam yansımanın kritik açısı, X-ışını demetinin enerjisine, yansıtıcı malzemenin yoğunluğuna ve yansıtıcı yüzeyin pürüzlülüğüne bağlıdır. Camın pürüzlülüğü çok düşük olduğundan, X-ışını kılcal optik üretimi için verimli bir malzemedir. Kılcal optik, kılcalın iç yüzeyindeki yansıma sayısı açısından farklılık gösterir. Fischer portföyünde özel tasarımlarımız var: Silindirik, eliptik veya parabolik şekilli monokapilerler ve ayrıca çeşitli polikapilerler. Kapiler optiğin kullanıldığı çeşitli X-ışını analitik yöntemlerine genel bir bakış tabloda verilmiştir:

Eliptik veya parabolik şekilli monokapilerler, benzersiz toplam yansımaya sahip görüntüleme optik elemanlarıdır. Eliptik şekilli bir kılcalın odak noktasının boyutu, hem kaynağın boyutu ve şekli hem de kılcalın üretim doğruluğu ile belirlenir. Parabolik şekilli kılcal damarlar, paralel bir ışını bir odak noktasına odaklar veya bir nokta kaynağın ıraksak huzmesini paralel hale getirir. Bir senkrotron ışını, onlar tarafından 250 nm'ye kadar çok küçük bir noktaya odaklanır.